用于芯片安全防護的光檢測電路制造技術

用于芯片安全防護的光檢測電路，涉及光電檢測技術領域。本實用新型專利技術包括光電轉換模塊、放大模塊、濾波模塊和輸出模塊。其結構特點是，所述光電轉換模塊包括集成的主光電二極管和從光電二極管，主光電二極管進行光信號的接收，從光電二極管將主光電二極管中溫度效應產生的熱電流釋放掉。放大模塊包括多級電流放大器和有源可調整負載結構，通過對負載數字控制端的調整，得到不同的有源負載組合進行電流的逐級放大；輸出模塊采用施密特觸發器對電路的電壓信號進行鎖存放大和濾波。本實用新型專利技術能減少或消除熱電流對感光二極管的影響，提高檢測電路的安全性，降低信噪比，具有電路簡單、成本低廉、節省功耗的特點。（*該技術在2021年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
１．用于芯片安全防護的光檢測電路，它包括依次連接的光電轉換模塊、放大模塊、濾波模塊和輸出模塊，其特征在于，所述光電轉換模塊包括集成的主光電二極管（Ｄ１）和從光電二極管（Ｄ２），主光電二極管（Ｄ１）進行光信號的接收，從光電二極管（Ｄ２）將主光電二極管（Ｄ１）中溫度效應產生的熱電流釋放掉；放大模塊包括多級電流放大器和有源可調整負載結構，通過對負載數字控制端的調整，得到不同的有源負載組合進行電流的逐級放大；輸出模塊采用施密特觸發器對電路的電壓信號進行鎖存放大和濾波。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：王斌，盛敬剛，
申請(專利權)人：北京同方微電子有限公司，
類型：實用新型
國別省市：11