一種干擾測量方法和裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術實施例提供一種干擾測量方法和裝置，涉及通信領域，以達到在BCCH載頻與至少一個輔載頻循環跳頻的情況下進行干擾測量的目的。該干擾測量方法包括：調整監聽頻點，以監聽目標輔載頻；該目標輔載頻為至少一個輔載頻中的一個；在至少兩個干擾采樣點測量該目標輔載頻上的電平值；獲取測量到的電平值中最小的一個作為干擾測量值。本發明專利技術實施例適用于干擾測量。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】

【技術保護點】
１．一種干擾測量方法，其特征在于，在廣播控制信道ＢＣＣＨ載頻與至少一個輔載頻循環跳頻的情況下，包括：調整監聽頻點，以監聽目標輔載頻；所述目標輔載頻為所述至少一個輔載頻中的一個；在至少兩個干擾采樣點測量所述目標輔載頻上的電平值；獲取測量到的電平值中最小的一個作為干擾測量值。

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】

【專利技術屬性】
技術研發人員：朱拓，金義星，羅青全，馬穎茂，賈婧，韓燕，白文保，劉晶，上官聲長，陳穎悟，
申請(專利權)人：華為技術有限公司，
類型：發明
國別省市：94