【技術實現步驟摘要】
本申請涉及芯片測試，尤其是一種用于芯片測試的測試碼型確定方法及控制器、設備、介質。
技術介紹
1、集成電路（ic）測試是保證集成電路性能、質量的關鍵手段之一，其主要通過專門的集成電路測試系統以及其他輔助設備來實現。測試系統由計算機軟件控制，各個硬件模塊按照指令運行在合適的狀態。在芯片測試過程中，計算機下發測試指令以及相關信息，測試過程為：將測試碼型寫入待測芯片、再讀回數據，將讀回的數據和預先設定的期望進行比較，做出pass或fail的判斷。
2、在ddr（double?data?rate，雙倍數據速率）內存芯片出廠前，需要對ddr內存芯片進行一系列不同類型的測試，檢測ddr內存芯片是否存在故障或不穩定的情況，以篩選出批量的ddr內存芯片中的不良品。通常會采用不同的測試碼型測試ddr內存芯片的不同功能是否良好。有一些ddr內存芯片在某個測試碼型下，容易出錯；采用該測試碼型對批量的類型的ddr內存芯片篩選不良品，有利于提高對批量ddr內存芯片篩選不良品的效率。而有一些測試碼型在對ddr內存芯片檢測的過程中，并不能較好地檢測出ddr內存芯片中的故障。目前，會依靠測試人員的經驗去設置用于篩選不良品的測試碼型。但測試碼型很多，如果依靠測試人員的經驗去設置測試碼型，不同的測試人員可能會設置不同的測試碼型，導致測試結果不一致，可靠程度低；而且，如果測試人員經驗不足，可能會需要大量的時間重復試錯才能選取到合適的測試碼型，效率以及可靠性都較低。可見，人工設置測試碼型的可靠程度和效率較低。
技術實現思路>
1、本申請旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本申請提出一種用于芯片測試的測試碼型確定方法及控制器、設備、介質；能夠自動地確定用于對批量同類型的待測芯片進行不良品篩選測試的目標測試碼型，提高選取目標測試碼型的可靠程度和效率。
2、第一方面，本申請實施例提供了一種用于芯片測試的測試碼型確定方法，方法包括：
3、依次基于預設標準測試文件的不同類型的所述測試函數，對待測芯片進行第一讀寫測試處理得到第一測試結果；
4、當所述第一測試結果為1，判斷所述第一讀寫測試處理不通過，檢測出故障，中斷測試并標記第一中斷位置，生成第一報錯信號；所述第一報錯信號包括：第一使能信號和第一故障類型標志；
5、響應于所述第一報錯信號，根據所述第一使能信號從多個候選測試算法中確定第一目標測試算法；所述候選測試算法的數量與所述測試函數的類型數量相同；
6、運行所述第一目標測試算法，根據所述第一故障類型標志調用第一預設碼型文件；
7、依次基于所述第一預設碼型文件的多個候選測試碼型，對所述待測芯片進行第二讀寫測試處理，對應得到多個第二測試結果；
8、根據所述第二測試結果，將檢測出故障的所述候選測試碼型確定為第一目標測試碼型；所述第一目標測試碼型用于對批量同類型的待測芯片進行不良品篩選測試。
9、第二方面，本申請實施例提供了一種控制器，包括至少一個處理器和用于與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行如第一方面實施例任一項所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法。
10、第三方面，本申請實施例提供了一種電子設備，包括如第二方面實施例所述的控制器。
11、第四方面，本申請實施例提供了一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于使計算機執行如第一方面實施例任一項所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法。
12、本申請實施例包括：在確定用于對批量同類型的待測芯片進行不良品篩選測試的目標測試碼型的過程中，首先，依次基于預設標準測試文件的不同類型的測試函數，對待測芯片進行第一讀寫測試處理得到第一測試結果；其次，當第一測試結果為1，判斷第一讀寫測試處理不通過，檢測出故障，中斷測試并標記第一中斷位置，生成第一報錯信號；第一報錯信號包括：第一使能信號和第一故障類型標志；而后，響應于第一報錯信號，根據第一使能信號從多個候選測試算法中確定第一目標測試算法；候選測試算法的數量與測試函數的類型數量相同；接著，運行第一目標測試算法，根據第一故障類型標志調用第一預設碼型文件；然后，依次基于第一預設碼型文件的多個候選測試碼型，對待測芯片進行第二讀寫測試處理，對應得到多個第二測試結果；通過第二測試結果為確定第一目標測試碼型提供可靠的參考；最后，根據第二測試結果，將檢測出故障的候選測試碼型確定為第一目標測試碼型；第一目標測試碼型用于對批量同類型的待測芯片進行不良品篩選測試；從而提高選取目標測試碼型的可靠程度和效率。即是說，本申請實施例能夠自動地確定用于對批量同類型的待測芯片進行不良品篩選測試的目標測試碼型，提高選取目標測試碼型的可靠程度和效率。
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1.一種用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，方法包括：
2.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述得到第一測試結果之后，所述方法還包括：
3.根據權利要求2所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述生成第一報錯信號，包括：
4.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述第一使能信號包括：值為1的高電平信號以及值為0的低電平信號；
5.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述根據所述第二測試結果，將檢測出故障的所述候選測試碼型確定為第一目標測試碼型，包括：
6.根據權利要求1至5任一項所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述方法還包括：
7.根據權利要求6所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種控制器，其特征在于，包括至少一個處理器和用于與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處
9.一種電子設備，其特征在于，包括如權利要求8所述的控制器。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于使計算機執行如權利要求1至7任一項所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法。
...【技術特征摘要】
1.一種用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，方法包括：
2.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述得到第一測試結果之后，所述方法還包括：
3.根據權利要求2所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述生成第一報錯信號，包括：
4.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述第一使能信號包括：值為1的高電平信號以及值為0的低電平信號；
5.根據權利要求1所述的用于芯片測試的測試碼型確定方法，其特征在于，所述根據所述第二測試結果，將檢測出故障的所述候選測試碼型確定為第一目標測試碼型，包括：
6.根據權利要求1至5任一項所述的用于芯片測試的測試碼型確定...
【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭汶，
申請(專利權)人：深圳市晶存科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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