【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電路量子電動力學領域，尤其涉及一種超導電流密度的測量方法、控制系統、存儲介質及電子設備。
技術介紹
1、非常規超導的配對機制是物理學中一個尚未完全揭示的謎題。與常規超導不同，非常規超導材料能夠在相對較高的溫度下表現出超導性質，這為超導技術的應用提供了更多可能性。然而，這些高溫超導材料的超導機制一直以來都是科學界的一個挑戰。理論上預測，超導電流的溫度依賴性直接反映了準粒子態密度的能量依賴性，從而反映了超導序參數的節點結構。
2、常用測量超導電流密度的技術方法是通過考慮其與穿透深度的基本聯系來進行的，即λ-2＝μ0ρs。然后使用一些成熟的實驗技術直接測量穿透深度的溫度依賴，例如雙線圈互感、隧道二極管振蕩器、近鄰二極管振蕩器或腔體擾動測量等。事實上，這些測量已被證明是識別和探測非傳統超導體的極為有效的工具，尤其是對銅酸鹽中d波序參數的識別至關重要。
3、傳統的超導電流密度測量技術存在一個主要限制，即測量信號的大小直接受到樣品體積的影響。當樣品體積非常小時，測量信號會變得非常微弱，甚至無法進行有效測量。這限制了現有技術在介觀尺度(即微納米級別尺度)樣品上進行超導電流密度測量的能力。同時，隨著二維非傳統超導材料(如摩爾石墨烯和其他范德華材料)的出現，傳統測量技術無法滿足對這些新材料超導電流密度測量的需求。這些新材料可能具有與傳統材料不同的物理性質和超導機制，因此需要新的測量技術來準確表征其超導電流密度。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是為了解決現有技
2、為了實現上述目的，本專利技術采用了如下技術方案：一種超導電流密度的測量方法，包括：
3、確定待測樣品的超導電流密度與動態電感的對應關系，將待測樣品連接諧振電路；
4、獲取動態電感，根據所述動態電感確定諧振頻率；
5、監測所述諧振頻率，根據所述諧振頻率的變化確定所述動態電感的變化，再根據所述對應關系得到與所述諧振頻率對應的所述超導電流密度。
6、作為上述技術方案的進一步描述：根據所述待測樣品的橫截面積與長度的比值，確定所述超導電流密度與所述動態電感的對應關系。
7、作為上述技術方案的進一步描述：所述諧振電路包括諧振腔電感和所述待測樣品的動態電感，所述諧振腔電感與所述動態電感串聯。
8、作為上述技術方案的進一步描述：所述諧振電路還包括一與所述諧振腔電感和所述動態電感并聯的電容，所述電容的一端接地。
9、作為上述技術方案的進一步描述：所述諧振電路的參數包括溫度和外部磁場，在初始狀態下，溫度為常溫、外部磁場為零，對所述諧振電路的總電感進行計算，得到第一結果；
10、改變所述溫度和/或外部磁場，對總電感進行計算得到第二結果。
11、作為上述技術方案的進一步描述：基于所述第一結果和所述第二結果，通過計算得到動態電感的變化值和初始狀態下的總電感的比值與諧振頻率的變化值和初始狀態下諧振頻率的比值的關系，實現在監測所述諧振頻率變化時，根據所述諧振頻率的變化確定所述動態電感的變化。
12、作為上述技術方案的進一步描述：所述待測樣品尺寸為介觀尺度。
13、還包括一種控制系統，所述控制系統適用于上述技術方案中任一項所述的測量方法，包括：
14、采集模塊，對諧振電路的諧振頻率進行采集；
15、調節模塊，調節諧振電路的溫度或外部磁場，控制所述待測樣品的動態電感變化；
16、監測模塊，通過監測諧振頻率的變化，確定超導電流密度的變化，并輸出一變化結果。
17、還包括一種計算機可讀存儲介質，其存儲用于運行測量方法的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行如上述技術方案中任一項所述的測量方法。
18、還包括一種電子設備，包括：
19、一個或多個處理器；存儲器；以及
20、一個或多個程序，其中所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被配置成由所述一個或多個處理器執行，所述程序包括用于執行如上述技術方案中任一項所述的測量方法。
21、上述技術方案具有如下優點或有益效果：
22、1、通過監測諧振頻率的變化，基于所述第一結果和所述第二結果，通過計算得到動態電感的變化值和初始狀態下的總電感的比值與諧振頻率的變化值和初始狀態下諧振頻率的比值的關系，根據超導電流密度與動態電感的對應關系，將超導電流密度的變化與實驗中可測量的電路諧振頻率聯系起來，通過監測諧振頻率隨溫度或磁場的變化，可以直接監測超導電流密度的變化，實現對超導電流密度的精確測量。
23、2、本申請設計的測量方法不受待測樣品體積大小的限制，能夠在介觀尺度(微納米級別)的樣品上進行超導電流密度的精確測量，克服了傳統技術中因信號微弱而導致的測量不準確的問題。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種超導電流密度的測量方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：根據所述待測樣品的橫截面積與長度的比值，確定所述超導電流密度與所述動態電感的對應關系。
3.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路包括諧振腔電感和所述待測樣品的動態電感，所述諧振腔電感與所述動態電感串聯。
4.根據權利要求3所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路還包括一與所述諧振腔電感和所述動態電感并聯的電容，所述電容的一端接地。
5.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路的參數包括溫度和外部磁場，在初始狀態下，溫度為常溫、外部磁場為零，對所述諧振電路的總電感進行計算，得到第一結果；
6.根據權利要求5所述的測量方法，其特征在于：基于所述第一結果和所述第二結果，通過計算得到動態電感的變化值和初始狀態下的總電感的比值與諧振頻率的變化值和初始狀態下諧振頻率的比值的關系，實現在監測所述諧振頻率變化時，根據所述諧振頻率的變化確定所述動態電感的變化。
7.根據權利要求1所述的測量方法，其特
8.一種控制系統，其特征在于，所述控制系統適用于上述權利要求1-7中任一項所述的測量方法，包括：
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，其存儲用于運行測量方法的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行如權利要求1-7任一項所述的測量方法。
10.一種電子設備，其特征在于，包括：
...【技術特征摘要】
1.一種超導電流密度的測量方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：根據所述待測樣品的橫截面積與長度的比值，確定所述超導電流密度與所述動態電感的對應關系。
3.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路包括諧振腔電感和所述待測樣品的動態電感，所述諧振腔電感與所述動態電感串聯。
4.根據權利要求3所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路還包括一與所述諧振腔電感和所述動態電感并聯的電容，所述電容的一端接地。
5.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：所述諧振電路的參數包括溫度和外部磁場，在初始狀態下，溫度為常溫、外部磁場為零，對所述諧振電路的總電感進行計算，得到第一結果；
<...【專利技術屬性】
技術研發人員：應江華，孫曉培，王志川，李志遠，王碧瑩，辜剛旭，
申請(專利權)人：量子科技長三角產業創新中心，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。