【技術實現步驟摘要】
本申請實施例涉及計算機領域，具體而言，涉及一種磁盤數據的處理方法和裝置、存儲介質及電子設備。
技術介紹
1、隨著存儲系統中數據存儲量的不斷增大，數據存儲過程中對數據可靠性、存儲效率和存儲成本的要求越來越高。
2、目前，通過磁盤陣列實現數據存儲已在數據處理領域得到廣泛應用。在磁盤陣列中，存儲的數據可以通過容錯編碼和容錯存儲技術來提高數據可靠性，其中，通過冗余數據副本實現數據容錯，通過數據校驗塊實現數據校驗。然而，在相關技術中提供的多種容錯方式中，卻往往需要對所有數據塊進行校驗或增加額外的校驗值進行校驗，使得對于磁盤數據的處理復雜度被大大增加。也就是說，現有技術提供的針對磁盤數據的容錯處理方式存在容錯處理效率較低的問題。
3、針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術實現思路
1、本申請實施例提供了一種磁盤數據的處理方法和裝置、存儲介質及電子設備，以至少解決現有技術提供的針對磁盤數據的容錯處理方式存在容錯處理效率較低的問題。
2、根據本申請實施例的一個方面，提供了一種磁盤數據的處理方法，包括：獲取對磁盤陣列中目標磁盤內的數據進行處理的數據處理請求；在數據處理請求指示寫入數據的情況下，確定出當前待處理的目標數據塊在目標磁盤中的塊存儲地址，并將目標數據塊寫入塊存儲地址；獲取按照不同的校驗方式為目標數據塊所生成的至少兩個校驗值，其中，不同的校驗方式為基于磁盤陣列中與塊存儲地址關聯的不同部分的磁盤地址中的磁盤數據進行校驗處理；將至少兩個校驗值分別寫入
3、可選地，獲取按照不同的校驗方式為目標數據塊所生成的至少兩個校驗值包括：確定出每個校驗方式各自的校驗規則，以及在校驗方式下與塊存儲地址關聯的部分的磁盤地址；在校驗規則指示生成虛擬校驗數據行的情況下，利用虛擬校驗數據行和部分的磁盤地址中的磁盤數據生成校驗值。
4、可選地，在獲取對磁盤陣列中目標磁盤內的數據進行處理的數據處理請求之后，包括：在數據處理請求指示為恢復數據的情況下，基于至少兩個校驗值恢復塊存儲地址中的目標數據塊。
5、可選地，在將至少兩個校驗值分別寫入各自在磁盤陣列中對應的校驗位置之后，包括：在數據處理請求指示為讀取數據的情況下，確定出當前待處理的目標數據塊在目標磁盤中的塊存儲地址；在塊存儲地址已被損壞的情況下，基于至少兩個校驗值恢復塊存儲地址中的目標數據塊。
6、可選地，基于至少兩個校驗值恢復塊存儲地址中的目標數據塊包括：獲取當前統計的校驗計數對預設參數進行取余計算后得到的校驗方式指示參數；在校驗方式指示參數滿足與第一校驗方式匹配的參數條件的情況下，獲取磁盤陣列中采用第一校驗方式進行校驗處理的第一磁盤數據塊集合，并基于第一磁盤數據塊集合恢復塊存儲地址中的目標數據塊，其中，第一磁盤數據塊集合中已剔除采用第一校驗方式進行校驗但被損壞的數據塊；在校驗方式指示參數滿足與第二校驗方式匹配的參數條件的情況下，獲取磁盤陣列中采用第二校驗方式進行校驗處理的第二磁盤數據塊集合，并基于第二磁盤數據塊集合恢復塊存儲地址中的目標數據塊，其中，第二磁盤數據塊集合中已剔除采用第二校驗方式進行校驗但被損壞的數據塊。
7、可選地，在基于至少兩個校驗值恢復塊存儲地址中的目標數據塊之后，還包括：對當前統計的校驗計數進行加一處理，得到更新統計后的校驗計數。
8、可選地，基于至少兩個校驗值恢復塊存儲地址中的目標數據塊包括：利用塊存儲地址在目標磁盤中所在的目標數據行，生成第一中間校驗值；獲取目標磁盤與磁盤陣列中的參考磁盤之間的差異數據；利用目標數據行和差異數據生成第二中間校驗值；利用第一校驗方式對應的第一磁盤數據塊集合生成三中間校驗值；利用第二校驗方式對應的第二磁盤數據塊集合生成第四中間校驗值；對第一中間校驗值、第二中間校驗值、第三中間校驗值和第四中間校驗值進行加權求和，得到用于恢復目標數據行的候選行校驗數據；在獲取到對多個數據行各自進行恢復后得到的多個候選行校驗數據的情況下，對多個候選行校驗數據進行異或計算，得到恢復前置校驗數據；利用恢復前置校驗數據構建出恢復后的目標數據塊。
9、可選地，在獲取目標磁盤與磁盤陣列中的參考磁盤之間的差異數據之前，還包括：確定目標磁盤在磁盤陣列中的目標位置；從與目標磁盤位置相鄰且位于目標磁盤兩側的磁盤中，確定出參考磁盤。
10、可選地，在參考磁盤為兩個磁盤的情況下，獲取到的差異數據包括：第一個參考磁盤與目標磁盤之間的第一差異數據，和第二個參考磁盤與目標磁盤之間的第二差異數據，對多個候選行數據進行異或計算，得到恢復前置校驗數據包括：利用第一差異數據和第二差異數據構建出恢復方程組；對恢復方程組進行求解，得到恢復控制系數；利用恢復控制系數對多個候選行校驗數據進行異或計算，得到恢復前置校驗數據。
11、可選地，利用恢復前置校驗數據構建出恢復后的目標數據塊包括：在確定采用第一校驗方式的情況下，基于恢復前置校驗數據和第一磁盤數據塊集合構建出恢復后的目標數據塊；在確定采用與第二校驗方式的情況下，基于恢復前置校驗數據和第二磁盤數據塊集合構建出恢復后的目標數據塊。
12、可選地，在預設參數為2的情況下，在獲取當前統計的校驗計數對預設參數進行取余計算后得到的校驗方式指示參數之后，還包括：在校驗方式指示參數為零的情況下，確定采用第一校驗方式進行數據恢復，其中，第一校驗方式為斜線方向的校驗；在校驗方式指示參數為非零的情況下，確定采用第二校驗方式進行數據恢復，其中，第二校驗方式為反對角線方向的校驗。
13、根據本申請實施例的另一個方面，提供了一種磁盤數據的處理裝置，包括：第一獲取單元，用于獲取對磁盤陣列中目標磁盤內的數據進行處理的數據處理請求；確定單元，用于在數據處理請求指示寫入數據的情況下，確定出當前待處理的目標數據塊在目標磁盤中的塊存儲地址，并將目標數據塊寫入塊存儲地址；第二獲取單元，用于獲取按照不同的校驗方式為目標數據塊所生成的至少兩個校驗值，其中，不同的校驗方式為基于磁盤陣列中與塊存儲地址關聯的不同部分的磁盤地址中的磁盤數據進行校驗處理；寫入單元，用于將至少兩個校驗值分別寫入各自在磁盤陣列中對應的校驗位置。
14、根據本申請實施例的又一方面，還提供了一種計算機可讀的存儲介質，該計算機可讀的存儲介質中存儲有計算機程序，其中，該計算機程序被設置為運行時執行上述磁盤數據的處理方法。
15、根據本申請實施例的又一個方面，提供一種計算機程序產品或計算機程序，該計算機程序產品或計算機程序包括計算機指令，該計算機指令存儲在計算機可讀存儲介質中。計算機設備的處理器從計算機可讀存儲介質讀取該計算機指令，處理器執行該計算機指令，使得該計算機設備執行如以上磁盤數據的處理方法。
16、根據本申請實施例的又一方面，還提供了一種電子設備，包括存儲器和處理器，上述存儲器中存儲有計算機程序，上述處理器被設置為通過計算機程序執行上述的磁盤數據的處理方法。
17、通過本申請本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種磁盤數據的處理方法，其特征在于，
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根據權利要求3或4所述的方法，其特征在于，
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，
9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，
10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，
11.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
12.一種磁盤數據的處理裝置，其特征在于，
13.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，
14.一種電子設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，
15.一種計算機程序產品，包括計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至11中任一項所述方法的步驟。
【技術特征摘要】
1.一種磁盤數據的處理方法，其特征在于，
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根據權利要求3或4所述的方法，其特征在于，
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，
9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張在理，朱紅玉，張彭，
申請(專利權)人：蘇州元腦智能科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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