【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及玻璃基板制造，具體涉及一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法及抑制方法。
技術介紹
1、在tft-lcd（薄膜晶體管顯示器）平板顯示器的制造領域，所用的玻璃基板一般采用溢流下拉的方法制造，該方法將玻璃熔化爐中熔融的玻璃液供給至熔融溢流下拉成型裝置，以高效生產高質量的玻璃基板。隨著生產線的不斷升級，玻璃基板的尺寸日益擴大，引出量也顯著增加，這對生產過程中的質量控制，特別是玻璃引板穩(wěn)定性的保障，提出了更為嚴峻的挑戰(zhàn)。因此，有效控制玻璃基板制造過程中的缺陷形成，成為了提升產品品質與生產效率的關鍵所在。
2、在玻璃基板的制造過程中，攪拌均化的玻璃熔液經(jīng)過供料排氣直管、l管供給溢流槽，經(jīng)過溢流堰向兩側分流并于溢流磚根部熔合、向下拉引成型，形成目標規(guī)格厚度的玻璃基板。然而，暴露于工廠氛圍的供料排氣直管、l管結合區(qū)存在兩個渦旋區(qū)，渦旋區(qū)的渦流模式影響該區(qū)域液面的玻璃質量，如形成異態(tài)玻璃層和氮氣泡缺陷。因此，渦旋區(qū)的渦流模式對玻璃液面的穩(wěn)定性與質量具有重要影響。渦旋的強度、范圍及其動態(tài)變化直接關系到玻璃液面是否會出現(xiàn)異態(tài)玻璃層和氮氣泡。玻璃基板遠近端、表面和粘合線與供料排氣直管截面、l管截面具有對應的位置關系。利用該位置關系，可以控制將玻璃渦旋區(qū)的缺陷導入到玻璃基板非重要的區(qū)域，如遠近端邊板、粘合線等，從而避免它們出現(xiàn)在基板的有用區(qū)域，特別是表面，進而防止缺陷的周期性出現(xiàn)對玻璃基板成型質量造成的不利影響。
3、亮線是玻璃基板中的一種嚴重影響玻璃基板品質的結構缺陷，其寬度一般在50mm以內，厚度極差也常在微米級別
4、因此，針對已經(jīng)設計定型，但存在結構設計缺陷的供料排氣直管，如何提供一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法及抑制方法，基于供料結構設計控制玻璃基板亮線缺陷的產生，已成為當前本領域技術人員亟待攻克的技術難題。
技術實現(xiàn)思路
1、本專利技術的目的在于提供一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法及抑制方法，以克服由供料排氣直管的結構設計缺陷所引發(fā)的亮線問題。
2、本專利技術通過下述技術方案來解決上述技術問題：
3、一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，包括以下步驟：
4、獲取與供料結構相關的參數(shù)，包括主玻璃流過渡區(qū)的肩高和供料排氣直管的直徑液面高度；根據(jù)供料排氣直管的液面與主玻璃流的位置關系，設置氮氣泡必然形成的液面高度；基于直徑、肩高，通過流體仿真獲取供料排氣直管中異態(tài)玻璃層形成相關的內部渦旋高度；基于內部渦旋與主玻璃流的位置關系，計算氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度；
5、基于氮氣泡和異態(tài)玻璃層形成的原理，根據(jù)供料排氣直管的液面高度與氮氣泡必然形成的液面高度、內部渦旋高度及氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度之間的關系，分析玻璃基板亮線缺陷的形成情況，其中，氮氣泡使液面失衡導致異態(tài)玻璃層撕裂是玻璃基板亮線缺陷形成的充分條件。
6、進一步地，設置氮氣泡必然形成的液面高度。
7、進一步地，當直徑、肩高分別滿足如下關系時：
8、
9、
10、通過流體仿真獲取內部渦旋高度，具體為：。
11、進一步地，當時，由于供料排氣直管的液面與主玻璃流距離過近，主玻璃流的任何工藝波動或其它非穩(wěn)定動作，都將使供料排氣直管的液面靠近壁面處產生氮氣泡，此時，，內部渦旋與供料排氣直管的液面重合，使供料排氣直管的液面完全活性，形成異態(tài)玻璃層的概率為0，不存在氮氣泡使液面失衡導致異態(tài)玻璃層撕裂，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷。
12、進一步地，當時，具體包括：
13、計算氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，
14、當時，雖然供料排氣直管的液面靠近壁面處產生氮氣泡的概率將隨著供料排氣直管的液面高度增大而逐漸降低，但是，由于供料排氣直管的液面高度未超過氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，仍存在主玻璃流的任何工藝波動或其它非穩(wěn)定動作，使供料排氣直管的液面靠近壁面處偶發(fā)氮氣泡；其中，當時，內部渦旋與供料排氣直管的液面重合，使供料排氣直管的液面完全活性，形成異態(tài)玻璃層的概率為0，不存在氮氣泡使液面失衡導致異態(tài)玻璃層撕裂，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷；但是，當時，靠近供料排氣直管液面的玻璃趨向如同死水，經(jīng)長時間循環(huán)，將形成異態(tài)玻璃層，因此，存在氮氣泡使液面失衡導致異態(tài)玻璃層撕裂，形成玻璃基板亮線缺陷的情況；
15、當時，由于，靠近供料排氣直管液面的玻璃趨向如同死水，經(jīng)長時間循環(huán)，將形成異態(tài)玻璃層；但是，由于供料排氣直管的液面高度超過氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，不存在氮氣泡使液面失衡的情況，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷。
16、進一步地，當時，具體包括：
17、計算氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，
18、當時，雖然供料排氣直管的液面靠近壁面處產生氮氣泡的概率將隨著供料排氣直管的液面高度增大而逐漸降低，但是，由于供料排氣直管的液面高度未超過氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，仍存在主玻璃流的任何工藝波動或其它非穩(wěn)定動作，使供料排氣直管的液面靠近壁面處偶發(fā)氮氣泡，此時，，內部渦旋與供料排氣直管的液面重合，使供料排氣直管的液面完全活性，形成異態(tài)玻璃層的概率為0，不存在氮氣泡使液面失衡導致異態(tài)玻璃層撕裂，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷；
19、當時，供料排氣直管的液面高度超過氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，不存在氮氣泡使液面失衡的情況，并且，，內部渦旋與供料排氣直管的液面重合，使供料排氣直管的液面完全活性，形成異態(tài)玻璃層的概率為0，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷；
20、當時，靠近供料排氣直管液面的玻璃趨向如同死水，經(jīng)長時間循環(huán)，將形成異態(tài)玻璃層，但是，供料排氣直管的液面高度超過氮氣泡偶發(fā)形成的液面高度，不存在氮氣泡使液面失衡的情況，因此，不會形成玻璃基板亮線缺陷。
21、進一步地，所述主玻璃流的任何工藝波動或其它非穩(wěn)定動作具體包括：池爐爐壓波動、池爐液面波動、攪拌槽更換蓋板磚+洗棒、引出量或粘溫調整及環(huán)境氣流突變情況。
22、一種抑制玻璃基板亮線缺陷形成的方法，基于上述玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，當內部渦旋高度為：時，控制供料排氣直管的液面高度，使，抑制玻璃基板亮線缺陷形成。
23、進一步地，當直徑=60?mm，肩高=47.55?mm時，通過流體仿真獲取內本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術保護點】
1.一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權利要求1所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，設置氮氣泡必然形成的液面高度。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當直徑、肩高分別滿足如下關系時：
4.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，
5.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當時，具體包括：
6.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當時，具體包括：
7.根據(jù)權利要求1~6任一所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，所述主玻璃流的任何工藝波動或其它非穩(wěn)定動作具體包括：池爐爐壓波動、池爐液面波動、攪拌槽更換蓋板磚+洗棒、引出量或粘溫調整及環(huán)境氣流突變情況。
8.一種抑制玻璃基板亮線缺陷形成的方法，其特征在于，基于上述權利要求5或6所述的玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，當內部渦旋高度為：時，控制供料排氣直管的液面
9.?根據(jù)權利要求8所述的一種抑制玻璃基板亮線缺陷形成的方法，其特征在于，當直徑=60?mm，肩高=47.55?mm時，通過流體仿真獲取內部渦旋高度，具體為，控制供料排氣直管的液面高度為：。
10.?根據(jù)權利要求8所述的一種抑制玻璃基板亮線缺陷形成的方法，其特征在于，當直徑=50?mm，肩高=76?mm時，通過流體仿真獲取內部渦旋高度，具體為，控制供料排氣直管的液面高度為：。
...【技術特征摘要】
1.一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權利要求1所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，設置氮氣泡必然形成的液面高度。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當直徑、肩高分別滿足如下關系時：
4.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，
5.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當時，具體包括：
6.根據(jù)權利要求3所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，當時，具體包括：
7.根據(jù)權利要求1~6任一所述的一種玻璃基板亮線缺陷形成的分析方法，其特征在于，所述主玻璃流的任何工藝波動或其它非...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：李孟虎，侯宏榮，王蒼龍，
申請(專利權)人：彩虹顯示器件股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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