【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)涉及一種補(bǔ)償傳感器中發(fā)光介質(zhì)的退化的系統(tǒng)和方法,該傳感 器確定與氣體主體中的一個或多個被分析物相關(guān)的信息。
技術(shù)介紹
包括發(fā)光介質(zhì)的傳感器是己知的,所述傳感器測量發(fā)光介質(zhì)發(fā)光的一 個或多個方面,以確定與氣體主體中的被分析物相關(guān)的信息,所述氣體主 體中的被分析物與該發(fā)光介質(zhì)接觸。專利號為6,325,978; 6,632,402; 6,616,896和6,815,211的美國專利均公開了這類傳感器的實例,所述傳感器 使用發(fā)光淬火來確定流經(jīng)樣品管的氣體中諸如氧氣的氣體濃度,這里以引 用的方式將上述每個專利的內(nèi)容結(jié)合到本申請中。通常,由于發(fā)光介質(zhì)的退化,這些基于發(fā)光的傳感器的精度會隨著時 間而降低,所述發(fā)光介質(zhì)的退化是由光致漂白、原子團(tuán)形成和/或其它現(xiàn)象 造成的。如果不相對頻繁地校準(zhǔn)和/或相對頻繁地更換發(fā)光介質(zhì),則這類常 規(guī)傳感器會因為該降低而變得不可靠。還存在與發(fā)光介質(zhì)退化相關(guān)聯(lián)的其 它缺點。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的一個方面涉及一種傳感器,用于確定與氣體主體中的一個或 多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息。在一個實施例中,所述傳感器包括第一傳感器部分和第二傳感器部分。第一傳感器部分包括發(fā)射器,所述發(fā)射器用 于發(fā)射電磁輻射。所述第二傳感器部分用于可拆卸地耦合到所述第一傳感 器部分并且包括發(fā)光介質(zhì)、存儲模塊和發(fā)射器。發(fā)光介質(zhì)與氣體主體保持 可操作的通信,并且,如果第二傳感器部分可拆卸地耦合到第一傳感器部 分,則設(shè)計該發(fā)光介質(zhì)以接收來自發(fā)射器的電磁輻射。發(fā)光介質(zhì)對其從發(fā) 射器接收的電磁輻射做出響應(yīng)而發(fā)射發(fā)光輻射,以使得可以根據(jù)該發(fā)光輻 射的一個或多個屬性來確定與氣體 ...
【技術(shù)保護(hù)點】
一種傳感器(12),用于確定與氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息,所述傳感器包括: (a)第一傳感器部分(16),其包括發(fā)射器(30),所述發(fā)射器用于發(fā)射電磁輻射;以及 (b)第二傳感器部分(18),用于可拆卸地耦合到 所述第一傳感器部分,所述第二傳感器部分包括: (1)發(fā)光介質(zhì)(24),其與所述氣體主體進(jìn)行可操作的通信,并且如果所述第二傳感器部分可拆卸地耦合到所述第一傳感器部分,則所述發(fā)光介質(zhì)(24)被配置為接收來自所述發(fā)射器的電磁輻射,其中所述發(fā) 光介質(zhì)對其從所述發(fā)射器接收的電磁輻射做出響應(yīng)而發(fā)射發(fā)光輻射,其中根據(jù)所述發(fā)光輻射的一個或多個屬性,確定與所述氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息, (2)存儲模塊(26、50),其儲存與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息,其中所述發(fā) 光介質(zhì)的退化通過所述發(fā)光介質(zhì)而影響所述發(fā)光輻射的發(fā)射,以及 (3)發(fā)射機(jī)(28),所述發(fā)射機(jī)傳輸與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息。
【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】US 2006-10-6 60/849,951;US 2007-10-2 11/866,0461、一種傳感器(12),用于確定與氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息,所述傳感器包括(a)第一傳感器部分(16),其包括發(fā)射器(30),所述發(fā)射器用于發(fā)射電磁輻射;以及(b)第二傳感器部分(18),用于可拆卸地耦合到所述第一傳感器部分,所述第二傳感器部分包括(1)發(fā)光介質(zhì)(24),其與所述氣體主體進(jìn)行可操作的通信,并且如果所述第二傳感器部分可拆卸地耦合到所述第一傳感器部分,則所述發(fā)光介質(zhì)(24)被配置為接收來自所述發(fā)射器的電磁輻射,其中所述發(fā)光介質(zhì)對其從所述發(fā)射器接收的電磁輻射做出響應(yīng)而發(fā)射發(fā)光輻射,其中根據(jù)所述發(fā)光輻射的一個或多個屬性,確定與所述氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息,(2)存儲模塊(26、50),其儲存與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息,其中所述發(fā)光介質(zhì)的退化通過所述發(fā)光介質(zhì)而影響所述發(fā)光輻射的發(fā)射,以及(3)發(fā)射機(jī)(28),所述發(fā)射機(jī)傳輸與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息。2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中,所述第二傳感器部分還包括補(bǔ)償模塊(26、 48),其確定與所述發(fā)光介 質(zhì)的退化相關(guān)的信息。3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的傳感器,其中,所述補(bǔ)償模塊確定與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息,所述發(fā)光介質(zhì) 的退化是由所述發(fā)光介質(zhì)中存在原子團(tuán)引起的。4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中,與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息包括所述發(fā)光介質(zhì)已經(jīng)從所述發(fā)射器接收電磁輻射的時間總量。5、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的傳感器,其中,與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息包括補(bǔ)償因數(shù),所述補(bǔ)償模塊根據(jù) 所述發(fā)光介質(zhì)己經(jīng)從所述發(fā)射器接收電磁輻射的時間總量來確定所述補(bǔ)償 因數(shù)。6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中,所述第一傳感器部分還包括接收機(jī)(34),并且其中,所述發(fā)射機(jī)將與 所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息無線地傳輸?shù)剿鼋邮諜C(jī)。7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的傳感器,其中,所述接收機(jī)將與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息提供給處理器,所述 處理器運(yùn)用所述信息以調(diào)整與氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān) 的信息的確定。8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中,所述第二傳感器部分還包括RFID發(fā)射機(jī)應(yīng)答器,其提供所述存儲模塊 和所述發(fā)射機(jī)。9、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中,當(dāng)將所述發(fā)光介質(zhì)設(shè)置在所述第二傳感器部分內(nèi)時,將與所述發(fā)光介 質(zhì)的退化相關(guān)的信息儲存到所述存儲模塊,并且其中,所述存儲模塊靜態(tài) 地儲存與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息。10、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器,其中, 所述發(fā)射機(jī)無線地傳輸與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信息。11、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的傳感器,其中, 所述一個或多個氣態(tài)被分析物包括氧氣。12、 一種系統(tǒng)(10),用于確定與氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物相關(guān)的信息,所述系統(tǒng)包括(a) 處理器(14);以及(b) 傳感器(12),所述傳感器包括(1) 第一傳感器(16)部分,其包括(i )發(fā)射器(30),用于發(fā)射幅度調(diào)制的電磁輻射,和 (ii)光敏檢測器(32),用于接收電磁輻射并且對所接收的電磁輻射做出響應(yīng)而生成一個或多個輸出信號,所述輸出信號指示所接收的電磁輻射的幅度;以及(2) 第二傳感器部分(18),用于可拆卸地耦合到所述第一傳感 器部分,所述第二傳感器部分包括(i )發(fā)光介質(zhì)(24),其與所述氣體主體進(jìn)行可操作的通信, 并且如果所述第二傳感器部分可拆卸地耦合到所述第一傳感器部 分,則所述發(fā)光介質(zhì)(24)被配置為接收來自所述發(fā)射器的幅度 調(diào)制的電磁輻射,其中所述發(fā)光介質(zhì)對其從所述發(fā)射器接收的電 磁輻射做出響應(yīng)而發(fā)射發(fā)光輻射,其中根據(jù)所述發(fā)光輻射的一個 或多個屬性,確定與所述氣體主體中的一個或多個氣態(tài)被分析物 相關(guān)的信息,還將所述發(fā)光介質(zhì)配置為如果所述第二傳感器部 分可拆卸地耦合到所述第一傳感器部分,則將所述發(fā)光輻射的一 部分引導(dǎo)到所述光敏檢測器,(ii) 存儲模塊(26、 50),其儲存與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相 關(guān)的信息,其中所述發(fā)光介質(zhì)的退化通過所述發(fā)光介質(zhì)而影響所 述發(fā)光輻射的發(fā)射,以及(iii) 發(fā)射機(jī)(28),其傳輸與所述發(fā)光介質(zhì)的退化相關(guān)的信 息,其中所...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:C米勒,
申請(專利權(quán))人:RIC投資有限責(zé)任公司,
類型:發(fā)明
國別省市:US[美國]
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