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    內(nèi)存存儲器的一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)制造方法及圖紙

    技術編號:44497215 閱讀:4 留言:0更新日期:2025-03-04 18:04
    本申請實施例提供了一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì),屬于存儲器技術領域;方法包括在目標內(nèi)存存儲器初始化后,從目標內(nèi)存存儲器的多個數(shù)據(jù)端口中確定出目標測試端口并建立與目標測試端口一一對應的測試通道;數(shù)據(jù)端口及與數(shù)據(jù)端口一一對應的ODT;分別通過各測試通道與目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,及確定與測試通道對應的DQ測試數(shù)據(jù);從目標內(nèi)存存儲器中讀取基于DQS采樣得到的與DQ測試數(shù)據(jù)一一對應的采樣數(shù)據(jù);將采樣數(shù)據(jù)和對應的DQ測試數(shù)據(jù)進行同或運算,得到每個測試通道對應的目標眼圖;根據(jù)目標眼圖,輸出基于一致性條件對各ODT判斷的結果。本申請實施例能快速確定出終端阻抗匹配不一致的ODT。

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】

    本申請涉及存儲器,尤其涉及一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)


    技術介紹

    1、odt(on-dietermination,終端電阻),可以讓干擾信號被電路的終端吸收掉,而不會在電路上形成反射,造成對數(shù)據(jù)信號的傳輸影響。當odt設置到內(nèi)存存儲器(其中,內(nèi)存存儲器為基于ddr技術的存儲器)可以確保干擾信號被電路終端完全吸收掉而降低在電路上形成反射現(xiàn)象的概率,進而提升內(nèi)存存儲器的信號傳輸質(zhì)量。但是實際應用中,由于內(nèi)存存儲器制作工藝的差異,導致內(nèi)存存儲器的odt提供的終端阻抗匹配的一致性無法滿足,阻抗匹配失效。因此,如何快速確定出終端阻抗匹配不一致的odt是一個亟待解決的技術問題。


    技術實現(xiàn)思路

    1、本申請實施例的主要目的在于提出一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì),可以快速確定出終端阻抗匹配不一致的odt。

    2、為實現(xiàn)上述目的,本申請實施例的第一方面提出了一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,所述方法包括:

    3、對目標內(nèi)存存儲器進行初始化,所述目標內(nèi)存存儲器設置有多個數(shù)據(jù)端口以及與所述數(shù)據(jù)端口一一對應的終端電阻odt;

    4、從所述多個數(shù)據(jù)端口中確定出目標測試端口并建立與所述目標測試端口一一對應的測試通道;

    5、分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,以及確定與所述測試通道對應的數(shù)據(jù)總線信號dq測試數(shù)據(jù);

    6、從所述目標內(nèi)存存儲器中讀取采樣數(shù)據(jù);所述采樣數(shù)據(jù)為所述目標內(nèi)存存儲器基于數(shù)據(jù)選通信號dqs對數(shù)據(jù)交互過程進行采樣得到的數(shù)據(jù);所述采樣數(shù)據(jù)和所述dq測試數(shù)據(jù)一一對應;

    7、將所述采樣數(shù)據(jù)和對應的所述dq測試數(shù)據(jù)進行同或運算,得到每個所述測試通道對應的目標眼圖;

    8、根據(jù)所述目標眼圖,判斷對應的所述odt是否滿足預設的一致性條件,以及根據(jù)各所述odt的判斷結果輸出一致性測試結果。

    9、為實現(xiàn)上述目的,本申請實施例的第二方面提出了內(nèi)存存儲器的一致性測試裝置,包括:

    10、初始化模塊,用于對目標內(nèi)存存儲器進行初始化,所述目標內(nèi)存存儲器設置有多個數(shù)據(jù)端口以及與所述數(shù)據(jù)端口一一對應的終端電阻odt;

    11、通信連接模塊,用于從所述多個數(shù)據(jù)端口中確定出目標測試端口并建立與所述目標測試端口一一對應的測試通道;

    12、交互模塊,用于分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,以及確定與所述測試通道對應的數(shù)據(jù)總線信號dq測試數(shù)據(jù);

    13、采樣數(shù)據(jù)獲取模塊,用于從所述目標內(nèi)存存儲器中讀取采樣數(shù)據(jù);所述采樣數(shù)據(jù)為所述目標內(nèi)存存儲器基于數(shù)據(jù)選通信號dqs對數(shù)據(jù)交互過程進行采樣得到的數(shù)據(jù);所述采樣數(shù)據(jù)和所述dq測試數(shù)據(jù)一一對應;

    14、眼圖生成模塊,用于將所述采樣數(shù)據(jù)和對應的所述dq測試數(shù)據(jù)進行同或運算,得到每個所述測試通道對應的目標眼圖;

    15、結果驗證模塊,用于根據(jù)所述目標眼圖,判斷對應的所述odt是否滿足預設的一致性條件,以及根據(jù)各所述odt的判斷結果輸出一致性測試結果。

    16、為實現(xiàn)上述目的,本申請實施例的第三方面提出了一種電子設備,所述電子設備包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機程序,所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)上述第一方面任一項所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法。

    17、為實現(xiàn)上述目的,本申請實施例的第四方面提出了一種計算機可讀存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)第一方面任一項所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法。

    18、本申請?zhí)岢龅膬?nèi)存存儲器的一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì),其通過基于目標數(shù)據(jù)端口的dq測試數(shù)據(jù)以及采樣數(shù)據(jù)構建目標眼圖的方式,可以無需借助第三方測試工具,直接對目標內(nèi)存存儲器的多個目標數(shù)據(jù)端口均進行多次連續(xù)測試,并同步生成與之相關的目標眼圖,測試效率更高。且目標眼圖可以更為直觀的看出dq數(shù)據(jù)在傳輸過程中是否由于odt阻抗不匹配導致數(shù)據(jù)發(fā)生改變,同時通過預配置的一致性條件,可以將各目標眼圖和一致性條件進行自動匹配,從而輸出各個odt的一致性測試結果,進一步減少人為參與測試的概率,因此,和相關技術相比,本申請實施例可以更為快速的確定出終端阻抗匹配不一致的odt。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術保護點】

    1.一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,以及確定與所述測試通道對應的數(shù)據(jù)總線信號DQ測試數(shù)據(jù),包括:

    3.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述測試通道有多個,所述分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,包括:

    4.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,同一所述測試通道對應的目標眼圖有多個;同一所述測試通道中多個所述目標眼圖對應的DQ測試數(shù)據(jù)相同;所述根據(jù)所述目標眼圖,判斷對應的所述ODT是否滿足預設的一致性條件,包括:

    5.根據(jù)權利要求4所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述將同一所述測試通道中相同DQ測試數(shù)據(jù)對應的各所述目標眼圖進行眼圖均值化處理,得到均值眼圖,包括:

    6.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,同一所述測試通道對應的目標眼圖有多個;所述根據(jù)所述目標眼圖,判斷對應的所述ODT是否滿足預設的一致性條件,包括:

    7.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述目標內(nèi)存存儲器設置有多個,根據(jù)各所述ODT的判斷結果輸出一致性測試結果,包括:

    8.一種內(nèi)存存儲器的一致性測試裝置,其特征在于,包括:

    9.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機程序,所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)權利要求1至7任一項所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法。

    10.一種計算機可讀存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權利要求1至7中任一項所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法。

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    【技術特征摘要】

    1.一種內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,以及確定與所述測試通道對應的數(shù)據(jù)總線信號dq測試數(shù)據(jù),包括:

    3.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述測試通道有多個,所述分別通過各所述測試通道與所述目標內(nèi)存存儲器進行數(shù)據(jù)交互,包括:

    4.根據(jù)權利要求1所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,同一所述測試通道對應的目標眼圖有多個;同一所述測試通道中多個所述目標眼圖對應的dq測試數(shù)據(jù)相同;所述根據(jù)所述目標眼圖,判斷對應的所述odt是否滿足預設的一致性條件,包括:

    5.根據(jù)權利要求4所述的內(nèi)存存儲器的一致性測試方法,其特征在于,所述將同一所述測試通道中相同dq測試數(shù)據(jù)對應的各所述目標眼圖進行眼圖...

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:王軍
    申請(專利權)人:深圳市晶存科技股份有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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