【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及數據測試，尤其涉及一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法及系統。
技術介紹
1、數字信號測試儀是數字、數模混合和微波集成電路測試系統中的核心設備，為數字和混合信號集成電路(ic)設計、驗證和生產提供測試環境。數字信號測試儀主要生成由0(低電平)、1(高電平)、x(不驅動)、l(期望低電平)、h(期望高電平)等組成的數字測試向量信號，或稱數字激勵信號。一方面可以為被測集成電路提供多通道動態數字測試向量信號；另一方面，可以采集被測集成電路的響應信號，判斷集成電路是否存在故障。
2、在芯片量產測試階段，為了滿足量產的測試需求，對集成電路測試系統的測試效能具有極高的要求。傳統的pxi總線數字信號測試儀測試過程，具有以下缺點：
3、1)多工位測試程序開發周期長：每個測試工位需要開發相應的測試程序，測試程序需要配置被測件管腳與數字信號測試儀通道連接關系、通道時序、通道電平等信息，并需要搭建復雜的測試向量，開發工作量大、代碼冗余，開發人員修改和維護困難；
4、2)測試儀器資源浪費：傳統測試方法一個測試工位需要一臺或多臺測試儀器，測試儀器的通道無法充分利用，造成資源浪費；
5、3)同步效果差，測試效率低：測試系統實現多工位同步并行測試，相比測試儀器內部實現并行同步測試，同步效果差，測試效率低。
技術實現思路
1、為了解決上述問題，本專利技術提出了一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法及系統，提出被測件管腳-工位-測試模塊映射模型
2、為了實現上述目的，本專利技術采用如下技術方案：
3、第一方面，本專利技術提供一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，包括：
4、根據待測件的測試需求，梳理被測件管腳、工位序號、測試模塊序號、通道序號之間的對應關系，建立待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系；
5、根據所述映射關系，對待測件管腳進行一次參數配置，基于映射關系將配置好的參數同步分發至對應的測試工位及測試通道；
6、執行測試，根據所述映射模型選擇部分或全部的測試工位同步并行測試，同步發送測試向量和檢測接收采集數據；按照測試工位進行測試結果判斷和分析，根據映射關系將響應信號基于相應工位傳輸給相應測試通道，用于測試結果采集與分析。
7、優選地，所述根據待測件的測試需求，梳理被測件管腳、工位序號、測試模塊序號、通道序號之間的對應關系，建立待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系，具體包括：
8、將被測件管腳、測試工位和測試模塊作為節點，根據不同測試需求場景下具體的測試需求，進行各個被測件管腳與測試工位以及測試模塊之間的連接，得到連接規律；
9、根據所述連接規律，針對不同的測試需求場景，確定映射關系。
10、優選地，所述映射關系包括一個工位映射一個模塊、一個工位映射多個模塊、多個工位映射一個模塊和多個工位映射多個模塊；
11、所述一個工位映射一個模塊的映射關系，應用于只需單個測試工位且待測件管腳數量與測試模塊通道數量一致的測試需求：每個測試工位使用一個測試模塊，待測件管腳依次與測試模塊的通道連接；
12、所述一個工位映射多個模塊的映射關系，應用于只需單個測試工位且待測件管腳數量多需多個測試模塊協同測試的測試需求：每個測試工位使用多個測試模塊，待測件管腳依次與各個測試模塊的通道連接，多個測試模塊同步工作；
13、所述多個工位映射一個模塊的映射關系，應用于待測件管腳數量少，僅使用單個測試模塊即可完成多工位測試的測試需求：多個測試工位共用一個測試模塊，多個待測件依次與該測試模塊的不同通道進行連接；
14、所述多個工位映射多個模塊的映射關系，應用于測試邏輯和連接關系復雜的測試需求：每個測試工位對應多個測試模塊的通道，每個測試工位的測試需多個測試模塊協同，且每個測試模塊包含多個工位的測試。
15、優選地，所述根據所述映射關系，對待測件管腳進行一次參數配置，基于映射關系將配置好的參數同步分發至對應的測試工位及測試通道，具體包括：
16、將待測件管腳作為主線進行一次時序、電平、測試向量的參數配置，基于映射關系識別出與該管腳相關聯的測試工位及對應的測試通道，同步完成參數配置。
17、優選地，所述測試向量信號包括低電平信號、高電平信號、不驅動信號、期望低電平信號和期望高電平信號。
18、優選地，所述測試結果按照測試工位分別進行存儲，且能夠依據需求選擇查看特定測試工位的測試結果。
19、優選地，還包括：將本次測試建立的待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系保存至本地文件，以供下次測試時調用。
20、第二方面，本專利技術提供一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試系統，包括：
21、映射關系構建模塊，用于根據待測件的測試需求，梳理被測件管腳、工位序號、測試模塊序號、通道序號之間的對應關系，建立待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系；
22、參數配置模塊，用于根據所述映射關系，對待測件管腳進行一次參數配置，基于映射關系將配置好的參數同步分發至對應的測試工位及測試通道；
23、測試與分析模塊，用于執行測試，根據所述映射關系選擇部分或全部的測試工位同步并行測試，同步發送測試向量和檢測接收采集數據；按照測試工位進行測試結果判斷和分析，根據映射關系將響應信號基于相應工位傳輸給相應測試通道，用于結果采集與分析。
24、第三方面，本專利技術提供一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該程序被處理器執行時實現第一方面所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法中的步驟。
25、第四方面，本專利技術提供一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述程序時實現第一方面所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法中的步驟。
26、與現有技術相比，本專利技術的有益效果為：
27、本專利技術根據不同測試需求場景下具體的測試需求，構建待測件管腳-工位-測試模塊的映射模型并確定多種映射關系，開發人員依管腳需求選擇關系并以其為核心一次配置參數，即可同步分發至工位與通道，免去各工位獨立開發程序、配置大量信息及搭建復雜向量的繁瑣，減少工作量與冗余，縮短開發周期。同時，靈活的映射關系可依實際情況靈活配置儀器通道，多工位共用或單工位多模塊等，且按需選工位測試，動態分配資源，提高資源利用率。此外，借助多工位同步并行測試的模式，有效縮短了整體的測試時間，使測試流程在開發與執行環節均得到優化與加速。
28、本專利技術附本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述根據待測件的測試需求，梳理被測件管腳、工位序號、測試模塊序號、通道序號之間的對應關系，建立待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系，具體包括：
3.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述映射關系包括一個工位映射一個模塊、一個工位映射多個模塊、多個工位映射一個模塊和多個工位映射多個模塊；
4.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述根據所述映射關系，對待測件管腳進行一次參數配置，基于映射關系將配置好的參數同步分發至對應的測試工位及測試通道，具體包括：
5.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述測試向量信號包括低電平信號、高電平信號、不驅動信號、期望低電平信號和期望高電平信號。
6.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述測試結
7.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，還包括：將本次測試建立的待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系保存至本地文件，以供下次測試時調用。
8.一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試系統，其特征在于，包括：
9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述程序被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一項所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法中的步驟。
10.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1-7中任一項所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法中的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述根據待測件的測試需求，梳理被測件管腳、工位序號、測試模塊序號、通道序號之間的對應關系，建立待測件管腳-工位-測試模塊的映射關系，具體包括：
3.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述映射關系包括一個工位映射一個模塊、一個工位映射多個模塊、多個工位映射一個模塊和多個工位映射多個模塊；
4.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述根據所述映射關系，對待測件管腳進行一次參數配置，基于映射關系將配置好的參數同步分發至對應的測試工位及測試通道，具體包括：
5.如權利要求1所述的一種基于數字信號測試儀的多工位并行測試方法，其特征在于，所述測試向量信號包括低電平信號、高電平信號、不驅動信號、期望低電平信...
【專利技術屬性】
技術研發人員：曹光磊，年夫順，董繼剛，唐建立，張海慶，徐寶令，
申請(專利權)人：中電科思儀科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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