【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)屬于鍛件制造，具體涉及一種gh4169合金盤鍛件中條帶狀晶粒組織的評價方法。
技術(shù)介紹
1、gh4169合金應(yīng)用于發(fā)動機(jī)盤、機(jī)匣、環(huán)件、結(jié)構(gòu)件等各類零件的制造，gh4169合金鍛件的晶粒組織由原材料質(zhì)量水平、鍛造和熱處理工藝共同決定。相對于機(jī)匣、環(huán)形件以及結(jié)構(gòu)件，現(xiàn)有g(shù)h4169合金盤鍛件驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)一般要求鍛件具有較細(xì)的晶粒度(至少達(dá)到國標(biāo)8級以上)、較高的強(qiáng)度、持久、蠕變和疲勞性能水平。現(xiàn)有g(shù)h4169合金盤鍛件標(biāo)準(zhǔn)晶粒度僅判定平均晶粒度等級的規(guī)定，沒有對條帶狀晶粒組織的檢測與控制要求?，F(xiàn)有晶粒度評價要求：(1)檢測方法：針對原始狀態(tài)鍛件直接在100倍顯微鏡下進(jìn)行晶粒度檢測；(2)評價要求：晶粒度應(yīng)為國標(biāo)8級或更細(xì)，允許存在不超過國標(biāo)2級的單個晶粒。
2、以gh4169合金盤鍛件為例，現(xiàn)有鍛件驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)對于高倍晶粒的要求為：平均晶粒度為國標(biāo)8級或更細(xì)，允許存在不超過國標(biāo)2級的單個晶粒。實(shí)際生產(chǎn)過程中，典型批次鍛件的平均晶粒度為8級～12級，滿足驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求；但部分批次鍛件存在粗、細(xì)晶粒并列分布的條帶狀組織(粗晶部位國標(biāo)8級～9級、細(xì)晶部位國標(biāo)11級～12級)，其金相圖如附圖1、2所示，經(jīng)檢測鍛件的低周疲勞性能存在較大波動，部分位置的檢測結(jié)果不達(dá)標(biāo)。經(jīng)分析力學(xué)性能不合格是由于鍛件存在條帶狀組織、且條帶部位與正常部位的晶粒度級差過大所致。
3、針對gh4169合金盤鍛件，僅按照現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的平均晶粒度等級下限和允許最大晶粒要求進(jìn)行驗(yàn)收，無法實(shí)現(xiàn)對鍛件的條帶狀組織控制。當(dāng)條帶狀組織分布導(dǎo)致組織嚴(yán)重不均時
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)提供一種gh4169合金盤鍛件中條帶狀晶粒組織的評價方法，完善gh4169合金盤鍛件驗(yàn)收技術(shù)指標(biāo)，提高鍛件的組織均勻性，優(yōu)化gh4169合金盤鍛件冶金質(zhì)量控制要求，保證鍛件具有較高的綜合力學(xué)性能水平。
2、本專利技術(shù)的技術(shù)方案如下：一種gh4169合金盤鍛件中條帶狀晶粒組織的評價方法，包括以下步驟：
3、1)制定gh4169合金盤鍛件條帶狀晶粒組織檢測方法；
4、1.1)條帶狀晶粒組織檢出方法
5、gh4169合金盤鍛件高倍試樣進(jìn)行條帶狀晶粒組織檢測，條帶狀晶粒組織為試樣腐蝕后在25倍顯微鏡下呈現(xiàn)出顏色深淺不一的條帶；
6、1.2)原始狀態(tài)條帶狀晶粒組織檢測方法
7、(1)原始狀態(tài)晶粒度檢測：gh4169合金盤鍛件條帶狀組織試樣腐蝕后在100倍顯微鏡下分別對條帶部位、其它正常部位進(jìn)行晶粒度檢測；
8、(2)原始狀態(tài)顯微組織檢測：gh4169合金盤鍛件條帶狀組織試樣腐蝕后在250倍顯微鏡下分別對條帶部位、其它正常部位進(jìn)行顯微組織檢測；
9、1.3)熱處理狀態(tài)條帶狀晶粒組織檢測方法
10、(1)熱處理后晶粒度檢測：針對條帶狀晶粒組織試樣進(jìn)行熱處理：加熱至985℃，保溫1小時，空冷；熱處理后檢測晶粒度；
11、(2)熱處理后顯微組織檢測：針對條帶狀晶粒組織試樣進(jìn)行熱處理：加熱至1030℃，保溫1小時，空冷；重新加熱至900℃，保溫3小時，空冷；熱處理后檢測顯微組織；
12、2)制定gh4169合金盤鍛件條帶狀晶粒組織評價要求；
13、2.1)原始狀態(tài)條帶狀晶粒組織評價要求
14、(1)晶粒度：平均晶粒度為國標(biāo)8級或更細(xì)，允許存在不超過國標(biāo)2級的單個晶粒；對比條帶部位與正常部位的晶粒度等級，條帶部位與正常部位的晶粒級差應(yīng)不大于2個國標(biāo)等級；
15、(2)顯微組織：條帶部位的顯微組織的分布不應(yīng)出現(xiàn)條帶狀形態(tài)；
16、2.2)熱處理狀態(tài)條帶狀晶粒組織評價要求
17、(1)晶粒度：熱處理后試樣的晶粒度為國標(biāo)8級或更細(xì)，允許存在不超過國標(biāo)2級的單個晶粒；
18、(2)顯微組織：熱處理后試樣的顯微組織不呈現(xiàn)出條帶狀分布形態(tài)。
19、本專利技術(shù)的有益效果為：本專利技術(shù)建立起gh4169合金盤鍛件條帶狀晶粒組織評價方法，完善gh4169合金盤鍛件驗(yàn)收技術(shù)指標(biāo)，提高鍛件的組織均勻性，優(yōu)化gh4169合金盤鍛件冶金質(zhì)量控制要求，保證鍛件具有較高的綜合力學(xué)性能水平，提升發(fā)動機(jī)用盤鍛件力學(xué)性能、冶金質(zhì)量及相關(guān)零件的制造技術(shù)水平。
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1.一種GH4169合金盤鍛件中條帶狀晶粒組織的評價方法，其特征在于，包括以下步驟：
【技術(shù)特征摘要】
1.一種gh4169合金盤鍛件中條帶狀晶粒...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李昌永，譚志剛，于爽，魏鑫，趙興東，
申請(專利權(quán))人：中國航發(fā)沈陽黎明航空發(fā)動機(jī)有限責(zé)任公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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