【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于長度、厚度或類似線性尺寸的計量，具體涉及以采用光學方法為特征的計量設備，尤其涉及一種短軸全檢機及其工作方法。
技術介紹
1、現有如圖1所示的短軸，在該短軸使用的過程中，其直徑的尺寸和通孔距離端面的尺寸都是很重要的，在其出廠前需要對其進行質量檢測。
2、在相關技術中，一般采用人工通過游標卡尺進行檢測，這種檢測方式只適合少量的產品，當大批量產品需要檢測時，上述檢測方式就會使得效率非常低。
3、因此，如何提高大批量短軸的檢測效率是本領域技術人員亟需解決的技術問題。
4、需要說明的是，本
技術介紹
部分中公開的以上信息僅用于理解本申請構思的
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，因此，并不認為上述描述構成現有技術的信息。
技術實現思路
1、本公開實施例至少提供一種短軸全檢機及其工作方法。
2、第一方面，本公開實施例提供了一種短軸全檢機，其包括：姿態調整工位，用于接收短軸并通過轉動將其調整至所需的姿態；測量工位，用于接收調整姿態后的短軸，并通過外徑測量組件和孔距測量組件分別獲取短軸的外徑數據和孔距數據；打標工位，用于接收短軸并對合格的短軸進行打標；以及移載機構，與控制模塊電性連接；其中所述控制模塊被配置為控制移載機構搬運短軸，使其依次經過姿態調整工位、外徑測量組件、孔距測量組件和打標工位。
3、在一種可選的實施方式中，所述姿態調整工位包括：一對平行設置的輥筒，兩輥筒之間留有間距以接收短軸；驅動器，與兩輥筒相連；以及第一傳感器，用于獲取短軸的銑銷面位置數
4、在一種可選的實施方式中，所述姿態調整工位還包括：推桿；所述推桿位于輥筒的一側，且其軸心與短軸的軸心同軸；所述控制模塊被配置為當銑銷面轉動至所需的位置后，控制推桿推動短軸沿輥筒移動至抓取位，隨后控制移載機構將抓取位中的短軸搬運至外徑測量組件。
5、在一種可選的實施方式中，所述外徑測量組件包括：第一限位底座、第一夾緊工裝和第二傳感器；其中所述控制模塊被配置為控制第一夾緊工裝閉合以加緊第一限位底座上的短軸，隨后控制第二傳感器獲取短軸的外徑數據；所述控制模塊還被配置為控制移載機構將外徑測量完成后的短軸從第一限位底座搬運至孔距測量組件。
6、在一種可選的實施方式中，所述孔距測量組件包括：第二限位底座、第二夾緊工裝、孔定位工裝、端部限位工裝和第三傳感器；其中所述控制模塊被配置為控制第二夾緊工裝和孔定位工裝同步閉合以分別加緊短軸的側壁、插入短軸側壁的通孔，隨后控制端部限位工裝抵住短軸的端面，并通過第三傳感器獲取端部限位工裝的前移距離；所述控制模塊還被配置為控制移載機構將孔距測量完成后的短軸從第二限位底座搬運至打標工位。
7、在一種可選的實施方式中，所述控制模塊被配置為控制第二夾緊工裝和孔定位工裝同步開閉兩次，以使孔定位工裝精準的插入短軸的通孔。
8、在一種可選的實施方式中，所述打標工位包括：第三限位底座、第三夾緊工裝和打標器；其中所述控制模塊被配置為控制第三夾緊工裝閉合以加緊第三限位底座上的短軸，隨后控制打標器對短軸進行打標。
9、在一種可選的實施方式中，所述輥筒的一側設置有導向板；所述導向板上接收有若干短軸，以在推桿將姿態調整后的短軸推走后補入。
10、第二方面，本公開實施例還提供一種短軸全檢機的工作方法，其包括：通過姿態調整工位將短軸調整至所需的姿態；通過測量工位的外徑測量組件獲取短軸的外徑數據；通過測量工位的孔距測量組件獲取短軸的孔距數據；通過打標工位對短軸進行打標；通過移載機構搬運短軸，使其依次經過姿態調整工位、外徑測量組件、孔距測量組件和打標工位。
11、在一種可選的實施方式中，通過姿態調整工位的推桿將短軸沿輥筒移動至抓取位。
12、本專利技術的有益效果是，本短軸全檢機及其工作方法通過姿態調整工位接收的各短軸姿態各不相同，需要對其進行姿態的調整實現統一化，以便于后續的測量工位對其進行尺寸數據測量；同時，移載機構有四個夾爪，四個夾爪分別抓取姿態調整工位、外徑測量組件、孔距測量組件和打標工位上放置的短軸，并將相應短軸搬運至后一工位，從而實現快速連續的搬運。
13、本專利技術的其他特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優點在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。
14、為使本專利技術的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，本文特舉較佳實施例，并配合所附附圖，作詳細說明如下。
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1.一種短軸全檢機，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的短軸全檢機，其特征在于，
3.如權利要求2所述的短軸全檢機，其特征在于，
4.如權利要求3所述的短軸全檢機，其特征在于，
5.如權利要求4所述的短軸全檢機，其特征在于，
6.如權利要求5所述的短軸全檢機，其特征在于，
7.如權利要求5所述的短軸全檢機，其特征在于，
8.如權利要求3所述的短軸全檢機，其特征在于，
9.一種如權利要求1所述的短軸全檢機的工作方法，其特征在于，包括：
10.如權利要求9所述的短軸全檢機的工作方法，其特征在于，
【技術特征摘要】
1.一種短軸全檢機，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的短軸全檢機，其特征在于，
3.如權利要求2所述的短軸全檢機，其特征在于，
4.如權利要求3所述的短軸全檢機，其特征在于，
5.如權利要求4所述的短軸全檢機，其特征在于，
6.如權利要求...
【專利技術屬性】
技術研發人員：金前暴，吳繼祥，
申請(專利權)人：無錫新維特精密機械有限公司，
類型：發明
國別省市：
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