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【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及超導磁體,具體涉及一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置。
技術介紹
1、reba2cu3o7-б(rebco)材料是近年來發(fā)展最為迅速、使用最為廣泛的高溫超導材料。成品rebco導體通常為總厚度40μm至100μm的帶材。帶材內部為多層薄膜結構,其中主要包括rebco超導層、哈氏合金基底層、緩沖層、銀保護層、銅穩(wěn)定層等。rebco超導層由多層織構組成,主要由其中的cuo2平面產(chǎn)生超導電性,具有較強的各向異性。
2、公開號為cn118362951a,名稱為一種超導線臨界電流測試裝置及測試方法的中國專利,其具體公開了該監(jiān)測裝置包括:杜瓦,杜瓦由內至外依次設有真空腔和液氮腔;隔熱支撐組件,位于真空腔內,隔熱支撐組件上均布有溫度探頭,超導線圈位于溫度探頭上方;超導電流引線;銅電流引線,超導電流引線和銅電流引線并聯(lián)焊接,且一端部穿入真空腔和超導線圈連接,另一端部從液氮腔穿出和外接電源相連;加熱單元,安裝于隔熱支撐組件上,用于對銅電流引線進行加熱。
3、該專利技術所要解決的問題是,提供可以調節(jié)的背景磁場,能夠明顯減少超導線材測試用液氦使用量,而且能夠快速得到性能數(shù)據(jù),以解決現(xiàn)有技術中的液氦使用量較大,企業(yè)的生產(chǎn)成本較高,以及采用超導線樣品使用直接冷卻的方式進行性能測試效率較低,不適用批量超導線性能測試的問題。該專利技術在低溫超導磁體背場測試中可以取得有益效果,然而對于高溫超導線圈測試領域不能做到快速回溫和一次多餅線圈的測試。
4、rebco密繞線圈在磁體組裝前需要在液氮下進行多次低溫臨界
技術實現(xiàn)思路
1、本專利技術主要目的在于提供一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,以克服現(xiàn)有技術中存在的問題。
2、為解決上述技術問題,本專利技術采取了如下技術方案:
3、一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,包括測試箱體、箱蓋和測試夾板,所述箱蓋設置于所述測試箱體的頂部,所述測試箱體的底壁以及所述箱蓋上均對應設置有多個限位口,所述測試夾板的一端設置于所述測試箱體的限位口內,另一端穿過所述箱蓋上的限位口延伸至所述測試箱體的外側;
4、所述箱蓋上設有排氣組件,所述排氣組件包括底座,彈簧和蓋板,所述底座固定安裝于所述箱蓋,所述底座的中心設有與所述測試箱體內部連通的排氣口,所述蓋板安裝于所述底座的頂部,所述彈簧連接于所述底座與所述蓋板之間,當所述測試箱體內氮氣壓力大于所述彈簧的拉力時,氮氣通過所述排氣口排出,當所述測試箱體內氮氣壓力小于所述彈簧的拉力時,所述蓋板蓋設于所述排氣口上,確保實驗和回溫過程中空氣不會進入所述測試箱體的內部。
5、進一步的,所述測試箱體的內側設有真空夾層,所述測試箱體的外壁設有與所述真空夾層連通的真空抽口,所述真空抽口位于所述測試箱體的上部。
6、進一步的,所述測試箱體的外側壁上設有絕緣加熱絲,所述絕緣加熱絲纏繞于所述測試箱體的下部,所述絕緣加熱絲用于對所述測試箱體進行加熱,使所述測試箱體的內部快速回溫,加熱溫度不大于50℃。
7、進一步的,所述箱蓋上還設有液氮低溫液位計插口和注液口,在測試時通過所注液口向所述測試箱體的內部注入液氮,在回溫過程中通過所述注液口向所述測試箱體的內部注入常溫氮氣,并通過減壓閥調節(jié)常溫氮氣流入的速度。
8、進一步的,所述測試夾板包括底板和上蓋板,所述底板上設有超導線圈,所述上蓋板設置于所述超導線圈的外側。
9、進一步的,所述底板的上下兩端分別設有第一豎直部和第二豎直部,所述第一豎直部安裝于所述測試箱體的限位口內,所述第二豎直部穿過所述箱蓋上的限位口,所述第二豎直部上設有中間絕緣塊,所述超導線圈的兩根超導帶分別連接有超導帶引線,所述超導帶引線連接有銅編織帶,兩個所述銅編織帶分別位于所述中間絕緣塊的兩側并沿著所述中間絕緣塊向上引出。
10、進一步的,所述超導線圈與所述底板通過限位螺柱螺母、蝶形墊片進行固定。
11、進一步的,所述蝶形墊片的數(shù)量為一個或者多個。
12、進一步的,所述銅編織帶的表面通過包裹聚酰亞胺膠帶進行絕緣處理,所述第二豎直部穿過所述箱蓋上的限位口后采用真空封泥填補兩者之間的縫隙。
13、進一步的,所述彈簧的彈性系數(shù)為10n/m~80n/m。
14、與現(xiàn)有技術相比,本專利技術具有以下有益效果:
15、(1)本專利技術通過排氣組件的設置,使得排氣口定向排氣,當測試箱體內氮氣壓力大于彈簧的拉力時,氮氣才能通過排氣口排出,當測試箱體內氮氣壓力小于彈簧的拉力時,蓋板蓋設于所述排氣口上,確保實驗和回溫過程中空氣不會進入測試箱體的內部,解決了由于空氣進入測試箱體造成超導線圈在回溫過程中結冰,與水和水蒸氣接觸形成水解的問題;
16、(2)本專利技術的測試箱體的底壁以及箱蓋上均對應設置有多個限位口,從而可以放多個測試夾板,一次測量多個超導線圈,節(jié)省了時間成本和液氮資源,操作方法更加簡便,方便拆卸,且不易對超導線圈造成損傷;
17、(3)本專利技術通過再測試箱體的外側壁上設置絕緣加熱絲,在回溫過程中可以按照一定的升溫速率進行升溫,不僅控制了測試箱體內的溫度均勻性,而且能夠在較短的時間內完成實驗回溫,加快了實驗效率。
18、附圖說明
19、圖1是本專利技術的外部結構示意圖。
20、圖2是本專利技術的內部結構示意圖。
21、圖3是本專利技術的測試箱體剖視圖。
22、圖4是本專利技術的箱蓋結構示意圖。
23、圖5是本專利技術的圖4中a處局部放大圖。
24、圖6是本專利技術的測試夾板結構示意圖。
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1.一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,包括測試箱體、箱蓋和測試夾板,所述箱蓋設置于所述測試箱體的頂部,所述測試箱體的底壁以及所述箱蓋上均對應設置有多個限位口,所述測試夾板的一端設置于所述測試箱體的限位口內,另一端穿過所述箱蓋上的限位口延伸至所述測試箱體的外側;
2.如權利要求1所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述測試箱體的內側設有真空夾層,所述測試箱體的外壁設有與所述真空夾層連通的真空抽口,所述真空抽口位于所述測試箱體的上部。
3.如權利要求1或2所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述測試箱體的外側壁上設有絕緣加熱絲,所述絕緣加熱絲纏繞于所述測試箱體的下部,所述絕緣加熱絲用于對所述測試箱體進行加熱,使所述測試箱體的內部快速回溫,加熱溫度不大于50℃。
4.如權利要求1所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述箱蓋上還設有液氮低溫液位計插口和注液口,在測試時通過所注液口向所述測試箱體的內部注入液氮,在回溫過程中通過所述注液口向所述測試箱體的內部注入常溫
5.如權利要求1所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述測試夾板包括底板和上蓋板,所述底板上設有超導線圈,所述上蓋板設置于所述超導線圈的外側。
6.如權利要求5所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述底板的上下兩端分別設有第一豎直部和第二豎直部,所述第一豎直部安裝于所述測試箱體的限位口內,所述第二豎直部穿過所述箱蓋上的限位口,所述第二豎直部上設有中間絕緣塊,所述超導線圈的兩根超導帶分別連接有超導帶引線,所述超導帶引線連接有銅編織帶,兩個所述銅編織帶分別位于所述中間絕緣塊的兩側并沿著所述中間絕緣塊向上引出。
7.如權利要求5所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述超導線圈與所述底板通過限位螺柱螺母、蝶形墊片進行固定。
8.如權利要求7所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述蝶形墊片的數(shù)量為一個或者多個。
9.如權利要求6所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述銅編織帶的表面通過包裹聚酰亞胺膠帶進行絕緣處理,所述第二豎直部穿過所述箱蓋上的限位口后采用真空封泥填補兩者之間的縫隙。
10.如權利要求1所述的一種REBCO無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述彈簧的彈性系數(shù)為10N/m~80N/m。
...【技術特征摘要】
1.一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,包括測試箱體、箱蓋和測試夾板,所述箱蓋設置于所述測試箱體的頂部,所述測試箱體的底壁以及所述箱蓋上均對應設置有多個限位口,所述測試夾板的一端設置于所述測試箱體的限位口內,另一端穿過所述箱蓋上的限位口延伸至所述測試箱體的外側;
2.如權利要求1所述的一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述測試箱體的內側設有真空夾層,所述測試箱體的外壁設有與所述真空夾層連通的真空抽口,所述真空抽口位于所述測試箱體的上部。
3.如權利要求1或2所述的一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述測試箱體的外側壁上設有絕緣加熱絲,所述絕緣加熱絲纏繞于所述測試箱體的下部,所述絕緣加熱絲用于對所述測試箱體進行加熱,使所述測試箱體的內部快速回溫,加熱溫度不大于50℃。
4.如權利要求1所述的一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征在于,所述箱蓋上還設有液氮低溫液位計插口和注液口,在測試時通過所注液口向所述測試箱體的內部注入液氮,在回溫過程中通過所述注液口向所述測試箱體的內部注入常溫氮氣,并通過減壓閥調節(jié)常溫氮氣流入的速度。
5.如權利要求1所述的一種rebco無絕緣密繞超導線圈測試裝置,其特征...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員:劉鵬,王昭然,劉華軍,任偉聰,胡帥,薛圣泉,劉炎亮,朱杰,
申請(專利權)人:合肥國際應用超導中心,
類型:發(fā)明
國別省市:
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