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    發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置制造方法及圖紙

    技術編號:5598803 閱讀:327 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
    本實用新型專利技術公開了一種發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測 量裝置,其特點是,包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和 計算機,被測發光二極管置于積分球內,用連接光纖連接積分球與分 光器件,發光二極管發出的光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器 內的采樣、放大電路放大及A/D轉換后送入計算機數據處理。本實用新 型的有益效果是:裝置結構簡單,用本裝置測試方法具有操作簡便、快 捷、測量準確可靠等優點,可使用于LED生產企業,LED檢測實驗室 等方面。(*該技術在2018年保護過期,可自由使用*)

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置
    技術介紹
    半導體發光二極管具有體積小、壽命長、能耗低、瞬時啟動、顏色 豐富等優點,是一種新型環保節能的冷光源。目前己廣泛應用于指示燈、顯示屏、交通信號燈等方面。而白光發光二極管由于色溫低、固體元件 特性強、耐震動、反應時間快等特性必將逐漸取代白熾燈、日光燈,成為節能環保的新一代照明燈具。按照現行的行業標準SJ2355.1發光二極 管發光波長與光譜半寬度的測試裝置,如圖1所示,它包括恒流源、單 色儀、探測器。測試方法為被測發光二極管由恒流源供電,當被測發 光二極管的正向工作電流達到規定值時,旋轉單色儀轉鼓,使指示器達 最大值,讀出波長數值,即為該器件的發光峰值波長。測出發光峰值后, 分別朝兩個方向再旋轉單色儀轉鼓,使指示器讀數為最大值一半時,讀 出最大值的兩個一半值,兩者之差即為光譜半寬度值。該測試方法過程 較為復雜、時間較長、測量值不夠準確。
    技術實現思路
    本技術的目是為了克服現有發光二極管發光波長與光譜半寬度 的測試裝置所帶來測試方法過程較為復雜、測量時間較長、測量值不夠 準確的缺點,提供一種發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置, 符合有關發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測試標準。本技術的技術方案是,發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特點是,包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器 和計算機,被測發光二極管置于積分球內,用連接光纖連接積分球與分光器件,發光二極管發出的光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器 內的采樣、放大電路放大及A/D轉換后送入計算機數據處理。 所述的分光器件為衍射光柵。所述的積分球的直徑為180mm。 本技術的有益效果是裝置結構簡單,用本裝置測試方法具有 操作簡便、快捷、測量準確可靠等優點,可使用于LED生產企業,LED 檢測實驗室等方面。附圖說明圖1為行業標準SJ2355.1發光二極管發光波長與光譜半寬度的測試 原理圖2為本發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置測試原理 圖。具體實施方式發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,由圖2所示,其 特點是,包括積分球1、連接光纖3、分光器件4、 CCD探測器5和計 算機6 ,被測發光二極管2置于直徑為180mm的積分球1內,用連接 光纖3連接積分球1與為衍射光柵的分光器件4,發光二極管2發出的 光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器內的采樣、放大電路放大及 A/D轉換后送入計算機數據處理,得到被測發光二極管的光譜曲線。移 動光標,點擊光譜曲線的最大值處,根據軟件可讀出峰值輻射波長。再 將光標分別移到峰值輻射波長的兩側,分別讀出兩個峰值輻射波長的半 值,兩者相減即為輻射帶寬。權利要求1. 一種發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特征在于,包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和計算機,被測發光二極管置于積分球內,用連接光纖連接積分球與分光器件,發光二極管發出的光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器內的采樣、放大電路放大及A/D轉換后送入計算機數據處理。2. 根據權利要求1所述的發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特征在于,所述的分光器件為衍射光柵。3. 根據權利要求1所述的發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特征在于,所述的積分球的直徑為180mm。專利摘要本技術公開了一種發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特點是,包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和計算機,被測發光二極管置于積分球內,用連接光纖連接積分球與分光器件,發光二極管發出的光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器內的采樣、放大電路放大及A/D轉換后送入計算機數據處理。本技術的有益效果是裝置結構簡單,用本裝置測試方法具有操作簡便、快捷、測量準確可靠等優點,可使用于LED生產企業,LED檢測實驗室等方面。文檔編號G01J3/12GK201297960SQ200820153980公開日2009年8月26日 申請日期2008年10月14日 優先權日2008年10月14日專利技術者航 于, 鴦 吳, 瑛 崔 申請人:上海市激光技術研究所本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種發光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置,其特征在于,包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和計算機,被測發光二極管置于積分球內,用連接光纖連接積分球與分光器件,發光二極管發出的光成像在CCD的感光面上,經CCD探測器內的采樣、放大電路放大及A/D轉換后送入計算機數據處理。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:崔瑛于航吳鴦
    申請(專利權)人:崔瑛于航吳鴦
    類型:實用新型
    國別省市:31

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