具有背景輻射抑制的ＴＯＦ測距制造技術

一種測量輻射的飛行時間的方法包括：響應于第一調制信號發射經調制輻射（５１）；將經調制輻射（５１）投影到場景（５５）上；以及接收輻射，所接收的輻射至少包括被該場景（５５）反射的經調制輻射。將所接收的輻射（２６，２７）轉換成輻射引起的電信號。將輻射引起的電信號與第二調制信號混合由此產生混合信號，該混合信號被積分由此產生積分信號。當積分信號超過閾值（Ｖｒｅｆ）時，將電荷注入該積分信號。該方法包括在一個或多個時刻對第一和／或第二調制信號施加改變，并在一個或多個時刻測量該積分信號，從而獲取至少一個ＴＯＦ對差信號（６２）。該測量包括使用單檢測器節點（３８）和相關聯的存儲器元件（２５），來獲取ＴＯＦ對差信號（６２）。該方法還包括使用一個或多個經校正的ＴＯＦ對差信號來確定輻射的飛行時間。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】

【技術保護點】
一種用于測量輻射的飛行時間的方法，所述方法包括：　　響應于第一調制信號發出經調制輻射（５１），　　將所述經調制輻射（５１）投影到一場景（５５）上，　　接收輻射，所接收的輻射至少包括被所述場景（５５）反射的經調制輻射，　　將所接收的輻射（２６、２７）轉換成輻射引起的電信號，　　將輻射引起的電信號與第二調制信號混合，從而產生混合信號，　　對所述混合信號積分，從而產生積分信號，　　當所述積分信號超過閾值時，向所述積分信號注入電荷，　　在一個或多個時刻對所述第一和／或第二調制信號施加改變，　　在一個或多個時刻測量所述積分信號，從而獲取至少一個ＴＯＦ對差信號，所述測量包括使用單個檢測器節點和相關聯的電容器來獲取ＴＯＦ對差信號，　　通過只要所述ＴＯＦ對差比基本等于與所注入電荷的幅值相對應的電壓（６５）的一倍或更多倍的值的一半大，就從所述ＴＯＦ對差減去基本等于與所注入電荷的幅值相對應的電壓（６５）的一倍或更多倍的值，且只要所述ＴＯＦ對差比基本等于與所注入電荷的幅值相對應的電壓（６５）的一倍或更多倍的值的負一半小，就給所述ＴＯＦ對差加上基本等于與所注入電荷的幅值相對應的電壓（６５）的一倍或更多倍的值，來獲取經校正的ＴＯＦ對差信號，以及　　使用一個或多個經校正的ＴＯＦ對差信號來確定輻射的飛行時間。...

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...

【專利技術屬性】
技術研發人員：D范紐溫霍夫，W范德滕佩爾，M奎吉克，
申請(專利權)人：布魯塞爾自由大學，
類型：發明
國別省市：BE