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    非接觸式測溫方法、點溫儀及其應(yīng)用技術(shù)

    技術(shù)編號:6668772 閱讀:280 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
    本發(fā)明專利技術(shù)指出了黑體輻射定律用于非接觸式溫度測量的不準(zhǔn)確性,提出了一種新的溫度測量和計量方法以及相應(yīng)的點溫儀,并且提出了對測溫儀標(biāo)定和刻度的原始創(chuàng)新。由于新穎元器件和數(shù)字化技術(shù)的發(fā)展,由于被測點溫度的變化,引起該點波長和頻率的改變,以波數(shù)代表它們的變化量,從溫度越來越高,波數(shù)越來越大的相互關(guān)系中,只要測定溫度源頭波數(shù)的多少,即達(dá)到了測定源頭溫度高低的目的。由于波數(shù)是能量平均分布的數(shù)字量,統(tǒng)計波數(shù)的多少,即可以達(dá)到溫度精確測量。本發(fā)明專利技術(shù)中表達(dá)的四個公式,明確了一點的熱能與波能之間的定量關(guān)系,因此可以指導(dǎo)測溫儀的設(shè)計、元器件的選擇、軟件的編制和產(chǎn)品的檢驗。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)屬于溫度測量
    ,尤其涉及一種非接觸式測溫方法、一種采用上述 方法的點溫儀及其應(yīng)用,用以替換市場上已有的非接觸式測溫儀和非接觸式溫度傳感器系 統(tǒng),提高測量精度。
    技術(shù)介紹
    在接觸式測溫方法中,國際上已經(jīng)公認(rèn)鉬電阻(-200°C +900°C )和鉬-銠熱電 偶(300°C 1450°C )其測量的溫度是準(zhǔn)確的,并可作為接觸式計量溫度的標(biāo)準(zhǔn)具,因為它 具有測量一個點的溫度,并且與接觸該點的表面材料無關(guān)的特性,在溫度緩慢變化或者靜 態(tài)的條件下具有很高的精度。但是由于鉬電阻和熱電偶在高溫狀態(tài)下不能勝任、動態(tài)目標(biāo) 不能應(yīng)用、與現(xiàn)代計算機高速響應(yīng)不能配套等原因,未來的發(fā)展還是非接觸式測溫方法趨 于主導(dǎo)地位。由于被測目標(biāo)表面受對流、傳導(dǎo)、熱輻射的影響,其表面溫度不可能均勻,即使 是一個保溫箱,把對流、傳導(dǎo)、熱輻射全部隔絕,箱內(nèi)放置的物體表面溫度仍然是不均勻分 布,只是隔絕狀態(tài)下是穩(wěn)定的溫度梯度與不隔絕狀態(tài)下是隨機變化的溫度梯度的差別。所 以測定一個點的溫度才能表示溫度是一個精確的概念,測定一個面的溫度是一個模糊的、 大約的概念。并且溫度是度量物體冷熱的物理量,其度量時對任何材料應(yīng)該一視同仁。可 是現(xiàn)在市場上已經(jīng)在廣泛應(yīng)用的非接觸式測溫儀,如許多國家在生產(chǎn)的非接觸式紅外測溫 儀,光學(xué)高溫計,精密輻射高溫計等,都不能測量點溫,都與被測表面的材料有關(guān),與非接觸 測量的距離變化有關(guān)。這些測溫儀的理論依據(jù)是黑體輻射定律,德國物理學(xué)家普朗克在 1900年做這個實驗的出發(fā)點是想修正維恩提出的最大輻射功率的波長隨著溫度升高向短 波方向移動的位移定律。但這個實驗的最大貢獻(xiàn)卻是為量子光學(xué)的建立提供了依據(jù),因為 他用數(shù)學(xué)推導(dǎo)方法得到了電磁波的量子化假說,普朗克與1905年提出光子理論第一人的 愛因斯坦的光子假說都成為量子力學(xué)的基石。他們的實驗與理論確認(rèn)了光的波粒二象性, 結(jié)束了三百多年的爭論。普朗克發(fā)現(xiàn)黑體輻射定律的時候還沒有半導(dǎo)體光電二極管、紅外 探測器,更沒有光纖。他用一個空心球體作為黑體,將熱電偶的端點置于球心,加熱球體外 表面,由于內(nèi)表面的積分效應(yīng),使輻射熱聚集到球心處的熱電偶端點,得到了任意溫度下, 黑體輻射功率與輻射波頻率或者波長之間的關(guān)系,稱為普朗克黑體輻射定律。我們通過多 年的實踐與研究表明該定律存在兩個問題其一,熱電偶端點是兩根不同材料的金屬絲結(jié) 點受熱,產(chǎn)生電動勢,我們稱為熱電效應(yīng),不是光電效應(yīng),但根據(jù)黑體輻射定律,黑體輻射波 是一種光波,加熱了熱電偶,實際上光波轉(zhuǎn)換成電流,必須具有光電效應(yīng)的轉(zhuǎn)換元件才能發(fā) 揮最大的效率;問題之二 眾所周知,熱電偶只有接觸被測物才有正確的溫度值,像普朗克 的實驗裝置那樣,既不是接觸式,又不是埋入式,將熱電偶置于熱場空間的球心能量不可能 準(zhǔn)確代表內(nèi)球面的能量。實踐證明普朗克定律應(yīng)用于測溫技術(shù)中,只是一個近似溫度或者 相對溫度,不是真實溫度。即使后人采用了先進(jìn)的傳感器光纖、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換元件,只要 以黑體輻射為標(biāo)準(zhǔn),非黑體采用調(diào)整輻射系數(shù)補償溫度的方法,同樣得到的是一個穩(wěn)定的、 不正確的溫度,因為其信號接收與處理方法,無法滿足真實溫度的要求,尤其輻射系數(shù)與同類材料組分差別、材料表面粗糙度差別、顏色差別有關(guān),采用雙波長比較法,可以補償距離 變化給溫度帶來的誤差,但距離又與輻射系數(shù)、提供信息的目標(biāo)面積等因素攪拌在一起,沒 有一種固定的關(guān)系式。因此市場上已經(jīng)存在的以普朗克黑體輻射定律為基礎(chǔ)的非接觸式測 溫儀,實際上均不能真正正確地測量溫度。
    技術(shù)實現(xiàn)思路
    為了解決上述的技術(shù)問題,本專利技術(shù)的目的是提供一種非接觸式測溫方法以及采用 上述方法的點溫儀,以及該點溫儀作為標(biāo)準(zhǔn)具的應(yīng)用,達(dá)到了光學(xué)點溫的測量,并且具有與 材料無關(guān)、與輻射波無關(guān)、與發(fā)熱體面積無關(guān)、與非接觸有限距離變化無關(guān)的特性。我們確認(rèn),以波動光學(xué)成像理論為基礎(chǔ),結(jié)合20世紀(jì)50年代末已經(jīng)誕生的傳感器 光纖以及在量子光學(xué)引導(dǎo)下在20世紀(jì)60年代問世的半導(dǎo)體激光器、光電二極管等器件,完 全可以把非接觸式測溫儀徹底改正。波動光學(xué)成像理論告訴我們,一個單球面透鏡像差大, 好比單透鏡的玩具照相機,在準(zhǔn)確調(diào)焦下,雖然像面邊緣不清楚,但像面中心始終是清楚地 呈現(xiàn)在我們面前,證明目標(biāo)表面與透鏡同心的那一部分波能不失真地到達(dá)了像面,用光欄 可以進(jìn)一步縮小中心像面,然后再用光纖端面與像面中心耦合,實現(xiàn)點目標(biāo)測量目的。從波動光學(xué)經(jīng)典理論可知,光波的頻率(Y),是真空中的光速(C)除以該光波的 波長(λ ),即;Y = C/ λ,C = 30萬公里/秒。貝丨」γ = C · Ln' λ,因為1/ λ是In λ的 微分。現(xiàn)定義波數(shù)(m)是波長的倒數(shù),即m = l/λ = Ln' λ(1)式(1)表示波動光學(xué)指出的任何物質(zhì)都在連續(xù)不斷地波動,溫度引起波動頻率 的改變,溫度與單位時間內(nèi)波動的次數(shù),簡稱為“波數(shù)”成正比,即溫度越來越高,波數(shù)越來 越大,得到m = Ln' T/b(2)式(2)中b為兩個波數(shù)之間的間隔,T為開爾文溫度。說明波長與溫度的關(guān)系呈 現(xiàn)單調(diào)下降性,則波數(shù)與溫度的關(guān)系呈現(xiàn)單調(diào)上升性。我們只要測定波數(shù),即得到了對應(yīng)的 溫度。但波數(shù)與光波的頻率一樣,向前傳遞的速度太快了,目前還沒有器件能直接分辨兩個 波數(shù)之間的間隔,也就是沒有能力直接計量波數(shù)的個數(shù)。另一方面,波數(shù)前進(jìn)的路程,稱為 “光程”,是一條直線,但這一條直線不是勻速運動形成,而是按自然對數(shù)的規(guī)律形成。所以 采取其中一種方法,即把溫度的變化引起單位時間內(nèi)波數(shù)數(shù)量的改變轉(zhuǎn)換為波數(shù)功率的改 變,然后再把波數(shù)功率微分,用微分后微單元的個數(shù)表示相應(yīng)的波數(shù),這就是采用光電探測 器實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換,把波數(shù)的光功率轉(zhuǎn)換成電功率,再用模數(shù)轉(zhuǎn)換器A/D,把電功率微分,我們 稱為碼數(shù),然后由微型計算機統(tǒng)計碼數(shù)的多少表示相應(yīng)的溫度。由此得到下列公式;N = {LnT/(Nh-No) }· (Nh/B)-No(3)式中;N為對應(yīng)溫度T的十進(jìn)制碼數(shù);LnT為溫度的自然對數(shù)值,其中T為開爾文溫 度,T = 273+°C,Nh為設(shè)定的測溫范圍內(nèi)上限溫度的碼數(shù),或者是光電轉(zhuǎn)換器件飽和點的碼 數(shù);No為設(shè)定的測溫范圍內(nèi)下限溫度的碼數(shù),或者是光電轉(zhuǎn)換器件截止點的碼數(shù);B為兩個 碼之間的間距,可由下式得到B = LnT/N(4)如果用式(3)求B時,規(guī)定No = 0,即與式(4) 一致。若碼數(shù)相對增大,則B值縮小,測溫的精度相對提高。公式C3)具有普遍的適應(yīng)性,可以方便檢查產(chǎn)品是否達(dá)到設(shè)計指 標(biāo),并且方便地編寫軟件,當(dāng)被生產(chǎn)的測溫儀標(biāo)定和刻度時,如果繼續(xù)使用黑體標(biāo)定爐,那 么只需標(biāo)定兩點,如果用點光源標(biāo)定設(shè)備,可以在1分鐘內(nèi)實現(xiàn)精確的溫度刻度。實際在現(xiàn) 場使用時,本專利技術(shù)的三個特征立即體現(xiàn),達(dá)到了光學(xué)點溫的測量,并且與材料無關(guān),與輻射 波無關(guān),與發(fā)熱體面積無關(guān)、與非接觸有限距離變化無關(guān)的特性。本專利技術(shù)的一種非接觸式測溫方法,把溫度變化引起物面上的波能在單位時間內(nèi)波 數(shù)數(shù)量的改變轉(zhuǎn)換為波數(shù)光功率的改變,然后通過光電轉(zhuǎn)換把波數(shù)的光功率轉(zhuǎn)換成電功 率,再通過模數(shù)轉(zhuǎn)換把電功率微分獲得碼數(shù),然后統(tǒng)計碼數(shù)的多少即可表示相應(yīng)的物面溫 度(參見公式4)。進(jìn)一步說,將物面上一點的發(fā)散球面波通過透鏡會聚在光學(xué)檢波器上, 光學(xué)檢波器檢出最高溫度本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護(hù)點】
    1.一種非接觸式測溫方法,其特征在于,把溫度變化引起物面上的波能在單位時間內(nèi)波數(shù)數(shù)量的改變轉(zhuǎn)換為波數(shù)光功率的改變,然后通過光電轉(zhuǎn)換把波數(shù)的光功率轉(zhuǎn)換成電功率,再通過模數(shù)轉(zhuǎn)換把電功率微分獲得碼數(shù),然后計量碼數(shù)的多少即可表示相應(yīng)的物面溫度。

    【技術(shù)特征摘要】

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:陳堯生
    申請(專利權(quán))人:杭州自動化技術(shù)研究院有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:86

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