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【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體制造,尤其涉及一種鍵合設(shè)備和鍵合方法。
技術(shù)介紹
1、在半導(dǎo)體鍵合過(guò)程中,鍵合波通常自待鍵合對(duì)象的中心向邊緣擴(kuò)散,且待鍵合對(duì)象的間隙中的氣體被推向邊緣,由此導(dǎo)致待鍵合對(duì)象的邊緣位置處容易產(chǎn)生水滴或水泡,因而鍵合良率較低,生產(chǎn)效率較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N鍵合設(shè)備和鍵合方法,能夠在鍵合過(guò)程中有效地降低在待鍵合對(duì)象的邊緣處形成水滴的可能性,提高鍵合良率以及生產(chǎn)效率。
2、為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)第一方面提供一種鍵合設(shè)備,用于將第一元件與第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合,所述鍵合設(shè)備包括:拾取裝置,用于拾取待鍵合的第一元件,并將所述第一元件移動(dòng)至與所述第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合;承載臺(tái),用于承載所述第二元件;以及邊緣溫度控制裝置,用于在所述第一元件鍵合至所述第二元件的過(guò)程中對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣加熱,以使所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣處的氣體溫度升高。
3、一些實(shí)施例中,所述邊緣溫度控制裝置包括:輻射發(fā)射器,用于根據(jù)輻射強(qiáng)度發(fā)射輻射波;輻射反射器,用于接收由所述輻射發(fā)射器發(fā)射的輻射波的至少部分,獲取接收到的所述輻射波的至少部分的能量信號(hào),并將接收到的所述輻射波的至少部分反射至所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣;以及控制器,與所述輻射發(fā)射器和所述輻射反射器連接,用于根據(jù)所述能量信號(hào)設(shè)定所述輻射強(qiáng)度。
4、一些實(shí)施例中,所述輻射反射器包括至少一個(gè)反射部,且至少一個(gè)所述反射部圍設(shè)于所述承載臺(tái)和所述拾取裝置中的一者的外周緣;以及所
5、一些實(shí)施例中,所述發(fā)射部和所述反射部的數(shù)量均為一個(gè),且所述發(fā)射部和所述反射部均為環(huán)狀結(jié)構(gòu),所述發(fā)射部環(huán)繞所述拾取裝置的外周緣延伸設(shè)置,所述反射部環(huán)繞所述承載臺(tái)的外周緣延伸設(shè)置,且所述發(fā)射部在所述承載臺(tái)所在平面的投影落入所述反射部在所述承載臺(tái)所在平面上的投影的范圍內(nèi);或所述發(fā)射部和所述反射部的數(shù)量均為多個(gè),多個(gè)所述發(fā)射部沿所述拾取裝置的周向間隔設(shè)置,多個(gè)所述反射部沿所述承載臺(tái)的周向間隔設(shè)置,且每一所述發(fā)射部在所述承載臺(tái)所在平面上的投影與至少一所述反射部在所述承載臺(tái)所在平面上的投影至少部分重疊。
6、一些實(shí)施例中,所述輻射反射器和所述輻射發(fā)射器均位于所述承載臺(tái)所在的一側(cè);所述輻射發(fā)射器包括多個(gè)發(fā)射部,所述輻射反射器包括多個(gè)反射部,多個(gè)所述發(fā)射部和多個(gè)所述反射部沿所述承載臺(tái)的周向交替且間隔設(shè)置。
7、一些實(shí)施例中,所述輻射反射器沿所述承載臺(tái)的外周緣的至少部分延伸設(shè)置,且所述輻射反射器的長(zhǎng)度不小于所述承載臺(tái)的直徑。
8、一些實(shí)施例中,所述邊緣溫度控制裝置還包括:濾波器,設(shè)于所述輻射發(fā)射器和所述輻射反射器之間,用于對(duì)從所述輻射發(fā)射器發(fā)射至所述輻射反射器之間的輻射波進(jìn)行過(guò)濾。
9、一些實(shí)施例中,所述邊緣溫度控制裝置還包括:處理器,連接所述控制器和所述輻射反射器,用于根據(jù)所述能量信號(hào)調(diào)節(jié)所述控制器設(shè)定的輻射強(qiáng)度。
10、一些實(shí)施例中,所述邊緣溫度控制裝置對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣溫度升高范圍為1~5℃。
11、為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)第二方面還提供一種鍵合方法,用于將第一元件與第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合,所述鍵合方法包括:拾取待鍵合的所述第一元件,并將所述第一元件移動(dòng)至與所述第二元件對(duì)準(zhǔn);以及將所述第一元件鍵合至所述第二元件,并在所述第一元件鍵合至所述第二元件的過(guò)程中對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣加熱,以使所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣處的氣體溫度升高。
12、在一些實(shí)施例中,所述在所述第一元件鍵合至所述第二元件的過(guò)程中對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣加熱,以使所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣處的氣體溫度升高包括:輻射發(fā)射器根據(jù)設(shè)定的輻射強(qiáng)度發(fā)射輻射波;以及獲取被輻射反射器接收的輻射波的能量信號(hào),將接收的輻射波反射至所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣,以使所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣處的氣體溫度升高。
13、在一些實(shí)施例中,根據(jù)所述能量信號(hào)設(shè)定所述輻射波的輻射強(qiáng)度。
14、本申請(qǐng)一些實(shí)施例提供的鍵合設(shè)備包括拾取裝置、承載臺(tái)和邊緣溫度控制裝置,在第一元件鍵合至第二元件的過(guò)程中,利用邊緣溫度控制裝置對(duì)第一元件和/或第二元件中的邊緣加熱,使得第一元件和/或第二元件的邊緣處的氣體溫度升高,因而可有效地降低氣體在待鍵合對(duì)象的邊緣處形成水滴的可能性,提高鍵合良率以及生產(chǎn)效率。
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1.一種鍵合設(shè)備,用于將第一元件與第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合,其特征在于,所述鍵合設(shè)備包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述邊緣溫度控制裝置包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反射器包括至少一個(gè)反射部,且至少一個(gè)所述反射部圍設(shè)于所述承載臺(tái)和所述拾取裝置中的一者的外周緣;以及
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述發(fā)射部和所述反射部的數(shù)量均為一個(gè),且所述發(fā)射部和所述反射部均為環(huán)狀結(jié)構(gòu),所述發(fā)射部環(huán)繞所述拾取裝置的外周緣延伸設(shè)置,所述反射部環(huán)繞所述承載臺(tái)的外周緣延伸設(shè)置,且所述發(fā)射部在所述承載臺(tái)所在平面的投影落入所述反射部在所述承載臺(tái)所在平面上的投影的范圍內(nèi);或
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反射器和所述輻射發(fā)射器均位于所述承載臺(tái)所在的一側(cè);
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反射器沿所述承載臺(tái)的外周緣的至少部分延伸設(shè)置,且所述輻射反射器的長(zhǎng)度不小于所述承載臺(tái)的直徑。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述邊緣
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述邊緣溫度控制裝置還包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述邊緣溫度控制裝置對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣溫度升高范圍為1~5℃。
10.一種鍵合方法,用于將第一元件與第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合,其特征在于,所述鍵合方法包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的鍵合方法,其特征在于,所述在所述第一元件鍵合至所述第二元件的過(guò)程中對(duì)所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣加熱,以使所述第一元件和/或所述第二元件的邊緣處的氣體溫度升高包括:
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的鍵合方法,其特征在于,還包括:根據(jù)所述能量信號(hào)設(shè)定所述輻射波的輻射強(qiáng)度。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種鍵合設(shè)備,用于將第一元件與第二元件對(duì)準(zhǔn)鍵合,其特征在于,所述鍵合設(shè)備包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述邊緣溫度控制裝置包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反射器包括至少一個(gè)反射部,且至少一個(gè)所述反射部圍設(shè)于所述承載臺(tái)和所述拾取裝置中的一者的外周緣;以及
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述發(fā)射部和所述反射部的數(shù)量均為一個(gè),且所述發(fā)射部和所述反射部均為環(huán)狀結(jié)構(gòu),所述發(fā)射部環(huán)繞所述拾取裝置的外周緣延伸設(shè)置,所述反射部環(huán)繞所述承載臺(tái)的外周緣延伸設(shè)置,且所述發(fā)射部在所述承載臺(tái)所在平面的投影落入所述反射部在所述承載臺(tái)所在平面上的投影的范圍內(nèi);或
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反射器和所述輻射發(fā)射器均位于所述承載臺(tái)所在的一側(cè);
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵合設(shè)備,其特征在于,所述輻射反...
【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:鐘璠,顧健華,
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人:武漢新芯集成電路股份有限公司,
類(lèi)型:發(fā)明
國(guó)別省市:
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