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    一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜及其制備方法技術

    技術編號:44521782 閱讀:3 留言:0更新日期:2025-03-07 13:14
    本發明專利技術公開了一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其化學式為HfC<subgt;x</subgt;N<subgt;1?x</subgt;;其中,x取值為0.09~0.1。本發明專利技術還公開了上述碳摻雜的氮化鉿納米晶膜的制備方法,采用磁控共濺射法,具體為:將純鉿靶和石墨靶放入腔室中,抽真空至4×10<supgt;?</supgt;<supgt;4</supgt;Pa;向腔室內連續通入氮氣和氬氣,控制純鉿靶和石墨靶的濺射電流,在襯底上沉積HfC<subgt;x</subgt;N<subgt;1?x</subgt;膜。本發明專利技術通過在HfN中引入C元素,制得了一種兼具極低紅外發射率和優異耐久性的碳氮化鉿納米晶膜。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,還涉及上述氮化鉿納米晶膜的制備方法。


    技術介紹

    1、傳統的紅外隱身膜材料主要是鋁、銀、金和銅這類純金屬,這類材料雖然具有非常低的紅外發射率,但存在低硬度、低熔點和不耐腐蝕等較差的環境耐久性。過渡金屬氮化物如hfn雖然具有高硬度、高熔點和耐磨耐蝕等優良的耐久性能,但其紅外發射率遠高于純金屬,表現出較差的紅外隱身性能,因此不能直接將其作為紅外隱身材料進行應用。


    技術實現思路

    1、專利技術目的:本專利技術目的旨在提供一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,當將其作為紅外隱身材料應用時,該氮化鉿納米晶膜在具有高硬度、高熔點以及良好耐磨耐蝕性能的同時還具有極低的紅外發射率;本專利技術另一目的旨在提供上述氮化鉿納米晶膜的制備方法。

    2、技術方案:本專利技術所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其化學式為hfcxn1-x;其中,x取值為0.09~0.1。

    3、本專利技術材料是由hf、c、n三種元素組成的膜,hfcxn1-x膜為單相巖鹽固溶體結構。

    4、其中,hfcxn1-x膜的平均晶粒尺寸小于10nm。

    5、其中,hfcxn1-x膜中,c元素的含量為9at.~10at.%;優選9at.%。

    6、上述碳摻雜的氮化鉿納米晶膜的制備方法,采用磁控共濺射法,具體為:將純鉿靶和石墨靶放入腔室中,抽真空至4×10-4pa;向腔室內連續通入氮氣和氬氣,控制純鉿靶和石墨靶的濺射電流,在襯底上沉積hfcxn1-x膜。

    7、其中,氮氣與氬氣的流量比為0.1~1:40。

    8、其中,純鉿靶和石墨靶均采用直流中頻脈沖電源,純鉿靶濺射電流為0.4~0.5a,脈沖寬度為4~5μs,脈沖頻率為100~120khz;石墨靶濺射電流為0.1~0.2a,脈沖寬度為4~5μs,脈沖頻率為100~120khz。

    9、其中,濺射條件為:靶材與樣品臺距離為110~120mm,襯底溫度為500~550℃,工作氣壓為0.8~0.85pa,樣品臺轉速為10~12r/min,濺射時間為100~120min。

    10、本專利技術通過在hfn中引入c元素,制得一種兼具極低紅外發射率和優異耐久性低的碳/氮化鉿納米晶膜,c摻雜后,能夠有效提高hf與n的鍵合強度,不僅能夠提高氮化鉿的硬度,使其硬度達33.5gpa,而且還能減弱材料對紅外光的吸收強度,從而大幅降低材料的紅外發射率。

    11、有益效果:相比于現有技術,本專利技術具有如下顯著的效果:本專利技術制得的碳氮化鉿納米晶膜材料在3-5μm和8-14μm紅外波段范圍內的平均紅外發射率分別為0.08和0.03,硬度達33.5gpa,在3.5wt.%的nacl溶液中的自腐蝕電流密度為~1×10-7a·cm-2,說明本專利技術納米晶膜材料不但具有極低的紅外發射率,還具有優異的耐久性,其有望在高速固液粒子撞擊、高溫及腐蝕液體氣體存在的嚴苛環境下作為紅外隱身耐久膜應用。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:其化學式為HfCxN1-x;其中,x取值為0.09~0.1。

    2.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:HfCxN1-x膜為單相巖鹽固溶體結構。

    3.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:HfCxN1-x膜中的平均晶粒尺寸小于10nm。

    4.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:HfCxN1-x膜中,C元素的含量為9at.%。

    5.權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜的制備方法,其特征在于,采用磁控共濺射法,具體為:將純鉿靶和石墨靶放入腔室中,抽真空至4×10-4Pa;向腔室內連續通入氮氣和氬氣,控制純鉿靶和石墨靶的濺射電流,在襯底上沉積HfCxN1-x膜。

    6.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于:所述氮氣與氬氣的流量比為0.1~1:40。

    7.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于:純鉿靶和石墨靶均采用直流中頻脈沖電源,其中,純鉿靶濺射電流為0.4~0.5A,脈沖寬度為4~5μs,脈沖頻率為100~120kHz;石墨靶濺射電流為0.1~0.2A,脈沖寬度為4~5μs,脈沖頻率為100~120kHz。

    8.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于:濺射條件為:靶基距為110~120mm,襯底溫度為500~550℃,工作氣壓為0.8~0.85Pa,樣品臺轉速為10~12r/min,濺射時間為100~120min。

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    【技術特征摘要】

    1.一種碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:其化學式為hfcxn1-x;其中,x取值為0.09~0.1。

    2.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:hfcxn1-x膜為單相巖鹽固溶體結構。

    3.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:hfcxn1-x膜中的平均晶粒尺寸小于10nm。

    4.根據權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜,其特征在于:hfcxn1-x膜中,c元素的含量為9at.%。

    5.權利要求1所述的碳摻雜的氮化鉿納米晶膜的制備方法,其特征在于,采用磁控共濺射法,具體為:將純鉿靶和石墨靶放入腔室中,抽真空至4×10-4pa;向腔室內連續通入氮氣和氬氣,控制純鉿靶...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:王倩倩鄒高鵬沈寶龍
    申請(專利權)人:東南大學
    類型:發明
    國別省市:

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