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【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及液晶顯示屏劃痕自動檢測,特別涉及一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法及裝置。
技術介紹
1、液晶顯示屏,為平面超薄的顯示設備,它由一定數量的彩色或黑白像素組成,放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器功耗很低,因此倍受工程師青睞,適用于使用電池的電子設備。液晶顯示屏的表面很脆弱,在液晶顯示屏的生產過程中,由于工藝流程多而復雜,在搬運的過程中中,容易造成顯示屏偏光片上的保護膜有深淺不一方向各異的劃痕,且由于反光等原因,使工作人員難以通過肉眼發現全部的劃痕,容易發生遺漏,且效率低,耗時費力。
2、因此,需要對液晶顯示屏的屏幕進行劃傷或劃痕檢測,從而保證液晶顯示屏產品的生產質量。現有的檢測方式一般通過人工結合檢測儀器的半自動方式進行檢測,顯然,傳統的檢測方式效率并不高,而且采用這種半自動的檢測方式容易對液晶顯示屏的屏幕造成損傷或污染,從而影響產品的質量以及檢測的準確性。
技術實現思路
1、本申請實施例的目的在于提出一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法及裝置,以解決現有的對液晶顯示屏劃痕檢測方案效率不高及準確性低的問題。
2、第一方面,一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,包括:
3、獲取圖像采集模塊及多個環形led光源,所述多個環形led光源在暗場環境中以不同的角度向待測液晶顯示屏發射環形led光;
4、依次點亮和關閉所述環形led光源,并利用所述圖像采集模塊采集每一環形led光照射時的待測液晶顯示屏的第一圖像;
5、對每個所述第
6、利用治具點亮待測液晶顯示屏,并利用所述圖像采集模塊獲取第五圖像,采用圖像處理算法對所述第五圖像進行初步判定處理,獲取初步缺陷區域的第六圖像;
7、將所述第六圖像與所述第四圖像進行差集處理,得到最終劃痕區域。
8、進一步的,所述獲取圖像采集模塊,包括:
9、將圖像采集模塊固定在所述治具對應待測液晶顯示屏區域的正上方;
10、對所述圖像采集模塊的曝光參數及增益系數進行配置,以使得獲取的圖像不過曝。
11、進一步的,獲取多個環形led光源,包括:
12、在所述圖像采集模塊與治具放置待測液晶顯示屏區域之間的區域設置固定架;
13、在所述固定架的中心設置開孔,以便于所述圖像采集模塊進行圖像采集;
14、在所述固定架的內側設置弧形電路板;
15、在所述弧形電路板的內側設置多個環形led燈帶,并使所述環形led燈帶以不同的照射角度照射待測液晶顯示屏的規定區域;
16、對所述環形led光源的亮度進行配置,以增強待測液晶顯示屏的劃痕與背景的對比度,得到所述多個環形led光源;
17、其中,所述照射角度為led光線與所述待測液晶顯示屏的角度。
18、進一步的,所述依次點亮和關閉所述環形led光源,并利用所述圖像采集模塊采集每一環形led光照射時的待測液晶顯示屏的第一圖像,包括:
19、打開第一照射角度的環形led光源,利用所述圖像采集模塊采集待測液晶顯示屏圖像,圖像采集完畢后,關閉所述第一照射角度的環形led光源;
20、打開第二照射角度的環形led光源,利用所述圖像采集模塊采集待測液晶顯示屏圖像,圖像采集完畢后,關閉所述第二照射角度的環形led光源;
21、循環執行上述兩個步驟、直到所有的照射角度的待測液晶顯示屏的所述第一圖像采集完畢。
22、進一步的,所述對每個所述第一圖像進行增強處理,得到多個第二圖像,包括:
23、采用均值濾波對所述第一圖像進行降噪處理;
24、通過線性變換調整降噪處理后的第一圖像的灰度值,以增強圖像對比度,得到所述第二圖像。
25、進一步的,所述采用閾值分割算法對所述多個第二圖像將劃痕分割出來,得到多個第三圖像,包括:
26、采用ostu算法確定所述第二圖像的分割閾值;
27、將所述第二圖像中的每個像素的灰度值與所述分割閾值進行比較;
28、若大于所述分割閾值,則判定為劃痕像素,若小于所述分割閾值,則判定為背景像素,得到第三圖像。
29、進一步的,所述利用形態學膨脹算法對多個所述第三圖像進行擬合,得到劃痕區域的第四圖像,包括:
30、獲取所述第四圖像的結構元素及膨脹操作符,將所述結構元素在所述第四圖像進行逐像素移動,所述膨脹操作符為最大值操作符;
31、對每個像素位置選擇所述最大值操作符,以確定斷開區域的目標像素的灰度值;
32、循環執行上述兩個步驟、直到遍歷完所述第四圖像的所有像素;
33、重復運行上一步驟,進行多次膨脹操作,直到連接完所有的斷開部分。
34、第二方面,一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測裝置,采用第一方面所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,包括:
35、獲取模塊,用于獲取圖像采集模塊及多個環形led光源,所述多個環形led光源在暗場環境中以不同的角度向待測液晶顯示屏發射環形led光;
36、第一采集模塊,用于依次點亮和關閉所述環形led光源,并利用圖像采集模塊采集每一環形led光照射時的待測液晶顯示屏的多個第一圖像;
37、處理模塊,用于對每個所述第一圖像進行增強處理,得到多個第二圖像,采用閾值分割算法對所述多個第二圖像將劃痕分割出來,得到多個第三圖像,利用形態學膨脹算法對多個所述第三圖像進行擬合,得到劃痕區域的第四圖像;
38、第二采集模塊,用于利用治具點亮待測液晶顯示屏,并利用所述圖像采集模塊獲取第五圖像,采用圖像處理算法對所述第五圖像進行初步判定處理,獲取初步缺陷區域的第六圖像;
39、判定模塊,用于將所述第六圖像與所述第四圖像進行差集處理,得到最終劃痕區域。
40、進一步的,所述處理模塊包括:
41、降噪單元,用于采用均值濾波對所述第一圖像進行降噪處理;
42、線性變換單元,用于通過線性變換調整降噪處理后的第一圖像的灰度值,以增強圖像對比度,得到所述第二圖像。
43、進一步的,所述處理模塊還包括:
44、確定單元,用于采用ostu算法確定所述第三圖像的分割閾值;
45、比較判定單元,用于將所述第三圖像中的每個像素的灰度值與所述分割閾值進行比較:若大于所述分割閾值,則判定為劃痕像素,若小于所述分割閾值,則判定為背景像素,得到第三圖像。
46、與現有技術相比,本申請實施例主要有以下技術效果:通過設置不同角度的環形led光源獲取待測液晶顯示屏圖像,并通過采用閾值分割算法、形態學膨脹算法對劃痕圖像進行分割和擬合,提高了劃痕圖像的擬合的準確度,通過獲取待測顯示本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,特征在于,包括:
2.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述獲取圖像采集模塊,包括:
3.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,獲取多個環形LED光源,包括:
4.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述依次點亮和關閉所述環形LED光源,并利用所述圖像采集模塊采集每一環形LED光照射時的待測液晶顯示屏的第一圖像,包括:
5.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述對每個所述第一圖像進行增強處理,得到多個第二圖像,包括:
6.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述采用閾值分割算法對所述多個第二圖像將劃痕分割出來,得到多個第三圖像,包括:
7.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述利用形態學膨脹算法對多個所述第三圖像進行擬合,得到劃痕區域的第四圖像,包括:
8.一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測裝置,采用權利要求
9.根據權利要求8所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測裝置,其特征在于,所述處理模塊包括:
10.根據權利要求8所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測裝置,其特征在于,所述處理模塊還包括:
...【技術特征摘要】
1.一種液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,特征在于,包括:
2.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述獲取圖像采集模塊,包括:
3.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,獲取多個環形led光源,包括:
4.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述依次點亮和關閉所述環形led光源,并利用所述圖像采集模塊采集每一環形led光照射時的待測液晶顯示屏的第一圖像,包括:
5.根據權利要求1所述的液晶顯示屏劃痕的自動檢測方法,其特征在于,所述對每個所述第一圖像進行增強處理,得到多個第二圖像,包括:
6....
【專利技術屬性】
技術研發人員:蒲大杭,
申請(專利權)人:信利光電股份有限公司,
類型:發明
國別省市:
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