【技術實現步驟摘要】
本技術屬于超導測試領域，具體涉及一種傳導冷卻超導磁體測試裝置。
技術介紹
1、現有的超導磁體測試裝置繁多，比如中國專利申請cn202110098031.5(一種直冷高溫超導磁體測試平臺及裝配方法)，其僅包括制冷機和外杜瓦，不包括室溫測試杜瓦。中國專利申請cn201610980439.4(一種低溫下超導磁體動態測量裝置及測量方法)，僅包括測量工作臺和測磁工裝機構，也不包含杜瓦裝置。
2、上述專利申請具有如下技術問題：
3、1.不能滿足傳導冷卻磁體在低溫環境下的測試；
4、2.不能提供室溫環境的測試空間，不能提供低溫環境的測試空間，或不能同時提供室溫環境和低溫環境的測試空間。
技術實現思路
1、為解決上述技術問題，本技術提供一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，包括gm制冷機、外杜瓦真空腔、外杜瓦冷屏層、超導磁體裝載盤、超導磁體拉桿、超導磁體導冷帶、室溫插件和頂部法蘭，可提供低溫環境的測試空間，也可以提供室溫環境的測試空間。
2、為達到上述目的，本技術采用如下技術方案：
3、一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，包括gm制冷機、外杜瓦真空腔、外杜瓦冷屏層、超導磁體裝載盤、超導磁體拉桿、超導磁體導冷帶、室溫插件和頂部法蘭，其中gm制冷機插入測試裝置的部分包含一級冷頭和二級冷頭；包括多個測試接口，分別為真空測試接口、溫度測試接口、失超監測接口、勵磁和退磁接口；外杜瓦真空腔和頂部法蘭通過o圈密封和螺栓連接，外杜瓦冷屏層和超導磁體裝載盤均通過g10玻
4、進一步地，所述傳導冷卻超導磁體測試裝置滿足直徑500mm、高度500mm以內尺寸的傳導冷卻超導磁體在4.2k低溫環境下的廣泛測試。
5、進一步地，測試中所需的傳感器安裝在超導磁體線圈上，連接傳感器的通訊線纜通過傳導冷卻超導磁體測試裝置的頂部法蘭的預留接口通往外部控制儀器儀表，通過外部控制儀器儀表采集數據并導出結果。
6、進一步地，超導磁體的冷卻功率由制冷機的二級冷頭提供，外杜瓦冷屏層的冷卻功率由一級冷頭提供；二級冷頭通過超導磁體導冷帶傳導冷量，二級冷頭的溫度為4.2k；一級冷頭通過連接頂部法蘭傳導冷量，一級冷頭的溫度為50k。
7、進一步地，超導磁體的電流引線、溫度傳感器引線、壓力測量引線、失超監測引線通過頂部法蘭的測試接口引出。
8、進一步地，所述室溫插件為真空復合腔部件，實現室溫測試環境，室溫測試環境支持插入室溫插件，通過頂部法蘭上預留的測試孔插入室溫插件；當不使用室溫插桿時，測試孔使用法蘭蓋進行密封。
9、進一步地，在低溫測試環境時取出室溫插件，在頂部法蘭的測試接口處安裝低溫測試桿。
10、有益效果：
11、1.本技術為可重復使用的傳導冷卻超導磁體測試裝置，針對傳導冷卻磁體測試具備通用性、快速測試等優勢。
12、2.本技術配置了室溫插件，可以提供低溫環境的測試空間，也可以提供室溫環境的測試空間。
13、3.本技術測試裝置提供豐富的接口，可以開展溫度、真空、勵磁、失超、退磁等多種超導磁體測試。
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1.一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，包括GM制冷機、外杜瓦真空腔、外杜瓦冷屏層、超導磁體裝載盤、超導磁體拉桿、超導磁體導冷帶、室溫插件和頂部法蘭，其中GM制冷機插入測試裝置的部分包含一級冷頭和二級冷頭；包括多個測試接口，分別為真空測試接口、溫度測試接口、失超監測接口、勵磁和退磁接口；外杜瓦真空腔和頂部法蘭通過o圈密封和螺栓連接，外杜瓦冷屏層和超導磁體裝載盤均通過G10玻纖桿材質的超導磁體拉桿吊裝在頂部法蘭上，GM制冷機的一級冷頭和二級冷頭安裝在頂部法蘭上，一級冷頭和二級冷頭伸入到外杜瓦真空腔，分別與外杜瓦冷屏層和超導磁體導冷帶連接；作為測試對象的超導磁體安裝在超導磁體裝載盤上，通過連接超導磁體導冷帶傳遞冷量；超導磁體上的所有測試線纜通過頂部法蘭上預留的測試接口引出，并連接到外部測試儀器儀表上。
2.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，所述傳導冷卻超導磁體測試裝置滿足直徑500mm、高度500mm以內尺寸的傳導冷卻超導磁體在4.2k低溫環境下的廣泛測試。
3.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，測
4.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，超導磁體的冷卻功率由制冷機的二級冷頭提供，外杜瓦冷屏層的冷卻功率由一級冷頭提供；二級冷頭通過超導磁體導冷帶傳導冷量，二級冷頭的溫度為4.2k；一級冷頭通過連接頂部法蘭傳導冷量，一級冷頭的溫度為50k。
5.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，超導磁體的電流引線、溫度傳感器引線、壓力測量引線、失超監測引線通過頂部法蘭的測試接口引出。
6.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，所述室溫插件為真空復合腔部件，實現室溫測試環境，室溫測試環境支持插入室溫插件，通過頂部法蘭上預留的測試孔插入室溫插件；當不使用室溫插桿時，測試孔使用法蘭蓋進行密封。
7.根據權利要求6所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，在低溫測試環境時取出室溫插件，在頂部法蘭的測試接口處安裝低溫測試桿。
...【技術特征摘要】
1.一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，包括gm制冷機、外杜瓦真空腔、外杜瓦冷屏層、超導磁體裝載盤、超導磁體拉桿、超導磁體導冷帶、室溫插件和頂部法蘭，其中gm制冷機插入測試裝置的部分包含一級冷頭和二級冷頭；包括多個測試接口，分別為真空測試接口、溫度測試接口、失超監測接口、勵磁和退磁接口；外杜瓦真空腔和頂部法蘭通過o圈密封和螺栓連接，外杜瓦冷屏層和超導磁體裝載盤均通過g10玻纖桿材質的超導磁體拉桿吊裝在頂部法蘭上，gm制冷機的一級冷頭和二級冷頭安裝在頂部法蘭上，一級冷頭和二級冷頭伸入到外杜瓦真空腔，分別與外杜瓦冷屏層和超導磁體導冷帶連接；作為測試對象的超導磁體安裝在超導磁體裝載盤上，通過連接超導磁體導冷帶傳遞冷量；超導磁體上的所有測試線纜通過頂部法蘭上預留的測試接口引出，并連接到外部測試儀器儀表上。
2.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，所述傳導冷卻超導磁體測試裝置滿足直徑500mm、高度500mm以內尺寸的傳導冷卻超導磁體在4.2k低溫環境下的廣泛測試。
3.根據權利要求1所述的一種傳導冷卻超導磁體測試裝置，其特征在于，測試中所需...
【專利技術屬性】
技術研發人員：周超，吳樂平，
申請(專利權)人：中國科學院合肥物質科學研究院，
類型：新型
國別省市：
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