本發明專利技術涉及一種應用于相位噪聲測量系統能力驗證的傳遞裝置，該裝置包括：第一高穩晶振通過第一選通開關經第一倍頻器、第一鎖相環路、第一低噪聲壓控振蕩器、第一隔離放大器、第二倍頻器、第一梳狀譜發生器、第一梳狀濾波器、第一功率放大器和第一微波源連接至所述微波檢相端口，所述第一隔離放大器還與所述第一鎖相環路連接；第二高穩晶振通過第二選通開關經第二倍頻器、第二鎖相環路、第二低噪聲壓控振蕩器、第二隔離放大器、第四倍頻器、第二梳狀譜發生器、第二梳狀濾波器、第二功率放大器和第二微波源連接至所述微波檢相端口，所述第二隔離放大器還與所述第二鎖相環路連接。本發明專利技術對提高相位噪聲測量的驗證能力具有重要意義。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種測量系統的傳遞裝置，特別是涉及一種應用于相位噪聲測量系統能力驗證的傳遞裝置。
技術介紹
目前市場上的相位噪聲測量裝置主要包括引進的HP3047A、HP3048A、E5500系列及PN9000等，這些裝置的組成主要包括檢相器、鎖相環路、低噪聲放大器、數據采集和計算機。對于這種大型、精密、復雜的測量系統，國內外均沒有量值傳遞標準，只是對系統做功能性測試。但對同一傳遞標準進行測量時，不同的相位噪聲測量系統得到的相位噪聲測量結果可能存在較大的離散性。以往通過開展相位噪聲參量的比對測量，解決相位噪聲測量系統無法溯源的問題。比對樣品的頻率為IOMHz和10GHz，其中IOMHz晶振用于校準 “相位噪聲測量系統”低端頻率范圍的性能指標，IOGHz點頻微波源是用于校準“相位噪聲測量系統”高端頻率范圍的性能指標。這種比對樣品存在以下的幾種缺點，其一是作為驗證“相位噪聲測量系統”低端頻率范圍性能指標的IOMHz晶振，由于其壓控特性選擇過寬，壓控靈敏度為lOOHz/V，造成在比對測量過程中，環路設置過大，近載頻0. IHz IHz傅氏分析頻率范圍內的測量結果出現較大的離散性。其二是作為驗證“相位噪聲測量系統”高端頻率范圍性能指標的IOGHz 微波源，一方面由于其壓控特性選擇過寬，造成在比對測量過程中，環路設置過大，近載頻 IOHz IOOHz傅氏分析頻率范圍內的測量結果出現較大的離散性，另一方面由于其在傅氏分析頻率IHz處的噪聲已經超過小角度調制條件，此處測量結果已不能作為單邊帶相位噪聲測量結果使用。其三是驗證“相位噪聲測量系統”高端頻率范圍性能指標的IOGHz微波源僅有一臺，比對過程中，只能采用下變頻的方法進行測量，這種方法一方面無法對相位噪聲測量系統的微波檢相端口進行直接校準，另一方面由于引入下變頻器和中頻參考源，造成傅氏分析頻率范圍IOOHz IOkHz內的比對測量結果出現較大的離散。
技術實現思路
為避免以上現有技術的不足，本專利技術提出一種應用于相位噪聲測量系統能力驗證的傳遞裝置。本專利技術的目的通過以下技術方案來實現一種應用于相位噪聲測量系統能力驗證的傳遞裝置，所述相位噪聲測量系統包括微波檢相端口和射頻檢相端口，該裝置包括第一高穩晶振通過第一選通開關依次經第一倍頻器、第一鎖相環路、第一低噪聲壓控振蕩器、第一隔離放大器、第二倍頻器、第一梳狀譜發生器、第一梳狀濾波器、第一功率放大器和第一微波源連接至所述微波檢相端口，所述第一隔離放大器還與所述第一鎖相環路連接；第二高穩晶振通過第二選通開關依次經第三倍頻器、第二鎖相環路、第二低噪聲壓控振蕩器、第二隔離放大器、第四倍頻器、第二梳狀譜發生器、第二梳狀濾波器、第二功率放大器和第二微波源連接至所述微波檢相端口，所述第二隔離放大器還與所述第二鎖相環路連接；所述第一高穩晶振還通過所述第一選通開關經第一輸出接口連接至所述射頻檢相端口 ；所述第一高穩晶振和所述相位噪聲測量裝置的壓控輸出端分別與壓控輸入接口連接；所述第二高穩晶振還通過所述第二選通開關經第二輸出接口連接至所述射頻檢相端 □。進一步，所述第一和第二高頻晶振為IOMHz高頻晶振。進一步，所述第一和第二高頻晶振的壓控靈敏度為0. 5Hz/V。進一步，所述第一和第二輸出接口為IOMHz輸出接口。進一步，所述第一、第二、第三和第四倍頻器為X 10倍頻器。進一步，所述第一和第二微波源為IOGHz微波源。進一步，所述第一和第二微波源在IHz處的相位噪聲指標小于-30dBc/Hz。本專利技術的優點在于1.所選用的高穩晶振的壓控靈敏度為0. 5Hz/V，無論校準相位噪聲測量裝置的頻率高端和頻率低端的性能時，環路均可控制在IHz以內，從而可以避免近載頻測量結果的離散。2.在能力驗證活動中，校準相位噪聲測量裝置的頻率高端的性能時，由于采用兩臺鎖相后的微波源且其IHz處的相位噪聲指標小于-30dBc/Hz，從而滿足小角度調制條件， 可以作為能力驗證結果使用；3.本專利技術這種驗證傳遞裝置中不需下變頻器和中頻參考源，從而避免了遠載頻測量結果的離散。附圖說明圖1 本專利技術系統結構原理圖。 具體實施例方式如圖1所示為本專利技術系統結構原理圖，本專利技術一種應用于相位噪聲測量系統能力驗證的傳遞裝置，所述相位噪聲測量系統包括微波檢相端口和射頻檢相端口，該裝置包括第一高穩晶振1通過第一選通開關2依次經第一倍頻器3、第一鎖相環路4、第一低噪聲壓控振蕩器5、第一隔離放大器6、第二倍頻器7、第一梳狀譜發生器8、第一梳狀濾波器9、第一功率放大器10和第一微波源11連接至所述微波檢相端口 12，所述第一隔離放大器6還與所述第一鎖相環路4連接；第二高穩晶振13通過第二選通開關14依次經第三倍頻器15、第二鎖相環路16、第二低噪聲壓控振蕩器17、第二隔離放大器18、第四倍頻器19、 第二梳狀譜發生器20、第二梳狀濾波器21、第二功率放大器22和第二微波源23連接至所述微波檢相端口 12，所述第二隔離放大器18還與所述第二鎖相環路16連接。所述第一高穩晶振1還通過所述第一選通開關2經第一輸出接口 M連接至所述射頻檢相端口 25 ；所述第一高穩晶振1和所述相位噪聲測量系統沈的壓控輸出端分別與壓控輸入接口 27連接；所述第二高穩晶振13還通過所述第二選通開關14經第二輸出接口 28連接至所述射頻檢相端口 25。所述第一和第二高頻晶振為IOMHz高頻晶振，且該第一和第二高頻晶振的壓控靈敏度可為0. 5Hz/V。所述第一和第二輸出接口為IOMHz輸出接口，所述第一、第二、第三和第四倍頻器為X 10倍頻器，所述第一和第二微波源為IOGHz微波源。所述第一和第二微波源在IHz處的相位噪聲指標小于_30dBc/Hz。工作時，當相位噪聲測量系統能力驗證活動中需要校準“相位噪聲測量系統”低端頻率范圍的性能指標時，高穩晶振1通過開關2選通IOMHz輸出接口 24，高穩晶振13通過開關14選通IOMHz輸出接口觀，這兩路高穩晶振輸出是用來驗證相位噪聲測量裝置中的射頻檢相單元的性能，相位噪聲測量裝置26的壓控輸出端與壓控輸入接口 27相連形成鎖相環路進行測試。當相位噪聲測量系統能力驗證活動中需要校準“相位噪聲測量系統”高端頻率范圍的性能指標時，使用本傳遞標準中頻率為IOGHz的兩臺點頻微波源輸出用來驗證相位噪聲測量裝置中微波檢相單元的性能。工作時開關2將高穩晶振1與X 10倍頻器3選通，XlO 倍頻器3將高穩晶振1的IOMHz頻率輸出倍頻到IOOMHz。頻率為IOOMHz的低噪聲壓控振蕩器5通過隔離放大器6進行放大隔離，分配為兩路輸出。其中隔離放大器6的鎖相端輸出經過倍頻得到的IOOMHz的頻率信號，鎖相環路4的壓控輸出端與低噪聲壓控振蕩器5的壓控輸入端連通形成環路，鎖相環路4將低噪聲壓控振蕩器5鎖定在高穩晶振1的相位輸出上。隔離放大器6的倍頻端輸出信號通過X 10倍頻器7將輸入的IOOMHz頻率倍頻到 IGHz，然后通過梳狀譜發生器8產生梳狀譜序列。梳狀譜發生器8產生的梳狀譜序列通過梳狀濾波器9提取IOGHz處的譜線并對其它頻率的梳狀譜線進行抑制，梳狀濾波器9輸出的 IOGHz頻率譜線通過功率放大器10進行適當的功率放大，IOGHz微波源15作為最終的一臺微波源輸出使用。開關14將高穩晶振13本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：閻棟梁，韓紅，楊軍，柳丹，
申請(專利權)人：北京無線電計量測試研究所，
類型：發明
國別省市：
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