【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及鐵芯損耗檢測，尤其是涉及一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置及方法。
技術介紹
1、飽和電抗器是一種常見的電路元件，其主要作用是通過其內部磁場來控制電路中的電流，從而實現對電路的限流、濾波、穩壓等功能。具體如下：(1)限流作用：當電路中的電流超過一定值時，磁核會飽和，導致飽和電抗器的阻抗降低，從而限制電流的流動；(2)濾波作用：飽和電抗器能夠通過對電流進行濾波，去除電流中的高頻成分，從而達到提高電路信號的質量和減小電路中的噪聲的效果；(3)穩壓作用：飽和電抗器能夠通過對電路中電流的控制，來保持電路電壓穩定。
2、電抗器飽和主要是由于電抗器內的鐵芯飽和引起的。鐵芯飽和是指當電抗器中的磁通強度超過鐵芯飽和磁通密度時，磁芯就會飽和。此時，電感值會下降，同時鐵芯內的磁滯損耗和渦流損耗會明顯增加，溫度會升高。電感值的下降會導致交流電路中通過電抗器的電流增大，從而使其反應不及電路的實際需求，產生諧振等問題。鐵芯內的磁滯損耗和渦流損耗增加會使得電抗器的發熱增大，溫度升高。長期處于高溫環境下，電抗器的氧化速度會增快，電抗器壽命也會受到影響。但是，目前專門針對飽和電抗器用鐵芯損耗檢測的研究較少，如何快速準確測量飽和電抗器用鐵芯損耗，進而快速篩選優質電抗器用鐵芯，成為本領域需要解決的問題。
技術實現思路
1、本專利技術的目的就是為了克服上述現有技術存在的難以快速準確測量飽和電抗器用鐵芯損耗的缺陷而提供一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置及方法。
2、本專利技術的目的可以通
3、根據本專利技術的第一方面，提供一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，包括高頻電源、功率分析儀、萬用表、第一測試繞組和第二測試繞組，所述高頻電源連接所述功率分析儀，所述功率分析儀連接所述第一測試繞組，所述第二測試繞組連接所述萬用表，所述裝置還包括升降桿、支撐機構和升降控制機構，所述第一測試繞組和所述第二測試繞組固定連接于所述支撐機構上，且分別套設于所述升降桿外部，所述升降桿穿過所述支撐機構與所述升降控制機構連接，當所述升降桿的端部連接預先獲取的待測鐵芯時，所述升降控制機構控制所述升降桿下降，所述待測鐵芯位于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的內部。
4、作為優選的技術方案，所述支撐機構包括承托塊和支撐板，所述承托塊固定連接于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的底部，所述支撐板固定連接于所述承托塊的底部，所述升降桿由上至下依次穿過所述承托塊和所述支撐板。
5、作為優選的技術方案，所述裝置還包括支撐桿和底座，所述支撐機構與所述底座通過所述支撐桿固定連接。
6、作為優選的技術方案，所述底座上開設橫槽，所述橫槽中插接受力桿，所述受力桿插接于所述橫槽中的一端連接第一彈簧，所述第一彈簧的另一端連接所述橫槽的內壁。
7、作為優選的技術方案，所述底座的底部開設開槽，所述開槽中設有吸盤，所述吸盤的表面與所述受力桿插接于所述橫槽中的一端連接。
8、作為優選的技術方案，所述升降桿的一端開設插接孔，所述插接孔用于插接預先獲取的待測鐵芯。
9、作為優選的技術方案，所述升降控制機構包括豎桿、轉動桿、限位塊和開設限位槽的限位板，所述豎桿通過第一連接件與所述升降桿靠近升降控制機構的一端固定連接，所述豎桿靠近支撐機構的一端與所述轉動桿活動連接，所述限位板通過第二連接件固定連接于所述支撐機構底部，所述轉動桿穿過所述限位槽，所述限位塊固定連接于所述轉動桿靠近支撐機構的一端，所述限位槽的剖面形狀與所述限位塊的剖面形狀相同。
10、作為優選的技術方案，所述升降控制機構還包括延伸板和第二彈簧，所述延伸板的一側與所述豎桿固定連接，另一側與所述第二彈簧固定連接。
11、作為優選的技術方案，所述延伸板的側面固定連接頂推塊。
12、根據本專利技術的第二方面，提供一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測方法，所述方法基于所述的裝置實現，包括以下步驟：將預先獲取的待測鐵芯固定連接于所述升降桿的端部；利用所述升降控制機構控制所述升降桿下降；當所述待測鐵芯位于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的內部時，啟動所述高頻電源、所述功率分析儀和所述萬用表，對待測鐵芯進行損耗檢測。
13、與現有技術相比，本專利技術具有以下有益效果：
14、1、本專利技術提供的損耗檢測裝置，通過設置第一測試繞組和第二測試繞組，利用升降控制機構與升降桿使待測鐵芯能夠穩定位于測試繞組的內部，實現鐵芯單位質量高頻損耗的測量，提高飽和電抗器的鐵芯損耗評估的精確性，進而根據測量出的損耗快速篩選優質電抗器用鐵芯，也即發熱較為穩定的鐵芯，提前規避電抗器因氧化速度加快而導致的使用壽命縮短風險；
15、2、本專利技術通過插接孔將待測鐵芯的兩端穩定連接在升降柱上，在底座的底部設置吸盤，吸盤可以吸附在桌面上，受力桿的端部與吸盤相連，當升降控制機構帶動升降桿下降時，待測鐵芯移動到測試繞組的內部，同時使受力桿在橫槽中橫移，第一彈簧被擠壓，受力桿移動拉扯吸盤，能夠增強吸盤的吸附力，使底座更加穩定地吸附在桌面上。
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1.一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，包括高頻電源、功率分析儀、萬用表、第一測試繞組和第二測試繞組，所述高頻電源連接所述功率分析儀，所述功率分析儀連接所述第一測試繞組，所述第二測試繞組連接所述萬用表，所述裝置還包括升降桿、支撐機構和升降控制機構，所述第一測試繞組和所述第二測試繞組固定連接于所述支撐機構上，且分別套設于所述升降桿外部，所述升降桿穿過所述支撐機構與所述升降控制機構連接，當所述升降桿的端部連接預先獲取的待測鐵芯時，所述升降控制機構控制所述升降桿下降，所述待測鐵芯位于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的內部。
2.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述支撐機構包括承托塊和支撐板，所述承托塊固定連接于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的底部，所述支撐板固定連接于所述承托塊的底部，所述升降桿由上至下依次穿過所述承托塊和所述支撐板。
3.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括支撐桿和底座，所述支撐機構與所述底座通過所述支撐桿固定連接。
4.根據權利要求3所述的飽和電
5.根據權利要求4所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述底座的底部開設開槽，所述開槽中設有吸盤，所述吸盤的表面與所述受力桿插接于所述橫槽中的一端連接。
6.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述升降桿的一端開設插接孔，所述插接孔用于插接預先獲取的待測鐵芯。
7.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述升降控制機構包括豎桿、轉動桿、限位塊和開設限位槽的限位板，所述豎桿通過第一連接件與所述升降桿靠近升降控制機構的一端固定連接，所述豎桿靠近支撐機構的一端與所述轉動桿活動連接，所述限位板通過第二連接件固定連接于所述支撐機構底部，所述轉動桿穿過所述限位槽，所述限位塊固定連接于所述轉動桿靠近支撐機構的一端，所述限位槽的剖面形狀與所述限位塊的剖面形狀相同。
8.根據權利要求7所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述升降控制機構還包括延伸板和第二彈簧，所述延伸板的一側與所述豎桿固定連接，另一側與所述第二彈簧固定連接。
9.根據權利要求8所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述延伸板的側面固定連接頂推塊。
10.一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測方法，其特征在于，所述方法基于如權利要求1-9任一所述的裝置實現，包括以下步驟：
...【技術特征摘要】
1.一種飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，包括高頻電源、功率分析儀、萬用表、第一測試繞組和第二測試繞組，所述高頻電源連接所述功率分析儀，所述功率分析儀連接所述第一測試繞組，所述第二測試繞組連接所述萬用表，所述裝置還包括升降桿、支撐機構和升降控制機構，所述第一測試繞組和所述第二測試繞組固定連接于所述支撐機構上，且分別套設于所述升降桿外部，所述升降桿穿過所述支撐機構與所述升降控制機構連接，當所述升降桿的端部連接預先獲取的待測鐵芯時，所述升降控制機構控制所述升降桿下降，所述待測鐵芯位于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的內部。
2.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述支撐機構包括承托塊和支撐板，所述承托塊固定連接于所述第一測試繞組和所述第二測試繞組的底部，所述支撐板固定連接于所述承托塊的底部，所述升降桿由上至下依次穿過所述承托塊和所述支撐板。
3.根據權利要求1所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括支撐桿和底座，所述支撐機構與所述底座通過所述支撐桿固定連接。
4.根據權利要求3所述的飽和電抗器用鐵芯損耗檢測裝置，其特征在于，所述底座上開設橫槽，所述橫槽中插接受力桿，所述受力桿插接于所述橫槽中的一端連接第一彈簧，所述第一彈簧的另一端連接所述橫槽的內壁。
【專利技術屬性】
技術研發人員：冷超，李鋒鋒，薛楚亮，謝攀，閆全全，朱正一，范業勛，孫夢，
申請(專利權)人：國網上海市電力公司，
類型：發明
國別省市：
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