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    一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法制造方法及圖紙

    技術編號:44530322 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-03-07 13:19
    本發明專利技術公開一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法,該裝置包括單模單波長光源、光纖跳線、紅光光源、合束器、延長光纖、被測試無源光纖、光軸校準器、衰減片、CCD和處理器,光纖跳線一端與單模單波長光源相連,另一端與合束器相連再依次連接延長光纖和被測試無源光纖,光軸校準器、衰減片和CCD順序設置于被測試無源光纖遠離延長光纖的一端,合束器還與紅光光源相連,CCD與處理器相連。本發明專利技術提供的無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法,通過計算光斑橢圓度、光斑長軸和短軸尺寸來評價激光經過被測試無源光纖后的光斑分布變化情況,判斷不同工藝過程對無源光纖傳輸性能的影響以及無源光纖的光傳輸性能好壞,測試時間短、安全性高、成本低。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術屬于光通信,具體涉及一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法


    技術介紹

    1、光纖激光器由于具有散熱效果好、結構緊湊、易于維護、容易實現高功率單模激光輸出的特點,在材料加工、醫療、通信、遙感以及國防安全等方面具有矚目的應用前景。無源光纖是光纖激光器中泵浦源、合束器、光纖光柵、包層光濾除器、qbh等光纖器件的基礎材料。無源光纖光傳輸性能直接影響光纖器件和光纖激光器的光束質量。無源光纖的光傳輸性能不僅與無源光纖的幾何尺寸、折射率分布、數值孔徑、損耗等參數有關,也與光纖制造工藝過程有關。不同批次的無源光纖制造工藝的細微偏差很難從幾何尺寸、折射率分布、數值孔徑、損耗等光纖參數中體現出來。因此,提供一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法是必要的。


    技術實現思路

    1、為解決現有技術中存在的技術問題,本專利技術的目的在于提供一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法。

    2、為實現上述目的,達到上述技術效果,本專利技術采用的技術方案為:

    3、一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,包括單模單波長光源、光纖跳線、紅光光源、合束器、延長光纖、被測試無源光纖、光軸校準器、衰減片、ccd和處理器,所述光纖跳線一端與單模單波長光源相連,另一端與合束器相連再依次連接延長光纖和被測試無源光纖,所述光軸校準器、衰減片和ccd順序設置于被測試無源光纖遠離延長光纖的一端,所述合束器還與紅光光源相連,所述ccd與處理器相連,所述單模單波長光源輸出的光依次經過光纖跳線、合束器、延長光纖和被測試無源光纖,再經過光軸校準器進行校準后,經過衰減片進入ccd,再通過處理器計算光斑橢圓度、光斑長軸和短軸尺寸來評價激光經過被測試無源光纖后的光斑分布變化情況,判斷不同工藝過程對無源光纖傳輸性能的影響以及無源光纖的光傳輸性能好壞。

    4、進一步的,所述無源光纖光傳輸性能測試裝置還包括升降臺,所述延長光纖或被測試無源光纖的輸出端設置于升降臺上。

    5、進一步的,所述單模單波長光源用于提供單模單波長的光,其輸出光光斑光分布均勻,光斑橢圓度≥95%,波長為1030-1080nm,功率為1-5mw,輸出口為fa/apc接頭。

    6、進一步的,所述光纖跳線為單模光纖跳線,光纖型號為hi1060,所述光纖跳線一頭為fa/apc接頭,用于與單模單波長光源耦合連接,另一頭為光纖裸纖端面,用于與合束器的一根輸入光纖熔接。

    7、進一步的,所述紅光光源的輸出波長為600-700nm。

    8、進一步的,所述被測試無源光纖的輸出端面與衰減片的探測面相距10-30mm。

    9、進一步的,所述光軸校準器包括進光片、進光片孔、出光片、出光片孔、底座和腳墊,所述進光片和出光片同軸設置于底座的兩端,所述進光片和出光片的中心位置分別開設有進光片孔和出光片孔,所述底座下方設置有高度可調節的腳墊。

    10、進一步的,所述底座為頂部敞開且中空的長條形結構,長邊與水平方向平行,長≥20cm。

    11、本專利技術還公開了一種無源光纖光傳輸性能測試方法,包括以下步驟:

    12、1)檢測時,先確認單模單波長光源的光斑橢圓度是否≥95%:

    13、將單模單波長光源與光纖跳線的fa/apc接頭耦合連接,將光纖跳線的光纖裸纖端面與合束器的一根輸入光纖熔接,將紅光光源與合束器的另一根輸入光纖熔接,將合束器的輸出端與延長光纖熔接,將延長光纖的輸出端面固定于升降臺上;

    14、控制紅光光源發出紅光,紅光依次經過合束器和延長光纖輸出,通過調節升降臺的位置以及利用光軸校準器進行校準,確保延長光纖輸出的紅光光束與衰減片的中心軸重合;光路校準結束后,關閉紅光光源,移走光軸校準器;調節延長光纖的輸出端面與衰減片探測面相距10-30mm后,打開單模單波長光源,通過ccd采集光斑圖像并傳輸至處理器,通過處理器計算單模單波長光源的光斑橢圓度,當確認單模單波長光源的光斑橢圓度≥95%時,進行步驟2);

    15、2)將延長光纖的輸出端接入被測試無源光纖,將被測試無源光纖的輸出端設置于升降臺上;

    16、控制紅光光源發出紅光,紅光光源發出的紅光依次經過合束器、延長光纖、被測試無源光纖輸出,通過調節升降臺的位置以及利用光軸校準器進行校準,確保被測試無源光纖輸出的紅光光束與衰減片的中心軸重合;光路校準結束后,關閉紅光光源,移走光軸校準器;調節延長光纖的輸出端面與衰減片探測面相距10-30mm后,打開單模單波長光源,通過ccd采集光斑圖像并傳輸至處理器,通過處理器計算單模單波長光源的光斑橢圓度,當測試的光斑橢圓度≥95%且光斑長軸和短軸尺寸滿足使用需求,證明被測試無源光纖對光斑畸變小,傳輸性能優良。

    17、進一步的,光斑橢圓度的計算公式為:

    18、η=d1/d2

    19、其中,η為光斑橢圓度,用于描述光束質量,光斑橢圓度的大小影響激光應用中激光加工的效率和質量;d1為垂直光軸方向的光斑尺寸;d2為平行光軸方向的光斑尺寸;d1和d2越接近,η越接近100%,說明光斑質量越好,單模單波長光經過無源光纖傳輸后,光斑畸變越小;

    20、光斑尺寸計算公式為:

    21、ω’=2λf/πω

    22、86%聚焦激光能量的直徑計算公式為:

    23、d0=λf/ω

    24、其中,ω’為聚光斑直徑,ω為激光光束半徑,λ為入射激光波長,f為透鏡焦距,d0為含有86%聚焦激光能量的直徑。

    25、與現有技術相比,本專利技術的有益效果為:

    26、本專利技術公開了一種無源光纖光傳輸性能測試裝置及方法,通過激光通過無源光纖后的光斑畸變情況來評判無源光纖除了幾何尺寸、折射率分布、數值孔徑、損耗等參數以外的工藝過程對無源光纖傳輸性能的影響以及無源光纖傳輸性能的評價,測試時間短、安全性高、成本低,是一種針對無源光纖光傳輸性能的可靠的評價手段。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,包括單模單波長光源、光纖跳線、紅光光源、合束器、延長光纖、被測試無源光纖、光軸校準器、衰減片、CCD和處理器,所述光纖跳線一端與單模單波長光源相連,另一端與合束器相連再依次連接延長光纖和被測試無源光纖,所述光軸校準器、衰減片和CCD順序設置于被測試無源光纖遠離延長光纖的一端,所述合束器還與紅光光源相連,所述CCD與處理器相連。

    2.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述無源光纖光傳輸性能測試裝置還包括升降臺,所述延長光纖或被測試無源光纖的輸出端設置于升降臺上。

    3.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述單模單波長光源用于提供單模單波長的光,其輸出光光斑光分布均勻,光斑橢圓度≥95%,波長為1030-1080nm,功率為1-5mW,輸出口為FA/APC接頭。

    4.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述光纖跳線為單模光纖跳線,光纖型號為Hi1060,所述光纖跳線一頭為FA/APC接頭,用于與單模單波長光源耦合連接,另一頭為光纖裸纖端面,用于與合束器的一根輸入光纖熔接。

    5.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述紅光光源的輸出波長為600-700nm。

    6.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述被測試無源光纖的輸出端面與衰減片的探測面相距10-30mm。

    7.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述光軸校準器包括進光片、進光片孔、出光片、出光片孔、底座和腳墊,所述進光片和出光片同軸設置于底座的兩端,所述進光片和出光片的中心位置分別開設有進光片孔和出光片孔,所述底座下方設置有高度可調節的腳墊。

    8.根據權利要求7所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述底座為頂部敞開且中空的長條形結構,長邊與水平方向平行,長≥20cm。

    9.一種無源光纖光傳輸性能測試方法,其特征在于,包括以下步驟:

    10.根據權利要求9所述的一種無源光纖光傳輸性能測試方法,其特征在于,光斑橢圓度的計算公式為:

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    【技術特征摘要】

    1.一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,包括單模單波長光源、光纖跳線、紅光光源、合束器、延長光纖、被測試無源光纖、光軸校準器、衰減片、ccd和處理器,所述光纖跳線一端與單模單波長光源相連,另一端與合束器相連再依次連接延長光纖和被測試無源光纖,所述光軸校準器、衰減片和ccd順序設置于被測試無源光纖遠離延長光纖的一端,所述合束器還與紅光光源相連,所述ccd與處理器相連。

    2.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述無源光纖光傳輸性能測試裝置還包括升降臺,所述延長光纖或被測試無源光纖的輸出端設置于升降臺上。

    3.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述單模單波長光源用于提供單模單波長的光,其輸出光光斑光分布均勻,光斑橢圓度≥95%,波長為1030-1080nm,功率為1-5mw,輸出口為fa/apc接頭。

    4.根據權利要求1所述的一種無源光纖光傳輸性能測試裝置,其特征在于,所述光纖跳線為單模光纖跳線,光纖型號為hi1060,所述光纖跳線一頭為fa/apc接頭,用于與...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:郭潔王在祥孫偉孫舒楊陳昭劉其岳郝昌平趙立果
    申請(專利權)人:江蘇亨通光纖科技有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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