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    一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置制造方法及圖紙

    技術編號:44526933 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-03-07 13:17
    一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,激光器1的子午面與接收透鏡5光軸之間的夾角θ<subgt;1</subgt;為45°~60°,激光器1的光軸與樣品池3的橫截面的夾角θ<subgt;2</subgt;為30°~45°,且激光器1光軸與接收透鏡5光軸在樣品池3橫截面上的投影之間的夾角θ<subgt;3</subgt;為35°~45°。激光器1發出的激光經準直透鏡2準直為平行光束后入射到樣品池3,照射在顆粒樣品4上發生散射。顆粒樣品4產生的散射信號經接收透鏡5會聚到光電探測器6上,由信號采集和處理后得到顆粒濃度信息。本發明專利技術的積極效果是解決了入射光經樣品池壁多次反射造成對散射信號的干擾。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及顆粒測量,具體而言,涉及一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置


    技術介紹

    1、目前,環境污染顆粒物濃度的測量方法主要有濾膜稱重法、微量震蕩天平法、β射線吸收法和光散射法。其中,光散射法是一種技術相對成熟、應用較為簡便的檢測方法。具有靈敏度高、測量速度快和實時性好等優點,應用于大氣環境、工業固體污染源顆粒物的在線檢測。

    2、光散射顆粒濃度測量裝置是連續采集顆粒樣品進入樣品池,樣品池常采用圓形或方形玻璃管。一般入射光的光軸與玻璃管軸線垂直放置,因此,與入射光光軸垂直放置的玻璃管壁對入射光會多次反射,反射光反復照射樣品發生復散射,造成接收散射光角分布不唯一,信號信噪比差;或者入射光軸與玻璃管軸線同軸放置,但需在對側設置光陷阱,否則也會因多次反射和散射而影響測量,同時由于光路過長,會造成光路準直困難和反吹清掃效果差等問題。


    技術實現思路

    1、本專利技術提供一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,以解決入射光多次照射在顆粒樣品測量區域發生多次散射或光路過長的問題。

    2、本專利技術具體采用如下技術手段:

    3、一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,包括激光器1、準直透鏡2、樣品池3、顆粒樣品4、接收透鏡5、光電探測器6。

    4、由激光器1射出測量光,測量光經準直透鏡2準直為平行光束后入射到樣品池3,照射在顆粒樣品4發生散射。產生的散射信號經接收透鏡5會聚到光電探測器6上,經信號采集和處理,得出顆粒物濃度信息。

    5、進一步地,所述激光器1的子午面與接收透鏡5的光軸之間的夾角θ1為45°~60°。

    6、進一步地,所述激光器1光軸與樣品池3的橫截面之間的夾角θ2為30°~45°。

    7、進一步地,所述準直透鏡2與激光器1共軸,用于將激光器1發出的光準直為平行光束。

    8、進一步地,所述接收透鏡5光軸與樣品池3軸線垂直放置,且激光器1光軸與接收透鏡5光軸在樣品池3橫截面上的投影之間的夾角θ3為35°~45°。

    9、進一步地,由所述光電探測器6采集的信號經計算機采集和處理,得到顆粒物濃度信息。

    10、本專利技術的優點和積極效果:

    11、當入射光準直為平行光照射在顆粒樣品4上時,與樣品池軸線傾斜的入射光在樣品池壁上多次反射而不沿反方向反射,最后在樣品池3另一端射出,解決了入射光多次沿反方向反射對顆粒樣品4造成的多次散射和干擾散射信號接收的問題。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,其特征在于:包括激光器(1)、準直透鏡(2)、樣品池(3)、顆粒樣品(4)、接收透鏡(5)、光電探測器(6)。由激光器(1)發出的光經準直透鏡(2)準直為平行光后照射在顆粒樣品(4)上發生散射,其中激光器(1)的子午面與接收透鏡(5)光軸之間的夾角為θ1,激光器(1)的光軸與樣品池(3)橫截面之間以夾角θ2入射。顆粒產生的散射光信號由接收透鏡(5)會聚到光電探測器(6)上后經信號采集和處理得到顆粒濃度信息。其中接收透鏡(5)光軸與樣品池(3)軸線垂直放置,接收透鏡(5)光軸與激光器(1)光軸在樣品池(3)橫截面上的投影之間的夾角為θ3。

    2.根據權利要求1所述的一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,接收透鏡(5)光軸與激光器(1)的子午面之間的夾角θ1為45°~60°。

    3.根據權利要求1所述的一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,激光器(1)的光軸與樣品池(3)之間的夾角θ2為30°~45°。

    4.根據權利要求1所述的一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,接收透鏡(5)光軸與激光器(1)光軸在樣品池(3)橫截面上的投影之間的夾角θ3為35°~45°。

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    【技術特征摘要】

    1.一種傾斜入射式顆粒物濃度檢測裝置,其特征在于:包括激光器(1)、準直透鏡(2)、樣品池(3)、顆粒樣品(4)、接收透鏡(5)、光電探測器(6)。由激光器(1)發出的光經準直透鏡(2)準直為平行光后照射在顆粒樣品(4)上發生散射,其中激光器(1)的子午面與接收透鏡(5)光軸之間的夾角為θ1,激光器(1)的光軸與樣品池(3)橫截面之間以夾角θ2入射。顆粒產生的散射光信號由接收透鏡(5)會聚到光電探測器(6)上后經信號采集和處理得到顆粒濃度信息。其中接收透鏡(5)光軸與樣品池(3)軸線垂直放置,接收透鏡(5)光...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:魏永杰張志行高向瑩
    申請(專利權)人:河北工業大學
    類型:發明
    國別省市:

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