本發(fā)明專利技術公開了一種MOCVD反應系統(tǒng),該反應系統(tǒng)包括反應腔、噴淋盤、加熱基座、加熱器、出氣口以及溫控裝置,所述溫控裝置將所述噴淋盤的溫度進行有效控制,從而有利于提高MOCVD沉積薄膜的質量,同時又減小工藝氣體消耗。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及半導體薄膜沉積設備,尤其涉及一種MOCVD反應系統(tǒng)。
技術介紹
眾所周知,金屬有機物化學氣相沉積(MOCVD,Metal-Organic Chemical Vapor Deposition)法已廣泛應用于制備發(fā)光二極管。MOCVD是制備化合物半導體薄膜的一項關 鍵技術,它利用較易揮發(fā)的有機物,如(^a(CH3)3等作為較難揮發(fā)的金屬原子的源反應物,與 NH3、AsH3等氫化物發(fā)生反應,在加熱的襯底上生成GaN、GaAs等薄膜,用于微電子或光電子 器件。現有的MOCVD反應系統(tǒng)包括反應腔;噴淋盤,設置于所述反應腔的頂部,其上設置有進氣口,所述進氣口用于輸入反應 氣體;加熱基座,位于所述反應腔的底部,置于一旋轉軸上;加熱器,對所述加熱基座進行加熱;以及出氣口,設置在所述反應腔的底部,用于排出反應副產物。在使用時,襯底置于所述加熱基座上,所述加熱基座可按中心旋轉,工藝氣體與金 屬有機化學物通過噴淋盤射入反應腔。MOCVD外延成膜過程如下MO源和工藝氣體在噴淋盤內混合并噴射注入到反應腔體,轉移至襯底表面;在沉積區(qū)域,高溫導致源分解和其他氣相反應,形成對膜生長和生成副產品有用 的前驅物;前驅物輸運至襯底生長表面;前驅物吸附在生長表面;前驅物擴散到成膜點;表面反應副產品從表面被吸走;反應副產品運輸到主氣流區(qū)域,遠離沉積區(qū)并從反應腔的出口流出。利用M0CVD,可以形成P型和N型摻雜的同質和異質半導體外延層和本征半導體外 延層,以及多量子阱有源層。采用噴淋盤可以使工藝氣體有良好的溫度均勻性并在襯底表 面均勻分布,從而可獲得膜厚與雜質分布均勻的外延層。然而,現有的MOCVD反應系統(tǒng)沒有噴淋盤溫度控制系統(tǒng),從而使得噴淋盤的溫度 不能得到有效控制。如果噴淋盤的溫度太高(因噴淋盤與加熱基座距離太近),MO源和工 藝氣體在噴淋盤內混合會導致源分解和其他氣相反應,反應生成物沉積在噴淋盤的內外表 面,有時會剝離掉在襯底表面,形成灰塵顆粒,嚴重時還會造成噴淋盤的噴氣孔堵塞;如果 噴淋盤的溫度太低,將使反應腔內襯底表面源分解和氣相反應速率降低,造成MO源和工藝 氣體的極大浪費。因此,有必要對現有的MOCVD反應系統(tǒng)進行改進。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種MOCVD反應系統(tǒng),以提高MOCVD沉積薄膜的質量,同時 又減小工藝氣體消耗。為解決上述問題,本專利技術提出一種MOCVD反應系統(tǒng),用于在襯底上淀積薄膜,該反 應系統(tǒng)包括反應腔;噴淋盤,設置于所述反應腔的頂部,包括一反應氣體混合腔,所述噴淋盤的頂部設 置有進氣口,工藝氣體及金屬有機物源通過所述進氣口進入所述反應氣體混合腔,并進行 混合;所述噴淋盤的底部設有多個通孔,混合后的工藝氣體及金屬有機物源通過所述通孔 噴出;加熱基座,位于所述反應腔的底部,置于一旋轉軸上,所述襯底置于所述加熱基座 上;加熱器,對所述加熱基座進行加熱;出氣口,設置在所述反應腔的底部,用于排出反應副產物;以及溫控裝置,將所述噴淋盤的溫度控制在40 400°C。可選的,所述溫控裝置將所述噴淋盤的溫度控制在150 200°C。可選的,所述溫控裝置為熱交換器。可選的,所述熱交換器包括液體溫控腔,設置在所述噴淋盤的頂部,且所述液體溫控腔的底部與所述噴淋盤 的頂部共用,所述液體溫控腔的一側設有液體進口,另一側設有液體出口 ;熱膨脹箱,提供循環(huán)液體;電加熱器,對所述循環(huán)液體進行加熱;離心泵,使所述加熱后的循環(huán)液體從所述液體進口進入所述液體溫控腔,通過所 述液體溫控腔的底部與所述噴淋盤進行熱交換,并從所述液體出口流出,進入所述熱膨脹 箱。可選的,所述加熱后的循環(huán)液體的溫度為40 400°C。可選的,所述加熱后的循環(huán)液體的溫度為150 200°C。可選的,所述循環(huán)液體為礦物油(Mineral Oil)、合成油(Synthetic Oil)、硅油 (Silicone Oil)、乙二醇水溶液(glycol/water)、工藝冷卻水(Process Cooling Water)中 的一種或多種。可選的,所述液體溫控腔內的循環(huán)液體的壓力為1 IOOpsig ;其中,psig中的 psi的含義為即磅力/平方英寸(pound per square inch),psig中的g的指表壓(gauge), 即壓力表顯示的數值。可選的,所述液體溫控腔內的循環(huán)液體的流量為10 1500gpm ;其中gpm的含義 為力口倉 / 分鐘(gallon per minute)。可選的,所述熱交換器還包括過濾器,所述過濾器在加熱之前對所述熱膨脹箱內 的控溫液體進行過濾。可選的,所述熱交換器還包括控制面板,所述控制面板對所述電加熱器的加熱溫 度進行設置。與現有技術相比,本專利技術提供的MOCVD反應系統(tǒng)包括反應腔、噴淋盤、加熱基座、 加熱器、出氣口以及溫控裝置,所述溫控裝置將所述噴淋盤的溫度進行有效控制,從而有利 于提高MOCVD沉積薄膜的質量,同時又減小工藝氣體消耗。附圖說明圖1為本專利技術實施例提供的MOCVD反應系統(tǒng)的結構示意圖;圖2為本專利技術實施例提供的噴淋盤的底部的結構示意圖。具體實施例方式以下結合附圖和具體實施例對本專利技術提出的MOCVD反應系統(tǒng)作進一步詳細說明。 根據下面說明和權利要求書,本專利技術的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是,附圖均采用非常 簡化的形式且均使用非精準的比率,僅用于方便、明晰地輔助說明本專利技術實施例的目的。本專利技術的核心思想在于,提供一種MOCVD反應系統(tǒng),該反應系統(tǒng)包括反應腔、噴淋 盤、加熱基座、加熱器、出氣口以及溫控裝置,所述溫控裝置將所述噴淋盤的溫度進行有效 控制,從而有利于提高MOCVD沉積薄膜的質量,同時又減小工藝氣體消耗。請參考圖1至圖2,其中,圖1為本專利技術實施例提供的MOCVD反應系統(tǒng)的結構示意 圖,圖2為本專利技術實施例提供的噴淋盤的底部的結構示意圖,如圖1至圖2所示,本專利技術實 施例提供的MOCVD反應系統(tǒng)用于在襯底上淀積薄膜,該反應系統(tǒng)包括反應腔110;噴淋盤120,設置于所述反應腔110的頂部,包括一反應氣體混合腔121,所述噴淋 盤120的頂部設置有進氣口 122,工藝氣體及金屬有機物源通過所述進氣口 122進入所述反 應氣體混合腔121,并進行混合;所述噴淋盤120的底部設有多個通孔123,混合后的工藝氣 體及金屬有機物源通過所述通孔123噴出;加熱基座130,位于所述反應腔110的底部,置于一旋轉軸140上,所述襯底200置 于所述加熱基座130上;加熱器,對所述加熱基座130進行加熱;出氣口 150,設置在所述反應腔110的底部,用于排出反應副產物;以及溫控裝置,將所述噴淋盤120的溫度控制在40 400°C。其中,所述旋轉軸140可旋轉,從而帶動所述加熱基座130旋轉,使所述襯底200 上的薄膜沉積得更均勻。進一步地,所述溫控裝置將所述噴淋盤120的溫度控制在150 200°C。進一步地,所述溫控裝置為熱交換器。進一步地,所述熱交換器包括液體溫控腔161,設置在所述噴淋盤120的頂部,且所述液體溫控腔161的底部與 所述噴淋盤120的頂部共用,所述液體溫控腔161的一側設有液體進口 162,另一側設有液 體出口 163 ;熱膨脹箱,提供循環(huán)液體;電加熱器,對所述循環(huán)液體進行加熱;離心泵,使所述加熱本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種MOCVD反應系統(tǒng),用于在襯底上淀積薄膜,其特征在于,包括:反應腔;噴淋盤,設置于所述反應腔的頂部,包括一反應氣體混合腔,所述噴淋盤的頂部設置有進氣口,工藝氣體及金屬有機物源通過所述進氣口進入所述反應氣體混合腔,并進行混合;所述噴淋盤的底部設有多個通孔,混合后的工藝氣體及金屬有機物源通過所述通孔噴出;加熱基座,位于所述反應腔的底部,置于一旋轉軸上,所述半導體襯底置于所述加熱基座上;加熱器,對所述加熱基座進行加熱;出氣口,設置在所述反應腔的底部,用于排出反應副產物;以及溫控裝置,將所述噴淋盤的溫度控制在40~400℃。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員:肖德元,張汝京,饒青,程蒙召,
申請(專利權)人:映瑞光電科技上海有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:31
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