【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于自動化檢測，具體涉及一種材料均勻性的自動化檢測方法和計算機設備。
技術介紹
1、為適應企業數字化轉型的高效率生產需求，企業亟需一套檢測速度快、精度高、成本低的自動化測試方法及系統，便于對供應商來料進行高質量管控。例如，針對醫療、安防、工控等領域探測成像設備，通常需涉及應用包括但不限于金屬板材、碳纖維板材、組裝泡棉、玻璃、金屬鍍膜等材料，輔助設備進行外觀、機械性能、散熱性能、檢測成像等方面的提升，企業需要對以上材料進行均勻性管控及檢驗，進而達到提高設備性能的目的。
2、現有技術通常采用x射線、聲波等探測設備對上述材料進行檢測，獲取x射線、聲波等透射、反射后生成的圖像，通過對圖像的人工或機器識別判斷以上材料內部是否存在缺陷。該技術方案通過人工和機器對x射線、聲波等透射、反射后生成的圖像識別，能夠在一定范圍內判斷材料內部是否存在缺陷，但難以對材料不同區域的致密性、厚度的一致性進行判斷。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是提供一種材料均勻性的自動化檢測方法、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品，能夠對材料不同區域的致密性、厚度的一致性等進行快速檢驗判斷。
2、為了實現上述目的，本專利技術的一個方面提供一種材料均勻性的自動化檢測方法，包括：
3、檢測條件設置步驟，設置x射線發射器的電壓、電流和曝光時間條件，并且設置待測材料的觀察區域和均勻性判定標準；
4、空場測試步驟，按照所設置的電壓、電流和曝光時間條件，利用x射線發
5、滿場測試步驟，按照所設置的電壓、電流和曝光時間條件，將待測材料放置在探測器表面，利用x射線發射器對探測器表面照射x射線，獲得透射圖像作為滿場探測圖像，計算得到滿場探測圖像的像素點灰度值；
6、變異系數計算步驟，根據空場探測圖像的像素點灰度值和滿場探測圖像的像素點灰度值，計算獲取待測材料在觀察區域的變異系數 cv：
7、
8、其中， n為觀察區域的像素點總個數，為觀察區域第 i個像素點位置的衰減系數 u與透射距離 d的乘積，為觀察區域所有像素點位置的衰減系數 u與透射距離 d的乘積的均值，且
9、，
10、其中，為空場探測圖像的（x，y）坐標位置的像素點灰度值，為滿場探測圖像的（x，y）坐標位置的像素點灰度值；
11、均勻性判定步驟，將觀察區域的變異系數 cv與所設置的均勻性判定標準進行對比，當變異系數 cv低于均勻性判定標準時判斷材料均勻性滿足要求，否則判斷材料均勻性不合格。
12、優選地，在空場測試步驟中，根據下式計算得到空場探測圖像的像素點灰度值：
13、
14、其中：為空場測試中（x，y）坐標像素點位置探測器接收的x射線劑量， k為常數。
15、優選地，在滿場測試步驟中，根據下式計算得到滿場探測圖像的像素點灰度值：
16、
17、其中：為滿場測試中（x，y）坐標像素點位置探測器接收的x射線劑量。
18、優選地，在檢測條件設置步驟中，還設置下一次檢測的間隔時間，在均勻性判定步驟中，在判斷材料均勻性是否合格之后，在所設置的間隔時間過后開始下一待測材料的測試。
19、優選地，所述材料包括金屬板材、碳纖維板材、組裝泡棉、玻璃和金屬鍍膜。
20、本專利技術的另一個方面提供一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序以實現上述的方法的步驟。
21、本專利技術的又一個方面提供一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現上述的方法的步驟。
22、本專利技術的又一個方面提供一種計算機程序產品，包括計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現上述的方法的步驟。
23、根據本專利技術上述方面的材料均勻性的自動化檢測方法、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品，能夠對材料不同區域的致密性、厚度的一致性等進行快速檢驗判斷。
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1.一種材料均勻性的自動化檢測方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在空場測試步驟中，根據下式計算得到空場探測圖像的像素點灰度值：
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在滿場測試步驟中，根據下式計算得到滿場探測圖像的像素點灰度值：
4.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，在檢測條件設置步驟中，還設置下一次檢測的間隔時間，在均勻性判定步驟中，在判斷材料均勻性是否合格之后，在所設置的間隔時間過后開始下一待測材料的測試。
5.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，所述材料包括金屬板材、碳纖維板材、組裝泡棉、玻璃和金屬鍍膜。
6.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序以實現權利要求?1-5中任一項所述的方法的步驟。
7.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-5中任一項所述的方法的步驟。
8.一種計算機程序產品，包括計算機程序，
...【技術特征摘要】
1.一種材料均勻性的自動化檢測方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在空場測試步驟中，根據下式計算得到空場探測圖像的像素點灰度值：
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在滿場測試步驟中，根據下式計算得到滿場探測圖像的像素點灰度值：
4.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，在檢測條件設置步驟中，還設置下一次檢測的間隔時間，在均勻性判定步驟中，在判斷材料均勻性是否合格之后，在所設置的間隔時間過后開始下一待測材料的測試。
5.如權利要求1-3中任一...
【專利技術屬性】
技術研發人員：路國光，付志偉，劉陸川，陳義強，
申請(專利權)人：中國電子產品可靠性與環境試驗研究所工業和信息化部電子第五研究所中國賽寶實驗室，
類型：發明
國別省市：
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