【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及納米離子探針領域，具體為一種納米離子探針冷凍樣品臺。
技術介紹
1、離子探針微區分析具有高空間分辨率、高分析精度、高靈敏度和低分析本底的顯著優勢。作為目前空間分辨率最高的離子探針技術，納米離子探針已經在比較行星學、地球科學、材料科學和生物醫學等領域得到了廣泛應用。然而，受制于二次離子探針的分析機理，目前的納米離子探針技術僅能夠對固體樣品進行分析，而無法滿足對非固體樣品進行原位分析的需求。
2、在實際研究中，例如石油及礦床中流體包裹體和生物醫學研究中非固體樣品的分析需求日益增多。這些非固體樣品的原位分析對于研究樣品的原始狀態、成分及其分布特性具有重要意義。然而，傳統的納米離子探針因缺乏有效的冷凍與絕緣設計，無法滿足這些特殊樣品的低溫、高精度分析需求。因此，開發一種能夠實現非固體樣品低溫冷凍并適應高電壓絕緣要求的納米離子探針設備成為技術發展的關鍵。
技術實現思路
1、針對現有技術的不足，本專利技術提供了一種納米離子探針冷凍樣品臺，解決了現有技術中，目前的納米離子探針技術僅能夠對固體樣品進行分析，而無法滿足對非固體樣品進行原位分析的問題。
2、為實現以上目的，本專利技術通過以下技術方案予以實現：一種納米離子探針冷凍樣品臺，包括：
3、冷凍樣品組件，其包括冷凍樣品托和冷凍樣品架，所述冷凍樣品架安裝于冷凍樣品托一面；
4、常溫樣品組件，其包括常溫樣品托和常溫樣品架，所述常溫樣品架安裝于常溫樣品托一面；
5、基臺，其一面
6、優選的，所述制冷組件包括有液氮冷阱、導熱銅帶和液氮杜瓦，所述液氮冷阱安裝于法蘭盤內，所述導熱銅帶一端連接有導熱塊，另一端連接有氮化鋁陶瓷塊，所述導熱塊與液氮冷阱連接，所述氮化鋁陶瓷塊與冷凍樣品托連接，所述液氮杜瓦與法蘭盤連通。
7、優選的，所述冷凍樣品托和冷凍樣品架均設置為紫銅材質。
8、優選的，所述基臺設置為氧化鋯陶瓷材質。
9、優選的，所述樣品臺內部設置有高壓橋接線，所述高壓橋接線兩端均貫穿基臺后分別與冷凍樣品托和常溫樣品托相連接。
10、優選的，所述離子濺射腔外壁安裝有導線，所述導線與高壓橋接線相連接。
11、優選的，所述離子濺射腔外壁還安裝有馬達，所述馬達通過傳輸桿與樣品臺連接。
12、優選的，所述法蘭盤中部連通有穿倉法蘭，用于向離子濺射腔加壓和讀取離子濺射腔內樣品的溫度。
13、優選的，所述離子濺射腔一端與一次離子源腔板閥連通，另一端與二次離子檢測腔板閥連通。
14、優選的，所述樣品臺活動設置于離子濺射腔內，一次離子從離子濺射腔遠離法蘭盤一側進入離子濺射腔內。
15、本專利技術提供了一種納米離子探針冷凍樣品臺。具備以下有益效果：
16、1、本專利技術通過制冷組件的作用，將低溫高效傳遞至冷凍樣品托，使得樣品冷凍至固體狀態。因此，本專利技術能夠實現對液體包裹體和生物醫學切片樣品的高精度原位分析，特別適用于保持樣品原始狀態的低溫條件下進行分析。
17、2、本專利技術通過將冷凍樣品托和冷凍樣品架設為紫銅材質，因此能夠高效傳導低溫和高壓，保證冷凍樣品的溫度均勻性和穩定性。并且利用氮化鋁陶瓷塊的高導熱性和絕緣特性，在確保樣品低溫傳導的同時，隔絕樣品上的高壓環境，避免電壓引發的安全問題，從而保證了分析過程的穩定性和安全性。
18、3、本專利技術當不需要分析冷凍樣品時，該冷凍樣品臺可作為真空冷阱使用。通過冷凍組件提升離子濺射腔的真空性能，從而改善設備的工作環境。這種多功能設計提高了儀器的實用性和經濟性，能夠適應更多樣化的實驗需求，滿足不同領域的應用場景。
19、4、本專利技術通過高壓橋接線可在使用銫離子源時通過導線施加-8000v高壓，在使用氧離子源時施加+8000v高壓，因此可確保冷凍樣品托和常溫樣品托之間的電勢相同，進而避免因電勢差異導致的電場畸變。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述制冷組件包括有液氮冷阱（4）、導熱銅帶（9）和液氮杜瓦（3），所述液氮冷阱（4）安裝于法蘭盤（2）內，所述導熱銅帶（9）一端連接有導熱塊（10），另一端連接有氮化鋁陶瓷塊（11），所述導熱塊（10）與液氮冷阱（4）連接，所述氮化鋁陶瓷塊（11）與冷凍樣品托（51）連接，所述液氮杜瓦（3）與法蘭盤（2）連通。
3.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述冷凍樣品托（51）和冷凍樣品架（52）均設置為紫銅材質。
4.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述基臺（7）設置為氧化鋯陶瓷材質。
5.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述樣品臺（8）內部設置有高壓橋接線（13），所述高壓橋接線（13）兩端均貫穿基臺（7）后分別與冷凍樣品托（51）和常溫樣品托（61）相連接。
6.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述
7.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述離子濺射腔（1）外壁還安裝有馬達（14），所述馬達（14）通過傳輸桿與樣品臺（8）連接。
8.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述法蘭盤（2）中部連通有穿倉法蘭（15），用于向離子濺射腔（1）加壓和讀取離子濺射腔（1）內樣品的溫度。
9.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述離子濺射腔（1）一端與一次離子源腔板閥連通，另一端與二次離子檢測腔板閥連通。
10.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述樣品臺（8）活動設置于離子濺射腔（1）內，一次離子從離子濺射腔（1）遠離法蘭盤（2）一側進入離子濺射腔（1）內。
...【技術特征摘要】
1.一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述制冷組件包括有液氮冷阱（4）、導熱銅帶（9）和液氮杜瓦（3），所述液氮冷阱（4）安裝于法蘭盤（2）內，所述導熱銅帶（9）一端連接有導熱塊（10），另一端連接有氮化鋁陶瓷塊（11），所述導熱塊（10）與液氮冷阱（4）連接，所述氮化鋁陶瓷塊（11）與冷凍樣品托（51）連接，所述液氮杜瓦（3）與法蘭盤（2）連通。
3.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述冷凍樣品托（51）和冷凍樣品架（52）均設置為紫銅材質。
4.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述基臺（7）設置為氧化鋯陶瓷材質。
5.根據權利要求1所述的一種納米離子探針冷凍樣品臺，其特征在于，所述樣品臺（8）內部設置有高壓橋接線（13），所述高壓橋接線（13）兩端均貫穿基臺（7）后分別與冷凍樣品托（51）和常溫樣品...
【專利技術屬性】
技術研發人員：郝佳龍，楊蔚，胡森，田恒次，林楊挺，
申請(專利權)人：中國科學院地質與地球物理研究所，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。