一種下行干擾確定方法及裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種下行干擾確定方法及裝置，該方法應用于包括全向發射定向接收(OTSR)基站的系統，包括：對主服務小區的選定像素點，計算各小區發射信號覆蓋到該選定像素點的參考信號接收功率，其中，所述OTSR基站下的各OTSR天線功分小區作為單獨的小區分別計算；從所述各小區中選取所述像素點的干擾小區；根據所述選取的干擾小區發射信號覆蓋到所述像素點的參考信號接收功率，確定所述像素點的下行總干擾。該裝置包括：計算模塊、選取模塊和確定模塊。通過本發明專利技術可以精確模擬LTE網絡中OTSR基站配置的下行干擾仿真，以及后期的網絡性能評估和容量仿真。

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：范國田，顧軍，劉康康，張宇，李晟，俞勝兵，
申請(專利權)人：中興通訊股份有限公司，
類型：發明
國別省市：