System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長(zhǎng)度必須引用該字符串內(nèi)的位置。 參數(shù)名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及半導(dǎo)體設(shè)備,尤其涉及一種真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置及半導(dǎo)體設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、半導(dǎo)體設(shè)備的真空腔室通常具有上蓋,并通過上蓋驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)上蓋開啟或關(guān)閉真空腔室頂部的開口,以便于對(duì)真空腔室的內(nèi)部進(jìn)行安裝和維護(hù)。在上蓋和真空腔室的開口之間還設(shè)置有密封圈,在關(guān)閉開口時(shí),上蓋壓緊密封圈,可以使密封圈對(duì)上蓋和真空腔室之間的間隙進(jìn)行密封,從而保證真空腔室的密封性。
2、由于半導(dǎo)體設(shè)備需要定期維護(hù)和檢修,上蓋頻繁開啟和關(guān)閉會(huì)對(duì)密封圈造成磨損,導(dǎo)致密封圈失效,影響工藝環(huán)境的穩(wěn)定性。目前為了減輕上蓋頻繁開啟和關(guān)閉對(duì)密封圈的影響,利用氣缸頂升上蓋,再向上翻轉(zhuǎn)打開上蓋,這種開蓋操作的穩(wěn)定性差,且向上翻轉(zhuǎn)的動(dòng)作需要一個(gè)較大的操作半徑,導(dǎo)致半導(dǎo)體設(shè)備在生產(chǎn)線上占據(jù)較大的高度空間;而且在向側(cè)面翻轉(zhuǎn)的過程中,重力導(dǎo)致機(jī)械應(yīng)力集中在上蓋的某一位置,也會(huì)增加真空腔室變形和密封界面損壞的風(fēng)險(xiǎn),特別是質(zhì)量較大的上蓋。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的目的在于提供一種真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置及半導(dǎo)體設(shè)備,有效減少了真空腔室和密封界面受到集中機(jī)械應(yīng)力和半導(dǎo)體設(shè)備對(duì)高度空間的占用,確保了上蓋在提升過程中的穩(wěn)定性和真空腔室的密封性。
2、為達(dá)此目的,本專利技術(shù)采用以下技術(shù)方案:
3、真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其包括:
4、提升機(jī)構(gòu),包括提升氣缸和支撐組件,所述支撐組件包括支撐套筒和限位支撐柱,所述支撐套筒設(shè)于上蓋上,所述限位支撐柱可移動(dòng)地設(shè)于所述支撐套筒內(nèi),所述限位支撐柱通過
5、轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu),包括底座、轉(zhuǎn)動(dòng)臂和轉(zhuǎn)軸,所述底座設(shè)于真空腔室的周向,所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述底座內(nèi),所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂的一端與所述轉(zhuǎn)軸連接,另一端與所述提升氣缸的固定端連接;
6、鎖緊機(jī)構(gòu),所述轉(zhuǎn)軸遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂的一端連接有轉(zhuǎn)盤,所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有鎖緊孔,所述鎖緊機(jī)構(gòu)包括鎖緊導(dǎo)向柱,所述鎖緊導(dǎo)向柱能選擇性地與所述鎖緊孔配合,以鎖緊或解鎖所述轉(zhuǎn)軸。
7、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述支撐套筒包括緩存腔和穿孔,所述限位支撐柱包括限位柱和限位頭,所述限位頭設(shè)于所述緩存腔內(nèi),能與所述緩存腔靠近所述穿孔的一端抵接;所述限位柱穿過所述穿孔與所述連接件連接,所述緩存腔的高度大于所述限位頭的高度。
8、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述提升機(jī)構(gòu)還包括導(dǎo)向組件,所述導(dǎo)向組件包括導(dǎo)向軸和導(dǎo)向套筒,所述導(dǎo)向軸設(shè)于所述連接件上,所述導(dǎo)向套筒設(shè)于所述提升氣缸的固定端,所述導(dǎo)向軸滑設(shè)于所述導(dǎo)向套筒內(nèi)。
9、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述真空腔室的周向還設(shè)置有定位機(jī)構(gòu),所述定位機(jī)構(gòu)包括固定定位組件和可調(diào)定位組件,所述固定定位組件和所述可調(diào)定位組件間隔設(shè)于所述真空腔室的周向,所述固定定位組件和所述可調(diào)定位組件均用于定位所述上蓋封閉所述真空腔室時(shí)的位置;
10、所述固定定位組件包括固定定位柱和固定直線軸承座,所述固定定位柱和所述固定直線軸承座二者中,其中一個(gè)設(shè)于所述真空腔室的周向,另一個(gè)設(shè)于所述上蓋,所述固定直線軸承座的內(nèi)孔與所述固定定位柱配合;
11、所述可調(diào)定位組件包括可調(diào)定位柱和可調(diào)直線軸承座,所述可調(diào)直線軸承座轉(zhuǎn)動(dòng)連接于所述真空腔室的周向和所述上蓋二者中的其中一個(gè),所述可調(diào)定位柱設(shè)于所述真空腔室的周向和所述上蓋二者中的另一個(gè),所述可調(diào)直線軸承座轉(zhuǎn)動(dòng),能使所述可調(diào)直線軸承座的內(nèi)孔與所述可調(diào)定位柱配合。
12、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述鎖緊機(jī)構(gòu)還包括鎖緊氣缸,所述鎖緊氣缸的驅(qū)動(dòng)端與所述鎖緊導(dǎo)向柱連接,用于驅(qū)動(dòng)所述鎖緊導(dǎo)向柱伸縮。
13、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述鎖緊機(jī)構(gòu)還包括限位組件,所述限位組件包括限位座和限位軸,所述限位座內(nèi)設(shè)置有限位孔,所述限位軸滑設(shè)于所述限位孔內(nèi),所述限位軸的一端與所述鎖緊氣缸的驅(qū)動(dòng)端連接,另一端與所述鎖緊導(dǎo)向柱連接;
14、所述限位座的周向還設(shè)置有與所述限位孔連通的限位槽,所述限位槽沿平行于所述限位軸的軸線方向延伸,所述限位軸上設(shè)置有限位銷,所述限位銷與所述限位槽配合,以限制所述限位軸的移動(dòng)距離;
15、所述鎖緊孔包括第一鎖緊孔和第二鎖緊孔,所述第一鎖緊孔和所述第二鎖緊孔沿所述轉(zhuǎn)盤的周向間隔設(shè)置,所述第一鎖緊孔用于在所述上蓋位于所述真空腔室正上方時(shí)鎖緊所述轉(zhuǎn)軸;所述第二鎖緊孔用于在所述上蓋旋轉(zhuǎn)移出后鎖緊所述轉(zhuǎn)軸。
16、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述底座上還設(shè)置有限位塊,所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有緩沖塊,所述緩沖塊與所述限位塊抵接,用于限制所述上蓋的旋轉(zhuǎn)角度。
17、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述第二鎖緊孔設(shè)置有多個(gè),不同所述第二鎖緊孔與所述第一鎖緊孔之間的夾角不同。
18、作為所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)可選方案,所述轉(zhuǎn)軸與所述底座通過滾針軸承轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂和所述轉(zhuǎn)盤均與所述底座通過推力球軸承轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
19、半導(dǎo)體設(shè)備,其包括上蓋、真空腔室和如以上任一方案所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述上蓋封閉或打開所述真空腔室。
20、本專利技術(shù)的有益效果:
21、本專利技術(shù)提供的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,包括提升機(jī)構(gòu)、轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)和鎖緊機(jī)構(gòu),提升氣缸的驅(qū)動(dòng)端與上蓋連接,用于提升上蓋,以將上蓋與真空腔室的開口分離;轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)通過轉(zhuǎn)軸與提升氣缸的固定端連接,轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)能將上蓋從真空腔室的正上方移出,從而便于對(duì)真空腔室的內(nèi)部進(jìn)行安裝和維護(hù)。該上蓋驅(qū)動(dòng)裝置在打開上蓋時(shí),上蓋先提升與真空腔室分離,再將上蓋在平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)移出,上蓋不會(huì)受到應(yīng)力集中,降低真空腔室變形和密封界面損壞的風(fēng)險(xiǎn);同時(shí)高度方向的占用空間小,更利于半導(dǎo)體設(shè)備的緊湊化設(shè)計(jì)。且支撐組件的支撐套筒設(shè)于上蓋上,限位支撐柱通過連接件與提升氣缸的驅(qū)動(dòng)端連接,使得提升氣缸在提升上蓋時(shí)不會(huì)發(fā)生偏移和傾斜,保證上蓋提升的穩(wěn)定性。并通過鎖緊機(jī)構(gòu)在上蓋封閉開口后將上蓋的位置固定,確保上蓋不會(huì)出現(xiàn)意外開啟或移動(dòng);同時(shí)限位支撐柱可移動(dòng)地設(shè)于支撐套筒內(nèi),在上蓋下降時(shí)提供了一定的緩存距離,以保證上蓋與真空腔室的開口的密封性。
22、本專利技術(shù)提供的半導(dǎo)體設(shè)備,應(yīng)用上述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)上蓋打開或封閉真空腔室,有效減少了真空腔室和密封界面受到集中機(jī)械應(yīng)力和半導(dǎo)體設(shè)備對(duì)高度空間的占用;不僅保證了真空腔室的密封性;而且適用于在有限空間內(nèi)布置半導(dǎo)體設(shè)備,提高了半導(dǎo)體設(shè)備的緊湊性。
本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述支撐套筒(121)包括緩存腔(1211)和穿孔(1212),所述限位支撐柱(122)包括限位柱(1221)和限位頭(1222),所述限位頭(1222)設(shè)于所述緩存腔(1211)內(nèi),能與所述緩存腔(1211)靠近所述穿孔(1212)的一端抵接;所述限位柱(1221)穿過所述穿孔(1212)與所述連接件(13)連接,所述緩存腔(1211)的高度大于所述限位頭(1222)的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述提升機(jī)構(gòu)(1)還包括導(dǎo)向組件(14),所述導(dǎo)向組件(14)包括導(dǎo)向軸(141)和導(dǎo)向套筒(142),所述導(dǎo)向軸(141)設(shè)于所述連接件(13)上,所述導(dǎo)向套筒(142)設(shè)于所述提升氣缸(11)的固定端,所述導(dǎo)向軸(141)滑設(shè)于所述導(dǎo)向套筒(142)內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述真空腔室(200)的周向還設(shè)置有定位機(jī)構(gòu)(3),所述定位機(jī)構(gòu)(3)包括固定定位組件(
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述鎖緊機(jī)構(gòu)(4)還包括鎖緊氣缸(43),所述鎖緊氣缸(43)的驅(qū)動(dòng)端與所述鎖緊導(dǎo)向柱(42)連接,用于驅(qū)動(dòng)所述鎖緊導(dǎo)向柱(42)伸縮。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述鎖緊機(jī)構(gòu)(4)還包括限位組件(44),所述限位組件(44)包括限位座(441)和限位軸(442),所述限位座(441)內(nèi)設(shè)置有限位孔(4411),所述限位軸(442)滑設(shè)于所述限位孔(4411)內(nèi),所述限位軸(442)的一端與所述鎖緊氣缸(43)的驅(qū)動(dòng)端連接,另一端與所述鎖緊導(dǎo)向柱(42)連接;
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述底座(21)上還設(shè)置有限位塊(211),所述轉(zhuǎn)盤(41)上設(shè)置有緩沖塊(412),所述緩沖塊(412)與所述限位塊(211)抵接,用于限制所述上蓋(100)的旋轉(zhuǎn)角度。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述第二鎖緊孔(4112)設(shè)置有多個(gè),不同所述第二鎖緊孔(4112)與所述第一鎖緊孔(4111)之間的夾角不同。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)軸(23)與所述底座(21)通過滾針軸承(24)轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂(22)和所述轉(zhuǎn)盤(41)均與所述底座(21)通過推力球軸承(25)轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
10.半導(dǎo)體設(shè)備,其特征在于,包括上蓋(100)、真空腔室(200)和如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,所述真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述上蓋(100)封閉或打開所述真空腔室(200)。
...【技術(shù)特征摘要】
1.真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述支撐套筒(121)包括緩存腔(1211)和穿孔(1212),所述限位支撐柱(122)包括限位柱(1221)和限位頭(1222),所述限位頭(1222)設(shè)于所述緩存腔(1211)內(nèi),能與所述緩存腔(1211)靠近所述穿孔(1212)的一端抵接;所述限位柱(1221)穿過所述穿孔(1212)與所述連接件(13)連接,所述緩存腔(1211)的高度大于所述限位頭(1222)的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述提升機(jī)構(gòu)(1)還包括導(dǎo)向組件(14),所述導(dǎo)向組件(14)包括導(dǎo)向軸(141)和導(dǎo)向套筒(142),所述導(dǎo)向軸(141)設(shè)于所述連接件(13)上,所述導(dǎo)向套筒(142)設(shè)于所述提升氣缸(11)的固定端,所述導(dǎo)向軸(141)滑設(shè)于所述導(dǎo)向套筒(142)內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述真空腔室(200)的周向還設(shè)置有定位機(jī)構(gòu)(3),所述定位機(jī)構(gòu)(3)包括固定定位組件(31)和可調(diào)定位組件(32),所述固定定位組件(31)和所述可調(diào)定位組件(32)間隔設(shè)于所述真空腔室(200)的周向,所述固定定位組件(31)和所述可調(diào)定位組件(32)均用于定位所述上蓋(100)封閉所述真空腔室(200)時(shí)的位置;
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空腔室的上蓋驅(qū)動(dòng)裝置,其特征在于,所述鎖緊機(jī)構(gòu)(4)還包括鎖緊氣缸(43),所述...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:張惠賢,楊國(guó)際,王顯亮,孫文彬,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:無(wú)錫邑文微電子科技股份有限公司,
類型:發(fā)明
國(guó)別省市:
還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。