一種個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)屬于輻射防護(hù)及測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法。該方法將個(gè)人劑量計(jì)分別置于低能標(biāo)準(zhǔn)場和高能標(biāo)準(zhǔn)場，分別得到相應(yīng)的刻度系數(shù)，將兩個(gè)刻度系數(shù)存入劑量計(jì)中；對個(gè)人劑量計(jì)所應(yīng)用的放射性場所的射線能量范圍進(jìn)行預(yù)先估計(jì)；根據(jù)射線能量范圍的估計(jì)情況，調(diào)用個(gè)人劑量計(jì)內(nèi)不同檔的刻度系數(shù)，進(jìn)行輻射劑量的測量。本發(fā)明專利技術(shù)能夠使一個(gè)劑量計(jì)能夠滿足更多場合的個(gè)人劑量測量的需要。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)屬于輻射防護(hù)及測量
，具體涉及。
技術(shù)介紹
X、γ射線個(gè)人劑量計(jì)主要供從事放射性工作的人員作為X、Y射線輻射的個(gè)人劑量監(jiān)測使用，這類劑量計(jì)具有讀數(shù)直觀、性能可靠、攜帶方便、操作簡單的特點(diǎn)，在核工業(yè)領(lǐng)域以及放射醫(yī)學(xué)領(lǐng)域被廣泛使用。劑量計(jì)一般是通過在標(biāo)準(zhǔn)源的標(biāo)準(zhǔn)場中進(jìn)行刻度，得到刻度系數(shù)，然后利用刻度系數(shù)進(jìn)行具體的輻射劑量測量工作。目前，國產(chǎn)的用于X、Y射線劑量測量的電子個(gè)人劑量計(jì)適用的能量范圍通常在 50KeV 1. 5MeV之間，此測量范圍通常能夠滿足大部分場合的個(gè)人劑量測量的需要，但在以低能量射線照射為主的情況下，例如放射介入治療、X射線診斷等醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，則難以滿足需要。國外一些先進(jìn)的X、Y電子劑量計(jì)適用的能量范圍可以達(dá)到15KeV 9MeV，可以同時(shí)滿足醫(yī)療與核工業(yè)領(lǐng)域劑量測量的需要，但其能量響應(yīng)補(bǔ)償技術(shù)一般不公開，無法直接引用其方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于針對目前通用的X、Y射線個(gè)人劑量計(jì)無法滿足低能量射線照射測量的情況，提供，使一個(gè)劑量計(jì)能夠滿足更多場合的個(gè)人劑量測量的需要。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)的技術(shù)方案如下，包括如下步驟(1)將個(gè)人劑量計(jì)分別置于低能標(biāo)準(zhǔn)場和高能標(biāo)準(zhǔn)場，分別得到相應(yīng)的刻度系數(shù)， 將兩個(gè)刻度系數(shù)存入劑量計(jì)中；(2)對個(gè)人劑量計(jì)所應(yīng)用的放射性場所的射線能量范圍進(jìn)行預(yù)先估計(jì)；(3)根據(jù)射線能量范圍的估計(jì)情況，調(diào)用個(gè)人劑量計(jì)內(nèi)不同檔的刻度系數(shù)，進(jìn)行輻射劑量的測量。進(jìn)一步，如上所述的個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法，其中，低能標(biāo)準(zhǔn)場采用的輻射質(zhì)為N-40，平均能量為33KeV，高能標(biāo)準(zhǔn)場采用137Cs或6tlCo標(biāo)準(zhǔn)源。進(jìn)一步，如上所述的個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法，步驟O)中估計(jì)放射性場所的射線能量范圍是80KeV以下為主，還是50KeV以上為主，還是50KeV-80KeV之間為主。進(jìn)一步，如上所述的個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法，步驟(3)中如果估計(jì)放射性場所的射線能量范圍是SOKeV以下為主，則選擇低能檔的刻度系數(shù)；如果估計(jì)放射性場所的射線能量范圍是50KeV以上為主，則選擇高能檔的刻度系數(shù)；如果估計(jì)放射性場所的射線能量范圍是50KeV-80KeV之間為主，則可以任意選擇低能檔的刻度系數(shù)或高能檔的刻度系數(shù)。本專利技術(shù)的有益效果如下本專利技術(shù)采用對不同能量的射線采用不同的刻度系數(shù)的方法，使個(gè)人劑量計(jì)具有對不同能量的射線進(jìn)行分檔測量的功能，分為低能檔與高能檔，用戶只要預(yù)先知道劑量計(jì)所在的場合的大致的能量范圍，就可以通過選擇測量檔位的方式，實(shí)現(xiàn)對不同能量范圍輻射劑量的測量，以使得一個(gè)劑量計(jì)能夠滿足更多場合的個(gè)人劑量測量的需要。具體實(shí)施例方式下面結(jié)合實(shí)施例對本專利技術(shù)進(jìn)行詳細(xì)的描述。本專利技術(shù)采用對不同能量的射線使用不同的刻度系數(shù)的方法來解決目前通用的X、 Y射線個(gè)人劑量計(jì)無法滿足低能量射線照射測量的問題。用戶需要預(yù)先知道劑量計(jì)所在的場合的大致的能量范圍。一般在放射介入治療、 X射線診斷等醫(yī)療領(lǐng)域，輻射現(xiàn)場射線以低于SOKeV的X射線為主；在核工業(yè)的大多數(shù)領(lǐng)域以及Y刀治療等醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，輻射現(xiàn)場射線以50KeV以上為主，因此，“預(yù)先知道劑量計(jì)所在的場合的大致的能量范圍”這個(gè)前提條件一般是可以滿足的。具體實(shí)施方式主要是通過刻度與軟件實(shí)現(xiàn)。將劑量計(jì)分別置于低能標(biāo)準(zhǔn)場與高能標(biāo)準(zhǔn)場得到不同的刻度系數(shù)，將兩個(gè)系數(shù)存入劑量計(jì)中。低能標(biāo)準(zhǔn)場可采用符合GB/T 12162. X-2004《用于校準(zhǔn)劑量儀和劑量率儀及確定其能量響應(yīng)的X和、參考輻射》的輻射質(zhì)為N-40 (平均能量33KeV)的輻射場。高能標(biāo)準(zhǔn)場可采用137Cs或6tlCo源。在現(xiàn)場，劑量計(jì)進(jìn)行使用前，對個(gè)人劑量計(jì)所應(yīng)用的放射性場所的射線能量范圍進(jìn)行預(yù)先估計(jì)，人工通過按鍵選擇劑量計(jì)的檔位，使內(nèi)部軟件程序調(diào)用不同的刻度參數(shù)，然后進(jìn)行測量。如果預(yù)知現(xiàn)場射線的能量范圍以SOKeV以下為主，則將劑量計(jì)設(shè)置為低能檔，采用低能檔刻度系數(shù)；如果預(yù)知現(xiàn)場射線能量范圍以50KeV以上為主，則將劑量計(jì)設(shè)置為高能檔，采用高能檔刻度系數(shù)。對于上述能量范圍重疊的部分，可以使用任意檔。采用分檔刻度的方法，得到兩組刻度系數(shù)，低能檔適于測量20 SOKeV能量范圍的Χ、γ射線的個(gè)人劑量當(dāng)量，高能檔適于測量50KeV 1.5MeV能量范圍的X、γ射線的個(gè)人劑量當(dāng)量。通過這種分檔刻度測量的方法，使得一臺劑量計(jì)能夠滿足更多場合的劑量測量的需要。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本專利技術(shù)進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本專利技術(shù)的精神和范圍。這樣，倘若本專利技術(shù)的這些修改和變型屬于本專利技術(shù)權(quán)利要求及其同等技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本專利技術(shù)也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法，包括如下步驟(1)將個(gè)人劑量計(jì)分別置于低能標(biāo)準(zhǔn)場和高能標(biāo)準(zhǔn)場，分別得到相應(yīng)的刻度系數(shù)，將兩個(gè)刻度系數(shù)存入劑量計(jì)中；(2)對個(gè)人劑量計(jì)所應(yīng)用的放射性場所的射線能量范圍進(jìn)行預(yù)先估計(jì)；(3)根據(jù)射線能量范圍的估計(jì)情況，調(diào)用個(gè)人劑量計(jì)內(nèi)不同檔的刻度系數(shù)，進(jìn)行輻射劑量的測量。2.如權(quán)利要求1所述的個(gè)人劑量計(jì)能量分檔刻度測量的方法，其特征在于步驟(1) 中，低能標(biāo)準(zhǔn)場采用的輻射質(zhì)為N-40，平均能量為33KeV ；高能標(biāo)準(zhǔn)場采用137Cs或6tlCo標(biāo)準(zhǔn)源。3.如權(quán)利要求1所述的個(gè)人劑...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳寶維，張志勇，
申請(專利權(quán))人：中國輻射防護(hù)研究院，
類型：發(fā)明
國別省市：