【技術實現步驟摘要】
本申請涉及顯示，具體涉及一種顯示面板及其制備方法。
技術介紹
1、oled產品中，對良率影響較大的因素之一就是暗點的數量較多，難以達成客戶規格。而暗點不良高發的原因多與oled器件陽極的微小異物、金屬材料析出凸起及像素定義層微殘留相關，目前主流的做法是利用老化試驗等技術手段來識別并消除暗點，但這種方案的本質只是減小了暗點的影響范圍達到人眼遠距離難以識別的目的，并沒有從根源上使暗點完全消除。
2、在對現有技術的研究和實踐過程中，本申請的專利技術人發現，暗點類型主要包括如下三種，暗點類型一是陽極金屬析出導致的凸起使陰極和陽極短路產生暗點；暗點類型二是陽極下方異物導致陽極成膜凸起使陰極和陽極短路產生暗點；暗點類型三是像素定義層的材料殘留或微殘留導致有機發光層的墨水鋪展不均使陰極和陽極短路產生暗點。
技術實現思路
1、本申請實施例提供一種顯示面板及其制備方法，可以改善暗點不良的效果。
2、本申請實施例提供一種顯示面板的制備方法，其包括以下步驟：
3、提供一驅動基板，所述驅動基板包括平坦層、陽極和像素定義層，所述陽極設置在所述平坦層上，所述像素定義層設置在所述陽極上，所述像素定義層上開設有多個開口，一所述開口對應暴露一所述陽極；
4、獲取所述開口區域內的實時圖像，根據所述實時圖像和標準圖像的對比，識別出異常凸起并獲取所述異常凸起的位置信息；
5、翻轉所述驅動基板，使得所述開口向下；
6、根據所述位置信息，去除所述異常凸起
7、再次翻轉所述驅動基板，使得所述開口向上；
8、采用修補材料填補所述挖孔；
9、在所述陽極上依次形成發光層和陰極。
10、可選的，在本申請的一些實施例中，根據所述實時圖像和標準圖像的對比，識別出異常凸起并獲取所述異常凸起的位置信息，包括以下步驟：
11、根據所述實時圖像和標準圖像的對比，判定所述實時圖像的局部區域的灰度值是否大于標準灰度值，如果是，則判斷具有異常凸起；
12、根據所述實時圖像，獲取所述異常凸起的位置信息以及輪廓信息。
13、可選的，在本申請的一些實施例中，判斷具有異常凸起，之后，還包括步驟：
14、根據所述異常凸起的輪廓信息，獲取所述異常凸起的輪廓線；
15、基于所述輪廓線，獲取第一區域的灰度值和第二區域的灰度值的差值，所述第一區域為基于所述輪廓線向外擴展第一距離形成的區域，所述第一區域位于所述輪廓線的外側，所述第二區域為基于所述輪廓線向內擴展所述第一距離形成的區域，所述第二區域位于所述輪廓線的內側；
16、判斷第一區域的灰度值和第二區域的灰度值的差值是否處于設定范圍內；
17、若所述差值在所述設定范圍內，則判定所述異常凸起形成于所述陽極靠近所述平坦層的表面之下，所述異常凸起為第一類異常凸起。
18、可選的，在本申請的一些實施例中，去除所述異常凸起，使得所述陽極對應于所述異常凸起的區域形成挖孔，包括如下步驟：
19、根據所述異常凸起的所述位置信息和所述輪廓信息，去除所述異常凸起以形成挖孔，所述挖孔的深度大于或等于所述陽極的厚度。
20、可選的，在本申請的一些實施例中，采用修補材料填補所述挖孔，包括以下步驟：
21、獲取所述陽極的膜層信息，所述膜層信息包括膜層數量、各膜層的材料信息和各膜層的厚度信息；
22、若所述膜層數量為一層，則選取與所述陽極相同的材料作為所述修補材料以填補所述挖孔；
23、若所述膜層數量為至少兩層，則選取與所述陽極中最厚的膜層相同的材料作為所述修補材料以填補所述挖孔，或者，根據膜層的順序，依次選取與所述陽極中相應膜層相同的材料作為所述修補材料以修補所述挖孔。
24、可選的，在本申請的一些實施例中，判斷第一區域的灰度值和第二區域的灰度值的差值是否處于設定范圍內，之后，還包括步驟：
25、若所述差值不在所述設定范圍內，則判定所述異常凸起形成于所述陽極遠離所述平坦層的表面上，所述異常凸起為第二類異常凸起。
26、可選的，在本申請的一些實施例中，去除所述異常凸起，使得所述陽極對應于所述異常凸起的區域形成挖孔，包括如下步驟：
27、根據所述第二類異常凸起的所述位置信息和所述輪廓信息，去除所述異常凸起以形成挖孔，所述挖孔的深度小于所述陽極的厚度；
28、采用修補材料填補所述挖孔，還包括以下步驟：
29、獲取所述陽極的膜層信息，所述膜層信息包括膜層數量和各膜層的材料信息；
30、選取與所述陽極中直接接觸所述第二類異常凸起的膜層相同的材料作為所述修補材料以填補所述挖孔。
31、可選的，在本申請的一些實施例中，去除所述異常凸起以形成挖孔，還包括以下步驟：
32、根據所述異常凸起的所述位置信息和所述輪廓信息，獲取所述挖孔的輪廓線信息并生成所述挖孔的第一輪廓線軌跡，所述挖孔的第一輪廓軌跡是基于所述異常凸起的輪廓線往外擴展第二距離形成，所述第二距離介于0.4微米至1微米之間；
33、判斷所述第一輪廓線軌跡是否在所述開口的內輪廓內；
34、若所述第一輪廓線軌跡在所述開口的內輪廓內，則根據所述第一輪廓線軌跡，去除所述異常凸起，以形成所述挖孔。
35、可選的，在本申請的一些實施例中，判斷所述第一輪廓線軌跡是否在所述開口的內輪廓內，之后還包括以下步驟：
36、若所述第一輪廓線軌跡的局部超出所述開口的內輪廓，則去除所述第一輪廓線軌跡超出所述開口的內輪廓的部分，生成第二輪廓線軌跡；
37、根據所述第二輪廓線軌跡，去除所述異常凸起，以形成所述挖孔。
38、可選的，在本申請的一些實施例中，所述修補材料采用噴墨打印的方式填補所述挖孔，采用激光的方式去除所述異常凸起。
39、相應的，本申請實施例還提供一種顯示面板，其包括：
40、驅動基板，包括平坦層、陽極和像素定義層，所述陽極設置在所述平坦層上，所述像素定義層設置在所述陽極上，所述像素定義層上開設有多個開口，一所述開口對應暴露一所述陽極，所述陽極上開設有挖孔，所述挖孔內填充有修補材料，所述修補材料與所述陽極的材料至少部分相同；
41、發光層，覆蓋所述陽極和所述修補材料；
42、陰極，覆蓋所述發光層。
43、可選的，在本申請的一些實施例中，所述陽極為單膜層，所述修補材料與所述陽極的材料一致；
44、或者，所述挖孔的深度大于或者等于所述陽極的厚度，所述陽極為至少兩層第一膜層堆疊形成，所述修補材料為至少兩層第二膜層堆疊形成，同層設置的所述第一膜層和所述第二膜層的材料相同；
45、或者，所述挖孔的深度大于或者等于所述陽極的厚度，所述陽極為至少兩層第一膜層堆疊形成，所述修補材料與所述陽極中厚度本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種顯示面板的制備方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，根據所述實時圖像和標準圖像的對比，識別出異常凸起并獲取所述異常凸起的位置信息，包括以下步驟：
3.根據權利要求2所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，判斷具有異常凸起之后，還包括步驟：
4.根據權利要求2或3所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，去除所述異常凸起，使得所述陽極對應于所述異常凸起的區域形成挖孔，包括如下步驟：
5.根據權利要求4所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，采用修補材料填補所述挖孔，包括以下步驟：
6.根據權利要求3所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，判斷第一區域的灰度值和第二區域的灰度值的差值是否處于設定范圍內，之后，還包括步驟：
7.根據權利要求6所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，去除所述異常凸起，使得所述陽極對應于所述異常凸起的區域形成挖孔，包括如下步驟：
8.根據權利要求2-3和6-7任意一項所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，去除所述異常凸起以形成
9.根據權利要求8所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，判斷所述第一輪廓線軌跡是否在所述開口的內輪廓內，之后還包括以下步驟：
10.根據權利要求9所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，所述修補材料采用噴墨打印的方式填補所述挖孔，采用激光的方式去除所述異常凸起。
11.一種顯示面板，其特征在于，包括：
12.根據權利要求11所述的顯示面板，其特征在于，所述陽極為單膜層，所述修補材料與所述陽極的材料一致；
...【技術特征摘要】
1.一種顯示面板的制備方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，根據所述實時圖像和標準圖像的對比，識別出異常凸起并獲取所述異常凸起的位置信息，包括以下步驟：
3.根據權利要求2所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，判斷具有異常凸起之后，還包括步驟：
4.根據權利要求2或3所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，去除所述異常凸起，使得所述陽極對應于所述異常凸起的區域形成挖孔，包括如下步驟：
5.根據權利要求4所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，采用修補材料填補所述挖孔，包括以下步驟：
6.根據權利要求3所述的顯示面板的制備方法，其特征在于，判斷第一區域的灰度值和第二區域的灰度值的差值是否處于設定范圍內，之后，還包括步驟：<...
【專利技術屬性】
技術研發人員：劉超凡，
申請(專利權)人：TCL華星光電技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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