【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)，特別是涉及一種電路表征方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
技術(shù)介紹
1、目前，在電路設(shè)計(jì)的過(guò)程中，為了確保電路性能的穩(wěn)定性，如何準(zhǔn)確地進(jìn)行電路表征，顯得至關(guān)重要。
2、傳統(tǒng)技術(shù)中，在進(jìn)行電路表征的過(guò)程中，一般采用人工判斷的方式；但是，這種人工判斷的方式存在主觀因素，容易出現(xiàn)錯(cuò)誤，導(dǎo)致電路表征的準(zhǔn)確度較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種能夠提高電路表征的準(zhǔn)確度的電路表征方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
2、第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電路表征方法，包括：
3、獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖；
4、對(duì)所述樣本網(wǎng)表圖進(jìn)行掩碼處理，得到所述樣本網(wǎng)表圖的掩碼網(wǎng)表圖；
5、通過(guò)待訓(xùn)練的編碼器模型，得到所述樣本網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第一樣本嵌入向量，以及所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第二樣本嵌入向量；
6、根據(jù)所述第二樣本嵌入向量，得到所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的重構(gòu)網(wǎng)表圖，根據(jù)所述樣本網(wǎng)表圖和所述重構(gòu)網(wǎng)表圖之間的差異，得到重構(gòu)損失值，以及根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值；
7、對(duì)所述重構(gòu)損失值和所述差異損失值進(jìn)行加權(quán)求和處理，得到目標(biāo)損失值；
8、根據(jù)所述目標(biāo)損失值，對(duì)所述待訓(xùn)練的編碼器模型進(jìn)行迭代訓(xùn)練，得到訓(xùn)練完成的編碼器模型；
9、獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述
10、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖，包括：
11、構(gòu)建所述樣本電路的原始網(wǎng)表圖；
12、對(duì)所述原始網(wǎng)表圖進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理，得到所述樣本電路的關(guān)聯(lián)網(wǎng)表圖；
13、將所述原始網(wǎng)表圖和所述關(guān)聯(lián)網(wǎng)表圖，均作為所述樣本網(wǎng)表圖。
14、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述構(gòu)建所述樣本電路的原始網(wǎng)表圖，包括：
15、獲取與所述樣本電路關(guān)聯(lián)的電路設(shè)計(jì)文件；
16、提取出所述電路設(shè)計(jì)文件中的連接信息；
17、根據(jù)所述連接信息，構(gòu)建所述原始網(wǎng)表圖。
18、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值，包括：
19、分別對(duì)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量進(jìn)行池化處理，得到所述樣本網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第一樣本池化向量，以及所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第二樣本池化向量；
20、分別對(duì)所述第一樣本池化向量和所述第二樣本池化向量進(jìn)行分類處理，得到所述樣本網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第一分類結(jié)果，以及所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第二分類結(jié)果；
21、根據(jù)所述第一分類結(jié)果和所述第二分類結(jié)果之間的差異，得到所述差異損失值；所述差異包括類內(nèi)差異和類別差異。
22、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，包括：
23、獲取與所述待分析電路關(guān)聯(lián)的待處理下游任務(wù)；所述待處理下游任務(wù)用于表示對(duì)所述訓(xùn)練完成的編碼器模型進(jìn)行調(diào)整的下游任務(wù)；
24、對(duì)所述待處理下游任務(wù)進(jìn)行解析處理，得到所述待處理下游任務(wù)的解析信息；
25、從所述解析信息中，提取出所述待分析電路的電路標(biāo)識(shí)信息；
26、根據(jù)所述電路標(biāo)識(shí)信息，確定出所述待分析電路的待分析網(wǎng)表圖。
27、在其中一個(gè)實(shí)施例中，在獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述訓(xùn)練完成的編碼器模型，得到所述待分析網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)嵌入向量，作為所述待分析電路對(duì)應(yīng)的電路表征結(jié)果之后，還包括：
28、將所述預(yù)測(cè)嵌入向量輸入至訓(xùn)練完成的電路檢測(cè)模型，得到所述待分析電路在各預(yù)設(shè)電路檢測(cè)結(jié)果下的預(yù)測(cè)概率；
29、從所述各預(yù)設(shè)電路檢測(cè)結(jié)果中，篩選出所述預(yù)測(cè)概率最大的預(yù)設(shè)電路檢測(cè)結(jié)果，作為所述待分析電路對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電路檢測(cè)結(jié)果；
30、在所述目標(biāo)電路檢測(cè)結(jié)果表示所述待分析電路為異常電路的情況下，生成所述待分析電路對(duì)應(yīng)的修復(fù)指令；
31、將所述修復(fù)指令發(fā)送至與所述待分析電路關(guān)聯(lián)的目標(biāo)終端，使所述目標(biāo)終端根據(jù)所述修復(fù)指令，對(duì)所述待分析電路進(jìn)行對(duì)應(yīng)的修復(fù)處理。
32、第二方面，本申請(qǐng)還提供了一種電路表征裝置，包括：
33、網(wǎng)表圖獲取模塊，用于獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖；
34、網(wǎng)表圖處理模塊，用于對(duì)所述樣本網(wǎng)表圖進(jìn)行掩碼處理，得到所述樣本網(wǎng)表圖的掩碼網(wǎng)表圖；
35、向量提取模塊，用于通過(guò)待訓(xùn)練的編碼器模型，得到所述樣本網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第一樣本嵌入向量，以及所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第二樣本嵌入向量；
36、損失值確定模塊，用于根據(jù)所述第二樣本嵌入向量，得到所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的重構(gòu)網(wǎng)表圖，根據(jù)所述樣本網(wǎng)表圖和所述重構(gòu)網(wǎng)表圖之間的差異，得到重構(gòu)損失值，以及根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值；
37、損失值處理模塊，用于對(duì)所述重構(gòu)損失值和所述差異損失值進(jìn)行加權(quán)求和處理，得到目標(biāo)損失值；
38、模型訓(xùn)練模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)損失值，對(duì)所述待訓(xùn)練的編碼器模型進(jìn)行迭代訓(xùn)練，得到訓(xùn)練完成的編碼器模型；
39、結(jié)果確定模塊，用于獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述訓(xùn)練完成的編碼器模型，得到所述待分析網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)嵌入向量，作為所述待分析電路對(duì)應(yīng)的電路表征結(jié)果。
40、第三方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
41、獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖；
42、對(duì)所述樣本網(wǎng)表圖進(jìn)行掩碼處理，得到所述樣本網(wǎng)表圖的掩碼網(wǎng)表圖；
43、通過(guò)待訓(xùn)練的編碼器模型，得到所述樣本網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第一樣本嵌入向量，以及所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的第二樣本嵌入向量；
44、根據(jù)所述第二樣本嵌入向量，得到所述掩碼網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的重構(gòu)網(wǎng)表圖，根據(jù)所述樣本網(wǎng)表圖和所述重構(gòu)網(wǎng)表圖之間的差異，得到重構(gòu)損失值，以及根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值；
45、對(duì)所述重構(gòu)損失值和所述差異損失值進(jìn)行加權(quán)求和處理，得到目標(biāo)損失值；
46、根據(jù)所述目標(biāo)損失值，對(duì)所述待訓(xùn)練的編碼器模型進(jìn)行迭代訓(xùn)練，得到訓(xùn)練完成的編碼器模型；
47、獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述訓(xùn)練完成的編碼器模型，得到所述待分析網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)嵌入向量，作為所述待分析電路對(duì)應(yīng)的電路表征結(jié)果。
48、第四方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
49、獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖；
50、對(duì)所述樣本網(wǎng)表圖進(jìn)行掩碼處理本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種電路表征方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述構(gòu)建所述樣本電路的原始網(wǎng)表圖，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述訓(xùn)練完成的編碼器模型，得到所述待分析網(wǎng)表圖對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)嵌入向量，作為所述待分析電路對(duì)應(yīng)的電路表征結(jié)果之后，還包括：
7.一種電路表征裝置，其特征在于，所述裝置包括：
8.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，
10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種電路表征方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取樣本電路的樣本網(wǎng)表圖，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述構(gòu)建所述樣本電路的原始網(wǎng)表圖，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一樣本嵌入向量和所述第二樣本嵌入向量，得到差異損失值，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在獲取待分析電路的待分析網(wǎng)表圖，將所述待分析網(wǎng)表圖輸入至所述訓(xùn)練完成的編碼器模型...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：徐俊剛，賴心華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中國(guó)科學(xué)院大學(xué)，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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