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    一種致密砂巖泥質含量測定方法技術

    技術編號:44499595 閱讀:6 留言:0更新日期:2025-03-04 18:08
    本發明專利技術公開了一種致密砂巖泥質含量測定方法,涉及致密巖油氣藏勘探研究技術領域。本發明專利技術運用計算機圖像識別方法,對巖石薄片鑒定照片進行識別,獲取薄片鑒定照片中直徑大于設置閾值的碎屑顆粒的面積百分數,然后計算薄片鑒定照片中泥質顆粒面積百分數;根據泥質顆粒面積百分數及其對應的偏光顯微鏡倍數,以散點的形式將其展現在直角坐標系中;運用非線性最小二乘法擬合所有散點,建立不同偏光顯微鏡物鏡倍數下泥質含量體積百分數變化關系曲線;求解該曲線方程,用該方程是計算樣本的泥質含量。本發明專利技術避免了單一的通過薄片鑒定人為目估法計算泥質含量所帶來的誤差,分析結果更符合樣品的真實含量,從而大大提高圖像法泥質含量測定的精確度。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及致密巖油氣藏勘探研究,更具體地說涉及一種致密砂巖泥質含量測定方法


    技術介紹

    1、四川盆地川中地區多期規模含氣河道砂,儲層主要以致密砂巖為主,有利面積達10000km2,資源規模超萬億方,勘探開發潛力大,是西南油氣田增儲上產的重要領域之一。

    2、泥質指顆粒直徑小于0.01mm的碎屑物質,其含量為巖石中顆粒很細的細粉砂、黏土及黏土所含水的體積占巖石體積的百分數。通過對致密砂巖泥質含量開展研究,有利于進一步刻畫油氣藏地層層序,準確區分沉積環境,并有效解決測井解釋泥質含量校正的瓶頸問題,對沉積相劃分、儲層評價、儲層劃分、地層對比以及地層水電阻率計算等均具有重要的意義。

    3、現致密砂巖測井解釋泥質含量一般采用自然伽馬、自然伽馬能譜、自然電位、密度及中子等求取,這些方法僅適用于砂巖的骨架純凈、黏土礦物成分穩定的情況,一旦巖石組分較為復雜(黏土礦物含量>15%雜砂巖、巖屑含量>10%巖屑質砂巖),就很難準確的計算出泥質含量,急需建立一種泥質含量測定實驗方法,以對測井解釋成果進行校正。目前地質實驗室一般采用粒度分析法來估算,具體做法便是將巖心充分磨碎,經過重重規格的篩選,并用激光粒度分析儀器仔細測算各種粒徑的巖石顆粒在整個巖石顆粒中的比例。

    4、但現有行業標準《碎屑巖粒度分析方法:sy/t?5434-2018》中激光法、篩分法、光透法等僅適用于含有大量礫石的(礫石含量>75%),膠結程度中等以下的碎屑巖樣品,不適用于四川盆地川中地區膠結程度較高、幾乎不含礫石的致密砂巖,因此目前只能通過人工巖石薄片鑒定法進行粒度分析,粗略估算泥質含量。因此,急需建立一種更為快速準確的分析方法,以解決致密砂巖泥質含量測定難題。


    技術實現思路

    1、為了克服上述現有技術存在的缺陷和不足,本專利技術提供了一種致密砂巖泥質含量測定方法。本專利技術旨在于解決致密砂巖泥質含量測定難題。本專利技術運用計算機圖像識別方法,對巖石薄片單偏光薄片鑒定照片進行識別,獲取薄片鑒定照片中直徑大于設置閾值的碎屑顆粒的面積百分數,然后計算所有薄片鑒定照片中泥質顆粒面積百分數;根據泥質顆粒面積百分數及其對應的偏光顯微鏡倍數數據,以散點的形式將其展現在直角坐標系中;運用非線性最小二乘法擬合所有散點,建立不同偏光顯微鏡物鏡倍數下泥質含量體積百分數變化關系曲線;求解該曲線方程,用該方程是計算在偏光顯微鏡物鏡倍數為0時的泥質含量百分數,依次作為樣本的泥質含量。本專利技術避免了單一的通過薄片鑒定人為目估法計算泥質含量所帶來的誤差,分析結果更符合樣品的真實含量,從而大大提高圖像法泥質含量測定的精確度。

    2、為了解決上述現有技術中存在的問題,本專利技術是通過下述技術方案實現的。

    3、本專利技術提供了一種致密砂巖泥質含量測定方法,該方法包括以下步驟:

    4、s1、選取致密砂巖樣品,將該樣品制作成正方體樣品;

    5、s2、取正方體樣品多個面,分別制作正方體樣品體多個面的巖石薄片;

    6、s3、通過偏光顯微鏡,獲取s2步驟中多個面的巖石薄片的單偏光薄片鑒定照片;每個面的巖石薄片獲取其在不同偏光顯微鏡物鏡倍數下的多張單偏光薄片鑒定照片;

    7、s4、利用計算機圖像識別方法,獲取s3步驟中所有薄片鑒定照片中直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的面積百分數;

    8、s5、根據s4中獲取的碎屑顆粒面積百分數,計算s3步驟中所有薄片鑒定照片中泥質顆粒面積百分數;

    9、s6、根據s5步驟計算的泥質顆粒面積百分數及其對應的偏光顯微鏡物鏡倍數數據,以散點的形式將其展現在直角坐標系中;

    10、s7、利用非線性最小二乘法擬合s6步驟直角坐標系所有散點,建立不同偏光顯微鏡物鏡倍數下泥質含量體積百分數變化關系曲線;

    11、s8、根據s7步驟中建立的泥質含量體積百分數變化關系曲線求解該曲線方程式,用該曲線方程式計算在偏光顯微鏡物鏡倍數為0時的泥質含量體積百分數,以此作為樣本的泥質含量。

    12、進一步的,s1步驟中,所述正方體樣品的尺寸為5cm*5cm*5cm。

    13、進一步的,s2步驟中,取正方體樣品多個面,具體是指,取正方體水平面和垂直面兩個面。

    14、更進一步的,所述巖石薄片的厚度應滿足《巖石制片方法:sy/t5913-2004》的技術要求,鑒定方法應滿足《巖石薄片鑒定:sy/t5368-2016》的技術要求。

    15、進一步的,所述s3步驟中,每個面的巖石薄片獲取其在偏光顯微鏡物鏡倍數為1倍、2.5倍、5倍、10倍、20倍下的單偏光薄片鑒定照片。

    16、更進一步的,s3步驟中,獲取巖石薄片在不同偏光顯微鏡物鏡倍數下的偏光薄片鑒定照片應滿足《碎屑巖粒度分析:sy/t5435-2018》中6.4圖像法的技術要求。

    17、進一步的,s4步驟具體為:通過計算機圖像識別方法,獲取直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的邊界數據,根據其邊界數據計算碎屑顆粒面積,并統計巖石薄片中所有直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的面積之和的面積百分數ws1。

    18、進一步的,s4步驟中,所述設定閾值為0.0156mm。

    19、進一步的,s5步驟中,泥質顆粒面積百分數為直徑小于設定閾值的碎屑顆粒,其面積百分數為ws2=1-ws1。

    20、進一步的,s6步驟中,將多個面的巖石薄片鑒定照片中泥質面積百分數及其對應的偏光顯微鏡物鏡倍數投放在一個直角坐標系中,通過曲線擬合的方式實現面積百分數向體積百分數的轉換。

    21、進一步的,s7步驟中,采用非線性最小二乘法擬合關系曲線,即擬合的關系曲線為滿足所有散點的變化規律,用擬合的曲線方程式作為泥質含量體積百分數計算方程式。

    22、與現有技術相比,本專利技術所帶來的有益的技術效果表現在

    23、1、本專利技術避免了單一的通過薄片鑒定人為目估法計算泥質含量所帶來的誤差,分析結果更符合樣品的真實含量,從而大大提高了圖像法泥質含量測定的精確度。

    24、2、本專利技術采用計算機圖像識別方法,以獲取顆粒面積的精確數據,比人為目估法提取圖像顆粒、獲取面積數據更為準確可靠。

    25、3、本專利技術引入了統計學分形理論,根據巖石薄片中顆粒分布圖像的自相似性,運用統計學意義上的無規分形方法,通過曲線擬合,實現了巖石二維面顆粒百分比的統計到三維體積顆粒百分比統計的轉換,避免了二維面積百分數表征三維體積百分數的不準確性問題。

    26、4、本專利技術尤其適用于致密砂巖粒度分析,克服了致密砂巖膠結程度高,顆粒細小,常規粒度分析儀和薄片鑒定方法分析困難的瓶頸,能有效提高致密砂巖泥質含量測定準確度,為致密砂巖油氣藏測井解釋、儲層評價等提供技術支撐。

    27、5、本專利技術能計算不同放大倍數下巖石中泥質所占的體積百分數,建立的關系式可以轉換為不同地層厚度和面積下的泥質含量,對于油氣儲層區域地質特征等研究具有十分重要的意義。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:

    2.如權利要求1所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S6步驟中,將多個面的巖石薄片鑒定照片中泥質面積百分數及其對應的偏光顯微鏡物鏡倍數投放在一個直角坐標系中,通過曲線擬合的方式實現面積百分數向體積百分數的轉換。

    3.如權利要求1或2所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S7步驟中,采用非線性最小二乘法擬合關系曲線,即擬合的關系曲線為滿足所有散點的變化規律,用擬合的曲線方程式作為泥質含量體積百分數計算方程式。

    4.如權利要求1所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S4步驟具體為:通過計算機圖像識別方法,獲取直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的邊界數據,根據其邊界數據計算碎屑顆粒面積,并統計巖石薄片中所有直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的面積之和的面積百分數Ws1。

    5.如權利要求1或4所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S4步驟中,所述設定閾值為0.0156mm。

    6.如權利要求4所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S5步驟中,泥質顆粒面積百分數為直徑小于設定閾值的碎屑顆粒,其面積百分數為Ws2=1-Ws1。

    7.如權利要求1、2、4或6所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S1步驟中,所述正方體樣品的尺寸為5cm*5cm*5cm。

    8.如權利要求1、2、4或6所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S2步驟中,取正方體樣品多個面,具體是指,取正方體水平面和垂直面兩個面。

    9.如權利要求1、2、4或6所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:所述巖石薄片的厚度應滿足《巖石制片方法:SY/T5913-2004》的技術要求,鑒定方法應滿足《巖石薄片鑒定:SY/T5368-2016》的技術要求。

    10.如權利要求1、2、4或6所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:所述S3步驟中,每個面的巖石薄片獲取其在偏光顯微鏡物鏡倍數為1倍、2.5倍、5倍、10倍、20倍下的單偏光薄片鑒定照片。

    11.如權利要求1、2、4或6所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:S3步驟中,獲取巖石薄片在不同偏光顯微鏡物鏡倍數下的偏光薄片鑒定照片應滿足《碎屑巖粒度分析:SY/T5435-2018》中6.4圖像法的技術要求。

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    【技術特征摘要】

    1.一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:

    2.如權利要求1所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:s6步驟中,將多個面的巖石薄片鑒定照片中泥質面積百分數及其對應的偏光顯微鏡物鏡倍數投放在一個直角坐標系中,通過曲線擬合的方式實現面積百分數向體積百分數的轉換。

    3.如權利要求1或2所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:s7步驟中,采用非線性最小二乘法擬合關系曲線,即擬合的關系曲線為滿足所有散點的變化規律,用擬合的曲線方程式作為泥質含量體積百分數計算方程式。

    4.如權利要求1所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:s4步驟具體為:通過計算機圖像識別方法,獲取直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的邊界數據,根據其邊界數據計算碎屑顆粒面積,并統計巖石薄片中所有直徑大于設定閾值的碎屑顆粒的面積之和的面積百分數ws1。

    5.如權利要求1或4所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:s4步驟中,所述設定閾值為0.0156mm。

    6.如權利要求4所述的一種致密砂巖泥質含量測定方法,其特征在于:s5步驟中,泥質顆粒面積百分數為直徑小于設定閾值的...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:譚杰王麗陳曼霏嚴玉霞曹正林陳洪斌滿玲郝煦龐小婷余華潔唐志娟鄧曉航
    申請(專利權)人:中國石油天然氣股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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