【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及光學(xué)工程，特別提供了一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法及裝調(diào)工裝。
技術(shù)介紹
1、離軸反射鏡系統(tǒng)的反射鏡多采用非球面打破了的光學(xué)元件的球?qū)ΨQ性，使單個(gè)離軸反射鏡的自由度多達(dá)6個(gè)，且對(duì)像差的影響互相耦合，反射鏡對(duì)位置誤差敏感，裝調(diào)難度大，需要保證在調(diào)整離軸反射鏡時(shí)各個(gè)自由的相互獨(dú)立，以及能夠穩(wěn)定保持離軸反射鏡的位置和角度。由于離軸反射鏡存在橫滾，當(dāng)其橫滾角度與離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架橫滾角度相差較大時(shí)，會(huì)使出射光線偏離理論位置，使得后續(xù)光路裝調(diào)困難。在裝配后需要保證離軸反射鏡與離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架的橫滾角度一致，才能保證出射光線的位置。現(xiàn)有技術(shù)所提供的裝配方法很難保持一致。
2、因此，需要提供一種裝調(diào)方法以滿足需求。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)的目的在于提供一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法及裝調(diào)工裝，以保證離軸反射鏡與離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架的橫滾角度一致，以保證出射光線的位置。
2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采用如下技術(shù)方案：
3、一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，所述方法包括如下步驟：
4、s1：設(shè)計(jì)和加工計(jì)算全息元件，所述計(jì)算全息元件包括離軸反射鏡測(cè)量區(qū)和定位區(qū)，所述離軸反射鏡測(cè)量區(qū)用于測(cè)試主鏡的面型，所述定位區(qū)投射完善像點(diǎn)，用于確定計(jì)算全息元件的角度；
5、s2：設(shè)計(jì)和加工離軸反射鏡調(diào)整工裝，所述離軸反射鏡調(diào)整工裝用于實(shí)現(xiàn)離軸反射鏡的六自由度調(diào)整并限位；
6、s3：調(diào)整計(jì)算全息元件位置，使其與波前測(cè)試設(shè)備對(duì)準(zhǔn)；
7、s
8、s5：在離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架基準(zhǔn)面上放置靶球，測(cè)量靶球的位置，獲得靶球的第二位置；
9、s6：判斷靶球的第一位置和靶球的第二位置在橫滾方向上是否一致，若一致則進(jìn)行s7，若不一致，則調(diào)整離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架角度后返回s5；
10、s7：使用離軸反射鏡調(diào)整工裝調(diào)整離軸光學(xué)系統(tǒng)中主鏡的位置和角度，使得計(jì)算全息元件中的離軸反射鏡測(cè)量區(qū)的條紋為零條紋；
11、s8：以s7調(diào)整后的主鏡位置和角度作為調(diào)整基準(zhǔn)，調(diào)整次鏡的位置和角度，完成離軸光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)。
12、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，還具有這樣的特征，所述計(jì)算全息元件還包括用于對(duì)準(zhǔn)計(jì)算全息元件和波前測(cè)試設(shè)備的對(duì)準(zhǔn)區(qū)以及用于在主鏡處投射多個(gè)十字線作為初始定位基準(zhǔn)的粗定位區(qū)。
13、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，還具有這樣的特征，所述測(cè)量靶球的位置使用激光跟蹤儀進(jìn)行測(cè)量。
14、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，還具有這樣的特征，所述s7包括：
15、s7.1：用離軸反射鏡調(diào)整工裝調(diào)整離軸光學(xué)系統(tǒng)中主鏡的位置和角度，使得計(jì)算全息元件中的粗定位區(qū)投射的十字線分布在主鏡的邊緣；
16、s7.2：精確調(diào)整主鏡的位置和角度，使得計(jì)算全息元件中的離軸反射鏡測(cè)量區(qū)的條紋為零條紋。
17、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，還具有這樣的特征，所述s8包括：
18、s8.1：使用激光跟蹤儀和靶球測(cè)量離軸光學(xué)系統(tǒng)中的離軸反射鏡的距離和角度，調(diào)整次鏡的位置和角度，使得離軸反射鏡的距離和角度為理論值；
19、s8.2：將標(biāo)準(zhǔn)反射鏡與波前測(cè)試設(shè)備對(duì)準(zhǔn)；
20、s8.3：使用離軸反射鏡調(diào)整工裝微調(diào)離軸光學(xué)系統(tǒng)中次鏡的位置和角度，保證離軸光學(xué)系統(tǒng)的全視場(chǎng)波前滿足要求，完成離軸光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)。
21、本專利技術(shù)的另一目的在于，提供一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，所述裝調(diào)工裝用于實(shí)現(xiàn)前述任一項(xiàng)所述的裝調(diào)方法。
22、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，還具有這樣的特征，所述裝調(diào)工裝包括連接的精調(diào)部件和粗調(diào)部件，
23、所述粗調(diào)部件包括支架、以及依次固定在支架上的用于粗略調(diào)整前后的前后粗調(diào)板、用于粗略調(diào)整高度的高度調(diào)整墊片以及用于粗略調(diào)整左右的左右粗調(diào)板，所述精調(diào)部件固定在左右粗調(diào)板上，
24、所述精調(diào)部件包括用于連接離軸反射鏡的反射鏡連接軸、用于調(diào)整離軸反射鏡橫滾的橫滾調(diào)整組件、用于調(diào)整離軸反射鏡上下左右平移的平移調(diào)整組件，用于調(diào)整離軸反射鏡前后位移的前后調(diào)整組件、用于調(diào)整離軸反射鏡方位和俯仰的方位俯仰調(diào)整組件、用于鎖緊離軸反射鏡的鎖緊組件以及用于在調(diào)整離軸反射鏡前后移動(dòng)時(shí)起到導(dǎo)向作用的光杠。
25、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，還具有這樣的特征，所述粗調(diào)部件還包括用于前后粗調(diào)板、高度調(diào)整墊片和左右粗調(diào)板定位的定位銷釘以及用于固定前后粗調(diào)板、高度調(diào)整墊片和左右粗調(diào)板的螺釘，
26、所述支架和所述前后粗調(diào)板設(shè)有靠面。
27、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，還具有這樣的特征，所述橫滾調(diào)整組件包括第一軸承以及用于壓緊第一軸承的第一軸承內(nèi)外壓圈；
28、所述平移調(diào)整組件包括通過橫滾調(diào)整組件與反射鏡連接軸連接的第一平移框架、與前后調(diào)整組件固定連接的第二平移框架以及安裝在第二平移框架上用于調(diào)整第一平移框架上下左右平移的平移頂絲；
29、所述前后調(diào)整組件包括與所述平移調(diào)整組件固定連接的第二軸承、用于壓緊第二軸承的第二軸承內(nèi)外壓圈、與第二軸承連接的第一前后框架、與第一前后框架通過螺紋連接的第二前后框架以及用于固定第二軸承的前后鎖緊頂絲，所述第二前后框架與所述方位俯仰調(diào)整組件連接；
30、所述方位俯仰調(diào)整組件包括與所述前后調(diào)整組件以及粗調(diào)部件連接的傾斜框架、安裝在傾斜框架上用于調(diào)整離軸反射鏡的方位和俯仰的傾斜頂絲及彈簧，所述傾斜框架通過彈簧與所述前后調(diào)整組件連接。
31、本專利技術(shù)所提供的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，還具有這樣的特征，所述鎖緊組件包括用于固定第一軸承的橫滾鎖緊頂絲。
32、有益效果
33、本專利技術(shù)所提供的裝調(diào)方法，設(shè)計(jì)加工計(jì)算全息元件，使用計(jì)算全息元件檢測(cè)和確定主鏡的面型位置，使用激光跟蹤儀和標(biāo)準(zhǔn)球確定離軸光學(xué)系統(tǒng)的框架位置，設(shè)計(jì)和使用離軸反射鏡調(diào)整工裝調(diào)整次鏡，使離軸光學(xué)系統(tǒng)的全視場(chǎng)波前滿足要求。
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1.一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述計(jì)算全息元件還包括用于對(duì)準(zhǔn)計(jì)算全息元件和波前測(cè)試設(shè)備的對(duì)準(zhǔn)區(qū)以及用于在主鏡處投射多個(gè)十字線作為初始定位基準(zhǔn)的粗定位區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述測(cè)量靶球的位置使用激光跟蹤儀進(jìn)行測(cè)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述S7包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述S8包括：
6.一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，其特征在于，所述裝調(diào)工裝用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的裝調(diào)方法。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，其特征在于，所述裝調(diào)工裝包括連接的精調(diào)部件和粗調(diào)部件，
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，其特征在于，所述粗調(diào)部件還包括用于前后粗調(diào)板、高度調(diào)整墊片和左右粗調(diào)板定位的定位銷釘以及用于固定前后粗調(diào)板、高度調(diào)整墊片和左右粗調(diào)板的螺釘，
9.根據(jù)
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，其特征在于，所述鎖緊組件包括用于固定第一軸承的橫滾鎖緊頂絲。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述計(jì)算全息元件還包括用于對(duì)準(zhǔn)計(jì)算全息元件和波前測(cè)試設(shè)備的對(duì)準(zhǔn)區(qū)以及用于在主鏡處投射多個(gè)十字線作為初始定位基準(zhǔn)的粗定位區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述測(cè)量靶球的位置使用激光跟蹤儀進(jìn)行測(cè)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述s7包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)方法，其特征在于，所述s8包括：
6.一種離軸光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工裝，其特征在于，所述裝調(diào)工裝用于實(shí)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：宋鵬，李傳凱，張熙豪，張宇暉，鄭雅卓，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中國航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽電光設(shè)備研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：
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