本發明專利技術涉及一種用于借助傳感器裝置無接觸地確定料幅,尤其是纖維幅的厚度的方法,該傳感器裝置包括至少兩個測量板,料幅可在這兩個測量板之間導引穿過,其中,在每個測量板和料幅之間分別形成有一個氣墊,以便以恒定的間距相對料幅保持測量板,其特征在于,使用傳感器裝置,該傳感器裝置既包括至少一個磁性傳感器也包括光學間距測量裝置,其中,磁性檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距,而通過光學間距測量裝置檢測相應的測量板與料幅之間的間距,該光學間距測量裝置設置在布置在料幅對置側的測量板上。
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】本專利技術涉及一種用于借助傳感器裝置無接觸地確定料幅,尤其是纖維幅的厚度的方法,該傳感器裝置包括至少兩個測量板,料幅可從這兩個測量板之間導引穿過,其中,在每個測量板與料幅之間分別形成一個氣墊,以便以一間距相對所述料幅保持測量板。迄今為止,要么采用磁性的方法要么采用光學的方法來進行無接觸式的厚度測量。但這兩種方法只能夠測量較厚的紙,亦即尤其是厚度大于50 μ m的紙,因為在較薄的紙中,受方法限制不能達到所需的精度。由專利文獻EP 1 855 082A1和EP 1 855 083A1公開了一些用于無接觸地確定料幅,尤其是纖維幅的厚度的光學厚度傳感器。在無接觸地測量紙的厚度時,一方面要檢測布置在料幅相互對置側的光學測量單元或測量板之間的間距,另一方面要檢測該測量單元或測量板與料幅之間的間距,其中,測量單元與料幅之間的間距通過光學測量獲得。在此,定位在料幅相互對置側的光學測量單元必須精確地布置在同一根光軸上,以消除由于不垂直于光軸延伸的紙幅產生的測量誤差。但是,尤其由于運動的紙幅的空氣阻塞會在設置在料幅相互對置側的光學測量單元或測量頭之間出現傾斜,這導致不正確的測量。這種例如由于運動的料幅或纖維幅10的空氣阻塞導致的、在上部和下部的光學測量單元或其測量板12、14之間的傾斜可由附圖說明圖1得知,圖1示意示出了一種用于無接觸地確定厚度的傳統設備,其中,各測量單元分別僅配設有一個光學傳感器16或18。在這種傳統的設備中,測量板12、14的傾斜不能被補償。也就是說,在這種傳統的設備中不能通過在相應的料幅側上的僅一個光路獲得精確的測量。本專利技術所要解決的技術問題是,提供一種開頭所述類型的改進方法,通過該方法尤其還為較薄的料幅或紙,并且尤其也為厚度小于50 μ m的料幅或紙獲得可靠的測量值。按照本專利技術,該技術問題通過使用一種傳感器裝置解決,該傳感器裝置既包括至少一個磁性傳感器也包括光學的間距測量裝置,其中,磁性地檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距,并且通過光學的間距測量裝置檢測相應的測量板與料幅之間的間距,該光學的間距測量裝置設置在布置在料幅相互對置側的測量板上。因此,按照本專利技術將磁性的和光學的測量方法相互結合。可以通過氣墊分別以恒定的間距相對所述料幅保持測量板。為了將測量板間距相應地調節到一個恒定的值,可以一并考慮磁性測得的測量板間距。優選通過在至少三個不同的點處的磁性測量裝置磁性地檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距。還尤其有利的是,分別通過至少三個設置在相應的測量板上的光學間距測量裝置光學地測量在相應的測量板與料幅之間的間距。根據按本專利技術的方法的一種在實踐中有利的設計方案,料幅的厚度由磁性測得的、布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距和光學測得的、布置在料幅相互對置側的測量板與料幅之間的間距確定。為此,可以采用帶有用于計算料幅厚度的相應算法的評估直ο因為磁性傳感器和光學的傳感器不能布置在測量板上的相同位置上,所以將在磁性傳感器的位置上磁性測得的、布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距測量值換算到光學傳感器的位置上,其中,通過磁性測量值換算到光學傳感器的位置上實現所需的精度。由此實現精度的進一步改進,S卩,將所有在磁性傳感器的位置上磁性測得的、布置在所述料幅相互對置側的測量板之間的間距測量值分別用于計算在光學傳感器的位置上的相應間距值。優選通過至少一個設置在料幅一側的測量板上的磁性傳感器磁性地檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距。在此,為了通過至少一個設置在料幅一側的磁性傳感器這樣磁性地檢測測量板間距,料幅對置側的測量板優選至少部分由鐵氧體或鐵酸鹽制成。根據按本專利技術的方法的一種在實踐中適宜的設計方案,通過至少三個設置在料幅一側的測量板上的磁性傳感器磁性地檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距。此外,各光學間距測量裝置或按本專利技術的傳感器裝置的光學傳感器尤其可以設計成如在EP 1 855 082A1或EP 1 855 083A1中所描述的那樣。因此,由EP 1 855 082A1例如已知一種光學傳感器,該光學傳感器具有用于確定相對物體的間距的裝置,其中,設有至少一個透鏡裝置,以便光源,尤其是激光光源的光線聚焦到物體上并且收集從物體反射和散射回來的光線;設置帶有圓形開口的孔眼光闌,以便由反射和散射回來的光線形成圓形的光束,并且設置有接收圓形光束的檢測器系統,該檢測器系統感應光束直徑,其中,根據檢測器系統的信號確定到物體的間距。尤其是配屬于檢測器系統的分析器可以設計用于確定物體的厚度。在此,可以在物體的兩側分別設置至少一個透鏡裝置,并且布置在不同側的透鏡裝置在彼此間可以具有規定的間距。在這種情況下,物體的厚度可以尤其由此確定,即,將分別測得的、設置在物體兩側的透鏡裝置到物體之間的間距累加并且將得到的和從透鏡裝置之間的規定間距減去。在EP 1 855 083A1中記載了一種類似的光學傳感器,其中,使用相關性小的光源,該光源尤其可以包括超發光二極管。在各透鏡裝置和物體之間可以設有光學的窗口。以下根據實施例并且參照附圖詳細說明本專利技術。在此,圖2示意示出了測量板10,在該測量板10上設有多個磁性傳感器U1-U3和多個光學的間距測量裝置或傳感器H1-H315設置在料幅相互對置側的、未示出的測量板可以至少部分或完全由鐵氧體或鐵酸鹽制成,并且用作圖2中所示的、例如上部測量板10上的磁性傳感器的配對件。未示出的, 例如下部測量板同樣包括多個光學傳感器,該些光學傳感器以有利的方式精確地與所示的上部測量板10的光學傳感器H1-H3對置。因此,按本專利技術,提供了一種用于借助傳感器裝置無接觸地確定料幅,尤其是纖維幅的厚度的方法,該傳感器裝置包括至少兩個測量板,料幅可以從這兩個測量板之間導引穿過,其中,在每個測量板與料幅之間形成分別一個氣墊,以便以一間距相對料幅保持測量板。纖維幅尤其可以是紙幅或紙板幅。在此,使用既包括至少一個磁性傳感器U1-U3又包括光學的間距測量裝置H1-H3的傳感器裝置。在此,磁性地檢測布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距,并且通過光學的間距測量裝置H1-H3檢測相應的測量板與料幅之間的間距,該光學的間距測量裝置設置在布置在料幅相互對置側的測量板上。測量板可以通過氣墊分別以恒定的間距相對料幅被保持。如圖2所示,布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距的磁性檢測可以通過在至少三個不同的點處磁性的測量裝置實現,其中,在當前的情況下,設有僅三個這種測量裝置。同樣由圖2可知,相應的測量板與料幅之間的間距的光學的檢測可以分別通過至少三個設置在相應的測量板上的光學間距測量裝置實現,其中,在當前的情況下,布置在料幅相互對置側的測量板分別設有僅三個光學測量間距裝置H1-H315可以由磁性測得的、布置在料幅相互對置側的測量板之間的間距和光學測得的、 布置在料幅的、相互對置側的測量板與料幅之間的間距確定料幅的厚度。在此,首先將在位置121; 122,123中磁性測得的間距值換算到光學傳感器141; 142,143的位置上。在圖2中還定義了用于計算光學傳感器的位置的幾何間距。H12 = Hl+(C1/A1)*+*(H2—H3)H13 = Hl+(C1/A1)*-*(H2—H3)Hll= (H2+H3)/2+(C2/A本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...
【專利技術屬性】
技術研發人員:P泰波,W克納布,J布羅克爾,
申請(專利權)人:沃依特專利有限責任公司,
類型:發明
國別省市:
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