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    一種快脈沖電壓下磁芯磁化特性的測試方法及裝置制造方法及圖紙

    技術編號:6600887 閱讀:338 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
    本發明專利技術涉及一種磁芯在快脈沖電壓下的磁芯磁化性能的測試方法及裝置,采用單位面積單匝饋入感應腔初級的脈沖電壓陡度,即Vp/(n·Se·tr)作為表征磁芯磁化磁場強度特性的特征參數,通過改變快前沿脈沖電壓發生器的充電電壓或繞組匝數,測試獲得不同特征參數快脈沖電壓下的磁芯磁滯回線。本發明專利技術的測試裝置,包括低電感電容器C、快響應電阻分壓器RD1/RD2、短間隙氣體開關Gap、初級繞組、次級繞組、電流線圈和外圓柱筒,測試裝置能夠產生前沿小于20ns、幅值20~80kV的快前沿脈沖電壓,達到FLTD和IVA實際工作條件下的磁化磁場強度特征參數值。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術給出了一種磁芯在快脈沖電壓下的磁芯磁化性能的測試方法及裝置,采用單位面積單匝饋入感應腔初級的脈沖電壓陡度,即Vp/(η · Se · tr)作為表征磁芯磁化磁場強度特性的特征參數,通過改變快前沿脈沖電壓發生器的充電電壓或繞組匝數,測試獲得不同特征參數快脈沖電壓下的磁芯磁滯回線。
    技術介紹
    感應電壓疊加器((Inductive Voltage Adder,簡稱IVA)和快放電直線型變壓器 (Fast Linear Transformer Driver,簡稱FLTD)在快Z箍縮、閃光照相、強激光、高功率微波和粒子束產生等領域具有廣闊應用前景。IVA和LTD共同之處它們本質上是變比為1 1 的快脈沖變壓器,借助于磁芯,利用電磁感應,在次級實現多個初級并聯輸入電流的疊加和多級感應腔電壓的疊加。磁芯為FLTD和IVA的關鍵部件,起到初次級間能量耦合、電壓和能量疊加等作用,其性能直接影響能量傳輸效率和輸出脈沖參數。要獲得高的耦合效率,要求磁芯在傳遞脈沖期間不能飽和、具有高相對脈沖磁導率、低損耗和快時間響應。適于FLTD 和IVA的高頻磁芯材料主要有坡莫合金、變壓器硅鋼、非晶態合金等。IVA磁芯一般采用厚度為25 μ m的2605Co非晶帶材先熱磁處理再夾絕緣膜繞制, 層間絕緣大于140V,磁環直徑約lm,制作工藝復雜,造價高昂,國外對大陸禁運。FLTD磁芯一般采用0. 08 0. 05mm硅鋼先退火再夾絕緣膜繞制,為降低磁芯損耗,國內外正在研制非晶帶夾膜或層間涂覆絕緣涂層的非晶磁芯。IVA和FLTD感應腔需要的磁芯尺寸大,如IMA LTD模塊磁芯直徑約2m、1. 5MV IVA感應腔磁芯約1. 2m。大尺寸磁芯在研制過程中需要通過試制小尺寸樣品磁芯,確定磁芯帶材的熱磁處理條件、材料、制作工藝,測試其磁化特性, 對小樣品磁芯磁化性能測試時,要保證測試條件與大尺寸磁芯實際工作條件的磁化磁場強度特性相同。目前缺乏表征快脈沖電壓下磁芯磁化磁場強度特性的特征參數和測試裝置,磁芯性能測試時磁芯的幾何參數、截面積、磁環個數和初級作用電壓脈沖各不相同,沒有表征磁芯磁化磁場強度特性的特征參數,導致無法通過小樣品磁環的測試結果推知大尺寸同種材料和工藝磁環在相同工作條件下的脈沖磁化性能,不同測試條件下的磁芯的測試結果無法比較。
    技術實現思路
    本專利技術目的是給出一個表征磁芯磁化磁場強度特性的特征參數,即單位面積單匝饋入感應腔初級的脈沖電壓陡度,即Vp/(η · Se ·、),規范磁芯磁化性能的測試條件,建立了快脈沖電壓下磁芯磁化性能的測試裝置。只要磁芯材料、熱磁處理條件、制作工藝相同,測試時保證磁芯磁化性能測試條件的特征參數相同,則可由小樣品磁芯的磁化性能推知同種工藝和材料大尺寸磁芯在相同特征參數的磁化性能。改變測試裝置的充電電壓或繞組匝數,可以測試同一磁芯在不同特征參數下的磁化性能,便于不同尺寸規格、材料和工藝磁芯磁化特性比較。磁芯在不同前沿脈沖電壓下的磁化特性與激磁脈沖電壓的幅值、前沿以及磁芯幾何參數、磁化特性參數等因素有關,定義參數α = Vp/(η · Se ·、),其中Vp為初級激磁電壓峰值,η為初級匝數,Se為磁芯有效截面積,tr為激磁脈沖前沿。初級激磁電壓Vp和次級感應電壓Vs與磁芯參數之間有本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    1.一種快脈沖電壓下磁芯磁化特性的測試方法,其特征包括以下步驟:(1)被測磁芯裝入測試腔體之前,測量得到磁芯的截面積Se、平均環長l,初級匝數n1;(2)對磁芯繞組施加單極性反向電流使磁芯復位;(3)給儲能電容器充電,觸發氣體開關Gap,產生快前沿脈沖電壓施加到初級繞組,利用電阻分壓器RD1測量Vp,線圈Ip測量激磁電流,利用電阻分壓器RD2測量Vs,從測量波形得到Vp的峰值、脈沖電壓前沿tr,計算得到特征參數:α=Vp/(n·Se·tr);(4)由安培環路定律□fH·dl=n1I得到磁化磁場強度:(math)??(mrow)?(mi)H(/mi)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mrow)?(msub)?(mi)n(/mi)?(mn)1(/mn)?(/msub)?(mo)&CenterDot;(/mo)?(msub)?(mi)I(/mi)?(mi)p(/mi)?(/msub)?(/mrow)?(mi)l(/mi)?(/mfrac)?(mo);(/mo)?(/mrow)?(/math)(5)由法拉第電磁感應定律,得到磁感應強度:(math)??(mrow)?(mi)B(/mi)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mn)1(/mn)?(mi)Se(/mi)?(/mfrac)?(munderover)?(mo)&Integral;(/mo)?(mn)0(/mn)?(mi)t(/mi)?(/munderover)?(mi)U(/mi)?(mo)&CenterDot;(/mo)?(mi)dt(/mi)?(mo);(/mo)?(/mrow)?(/math)(6)以B為縱坐標、H為橫坐標,即可獲得磁芯在某一特征參數α=Vp/(n·Se·tr)時的磁滯回線;(7)從B-H曲線可以得到磁芯的反向剩余磁感應強度-Br、飽和磁感應強度Bs、磁感應腔強度擺幅ΔB=Bs+Br,平均相對有效脈沖磁導率:μΔr=ΔB/ΔH。...

    【技術特征摘要】
    1.一種快脈沖電壓下磁芯磁化特性的測試方法,其特征包括以下步驟(1)被測磁芯裝入測試腔體之前,測量得到磁芯的截面積Se、平均環長1,初級匝數nl ;(2)對磁芯繞組施加單極性反向電流使磁芯復位;(3)給儲能電容器充電,觸發氣體開關Gap,產生快前沿脈沖電壓施加到初級繞組,利用電阻分壓器RDl測量Vp,線圈Ip測量激磁電流,利用電阻分壓器RD2測量Vs,從測量波形得到Vp的峰值、脈沖電壓前沿tr,計算得到特征參數α =Vp/(η· Se- tr);(4)由安培環路定律口fH · dl = H1I得到磁化磁場強度-M = 1^·;(5)由法拉第電磁感應定律,得到磁感應強度:B= ^U-Cit;(6)以B為縱坐標、H為橫坐標,即可獲得磁芯在某一特征參數α= Vp/(n.Se.tr)時的磁滯回線;(7)從B-H曲線可以得到磁芯的反向剩余磁感應強度-B”飽和磁感應強度Bs、磁感應腔強度擺幅ΔΒ = Bs...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:孫鳳舉曾江濤,邱愛慈叢培天,尹佳輝梁天學,王志國,張國偉
    申請(專利權)人:西北核技術研究所
    類型:發明
    國別省市:87

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