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    一種基于反相器結構的電壓放大電路及其控制方法技術

    技術編號:44524922 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-03-07 13:16
    本發明專利技術公開了一種基于反相器結構的電壓放大電路及其控制方法,屬于集成電路技術領域,電壓放大電路包括輸入級和負載級,輸入級包括一對共源極NMOS管和PMOS管組成的輸入級反相器,負載級包括另一對共源極NMOS管和PMOS管組成的負載級反相器,輸入級反相器的輸入端連接電源電壓,輸入級反相器的輸出端與負載級反相器的輸入端相連,負載級反相器的輸入端與輸出端之間連接電阻。能在輸出電壓擺幅較大的情況下同時擁有較高的線性度,避免了傳統gm?gm結構輸入級MOS管進入線性區而負載級MOS管仍處在飽和區帶來的跨導不同的影響,能夠提高對輸出擺幅和線性度都有較高要求的高速電路的性能,且具有結構簡單、易于實現的優點,同時節約了時間成本。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術屬于集成電路,具體涉及一種基于反相器結構的電壓放大電路及其控制方法


    技術介紹

    1、隨著物聯網、人工智能、自動駕駛等新興應用的興起,對半導體芯片的需求也在不斷增加。這些新興應用對芯片的性能、功耗、成本等方面提出了新的挑戰,推動了半導體工藝的不斷創新和發展。為進一步提高晶體管高速與低功耗性能,晶體管工藝制程不斷減小,目前發展已經進入到了7納米及以下節點,甚至已經開始研究5納米工藝。與此同時,芯片核心晶體管擊穿電壓不斷下降,對大擺幅高線性度放大電路設計帶來了更大的挑戰。

    2、傳統基于cmos反相器結構的放大電路通常得益于電流復用的優勢,總跨導為器件跨導總和,因此在給定電流下,能提供更高的跨導,其結構屬于ab類放大器,相比a類放大器效率更高,適合低功耗場景;在低電源電壓場合下,此結構沒有同級負載,不需要消耗額外的電壓裕度,因此常在先進制程低壓放大電路中得到采用。但當輸入信號擺幅較大時,該結構電路從a類工作方式向b類工作方式轉變,其跨導大幅變化,造成線性度受限。為此,2023年5月23日公開的公開號為cn116155217a的中國專利技術專利申請,提出了一種“gm-gm”結構以優化線性度,其以cmos反相器為基礎,結合輸入輸出短接的反相器構成的二極管連接型負載,一定程度上擴展了線性度。但當輸入信號擺幅進一步增大時,前級反相器結構中的晶體管會進入線性區,而后級晶體管由于是二極管連接所以始終處在飽和區,造成“gm-gm”線性方法失效。

    3、因此,有必要提出一種低壓高線性度放大電路,進一步優化線性度。


    技術實現思路

    1、本專利技術的目的在于克服現有放大電路大信號下線性度差的問題,提出了一種基于反相器結構的電壓放大電路及其控制方法,能夠輸出大信號,同時當前級晶體管進入線性區時,后級晶體管也被迫進入線性區,相同的gm變化能夠保證信號的完整性,大信號下線性度也不會變差。

    2、為達到上述目的,本專利技術采用如下技術方案:

    3、一種基于反相器結構的電壓放大電路,包括輸入級和負載級,輸入級包括一對共源極nmos管和pmos管組成的輸入級反相器,負載級包括另一對共源極nmos管和pmos管組成的負載級反相器,輸入級反相器的輸入端連接電源電壓,輸入級反相器的輸出端與負載級反相器的輸入端相連,負載級反相器的輸入端與輸出端之間連接電阻。

    4、進一步地,輸入級反相器包括第一pmos管mp1和第二nmos管mn2,第一pmos管mp1的源極與電源電壓連接,第一pmos管mp1的柵極與第二nmos管mn2的柵極相連構成輸入級反相器的輸入節點,第一pmos管mp1的漏極與第二nmos管mn2的漏極相連構成輸入級反相器的輸出節點,第二nmos管mn2的源極接地。

    5、進一步地,負載級反相器包括第三pmos管mp3和第四nmos管mn4,第三pmos管mp3的源極接電源電壓,第三pmos管mp3的柵極與第四nmos管mn4的柵極連接構成負載級反相器的輸入節點,第三pmos管mp3的漏極與第四nmos管mn4的漏極連接構成負載級反相器的輸出節點,第四nmos管mn4的源極接地。

    6、進一步地,輸入級反相器的輸出節點與負載級反相器的輸入節點相連。

    7、進一步地,負載級反相器的輸入節點和負載級反相器的輸出節點通過電阻相連。

    8、一種基于反相器結構的電壓放大電路的控制方法,利用所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,包括如下步驟:輸入級的一對共源極nmos管和pmos管處于相反工作狀態,負載級的另一對共源極nmos管和pmos管處于相反工作狀態,電壓放大電路等效為負載為二極管的共源級放大電路,通過電阻將輸入級的漏極電壓和負載級的漏極電壓反相,在電壓擺幅變大時,輸入級的mos管和負載級的mos管都進入線性區。

    9、進一步地,當輸入級輸出節點的電壓為高電平時,第三pmos管mp3關閉,第四nmos管mn4打開,所有電流流過電阻,將負載級的漏極電壓降低至低電平。

    10、進一步地,當輸入級輸出節點的電壓為低電平時,第四nmos管mn4關閉,第三pmos管mp3打開,所有電流流過電阻,將負載級的漏極電壓抬升至高電平。

    11、進一步地,電阻隔離負載級的柵極電容和漏極電容,負載級輸出節點的電容減小。

    12、一種半導體芯片,安裝所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路。

    13、與現有技術相比,本專利技術具有以下有益的技術效果:

    14、本專利技術提出的一種基于反相器結構的電壓放大電路,輸入級反相器的輸出端與負載級反相器的輸入端相連,負載級反相器的輸入端與輸出端之間連接電阻,能在輸出電壓擺幅較大的情況下同時擁有較高的線性度,避免了傳統gm-gm結構輸入級mos管進入線性區而負載級mos管仍處在飽和區帶來的跨導不同的影響,能夠提高對輸出擺幅和線性度都有較高要求的高速電路的性能,且具有結構簡單、易于實現的優點,同時節約了時間成本。

    15、本專利技術提出的一種基于反相器結構的電壓放大電路,相比傳統的柵極漏極短接的負載反相器,當輸入信號為大信號時,電路等效于負載為二極管的共源級放大器,傳遞函數為:

    16、

    17、負載級mos管始終處于飽和區,但輸出節點電壓過高或過低會使輸入級mos管被迫進入線性區。此時電路的線性度會受到嚴重影響。本專利技術對負載級的改進可以較好的解決這個問題。

    18、進一步地,電阻r使得輸入級mos管和負載級mos管的漏極電壓一定為反相,選取合適的mos尺寸和電阻阻值,使得電壓擺幅變大時,輸入管和負載管都進入線性區,且跨導的變化趨勢接近,故電路的線性度得到提高。

    19、進一步地,在流過相同大電流的情況下,負載級mos管進入線性區會降低其跨導,等效為電路傳遞函數的分母減小,低頻增益提高。

    20、進一步地,電阻隔離負載級mos管的柵極漏極電容,等效為輸出節點電容減小,提高電路帶寬。

    21、本專利技術提出的一種基于反相器結構的電壓放大電路能夠提高對輸出擺幅和線性度都有較高要求的高速電路的性能,且具有結構簡單、易于實現的優點,同時節約了時間成本。

    本文檔來自技高網
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    【技術保護點】

    1.一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,包括輸入級和負載級,輸入級包括一對共源極NMOS管和PMOS管組成的輸入級反相器,負載級包括另一對共源極NMOS管和PMOS管組成的負載級反相器,輸入級反相器的輸入端連接電源電壓,輸入級反相器的輸出端與負載級反相器的輸入端相連,負載級反相器的輸入端與輸出端之間連接電阻。

    2.根據權利要求1所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,輸入級反相器包括第一PMOS管MP1和第二NMOS管MN2,第一PMOS管MP1的源極與電源電壓連接,第一PMOS管MP1的柵極與第二NMOS管MN2的柵極相連構成輸入級反相器的輸入節點,第一PMOS管MP1的漏極與第二NMOS管MN2的漏極相連構成輸入級反相器的輸出節點,第二NMOS管MN2的源極接地。

    3.根據權利要求2所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,負載級反相器包括第三PMOS管MP3和第四NMOS管MN4,第三PMOS管MP3的源極接電源電壓,第三PMOS管MP3的柵極與第四NMOS管MN4的柵極連接構成負載級反相器的輸入節點,第三PMOS管MP3的漏極與第四NMOS管MN4的漏極連接構成負載級反相器的輸出節點,第四NMOS管MN4的源極接地。

    4.根據權利要求3所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,輸入級反相器的輸出節點與負載級反相器的輸入節點相連。

    5.根據權利要求3所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,負載級反相器的輸入節點和負載級反相器的輸出節點通過電阻相連。

    6.一種基于反相器結構的電壓放大電路的控制方法,利用權利要求1-5任一項中所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,包括如下步驟:輸入級的一對共源極NMOS管和PMOS管處于相反工作狀態,負載級的另一對共源極NMOS管和PMOS管處于相反工作狀態,電壓放大電路等效為負載為二極管的共源級放大電路,通過電阻將輸入級的漏極電壓和負載級的漏極電壓反相,在電壓擺幅變大時,輸入級的MOS管和負載級的MOS管都進入線性區。

    7.根據權利要求6所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路的控制方法,其特征在于,當輸入級輸出節點的電壓為高電平時,第三PMOS管MP3關閉,第四NMOS管MN4打開,所有電流流過電阻,將負載級的漏極電壓降低至低電平。

    8.根據權利要求6所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路的控制方法,其特征在于,當輸入級輸出節點的電壓為低電平時,第四NMOS管MN4關閉,第三PMOS管MP3打開,所有電流流過電阻,將負載級的漏極電壓抬升至高電平。

    9.根據權利要求6所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路的控制方法,其特征在于,電阻隔離負載級的柵極電容和漏極電容,負載級輸出節點的電容減小。

    10.一種半導體芯片,其特征在于,安裝權利要求1-5任一項中所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路。

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    【技術特征摘要】

    1.一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,包括輸入級和負載級,輸入級包括一對共源極nmos管和pmos管組成的輸入級反相器,負載級包括另一對共源極nmos管和pmos管組成的負載級反相器,輸入級反相器的輸入端連接電源電壓,輸入級反相器的輸出端與負載級反相器的輸入端相連,負載級反相器的輸入端與輸出端之間連接電阻。

    2.根據權利要求1所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,輸入級反相器包括第一pmos管mp1和第二nmos管mn2,第一pmos管mp1的源極與電源電壓連接,第一pmos管mp1的柵極與第二nmos管mn2的柵極相連構成輸入級反相器的輸入節點,第一pmos管mp1的漏極與第二nmos管mn2的漏極相連構成輸入級反相器的輸出節點,第二nmos管mn2的源極接地。

    3.根據權利要求2所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,負載級反相器包括第三pmos管mp3和第四nmos管mn4,第三pmos管mp3的源極接電源電壓,第三pmos管mp3的柵極與第四nmos管mn4的柵極連接構成負載級反相器的輸入節點,第三pmos管mp3的漏極與第四nmos管mn4的漏極連接構成負載級反相器的輸出節點,第四nmos管mn4的源極接地。

    4.根據權利要求3所述的一種基于反相器結構的電壓放大電路,其特征在于,輸入級反相器的輸出節點與負載級反相器的輸入節點相連。

    5.根據權利要求3所述的一...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:李丹黨奕名楊睿煊
    申請(專利權)人:西安交通大學
    類型:發明
    國別省市:

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