電量管理IC多通道校準校驗的方法技術

一種電量管理IC多通道校準校驗的方法，可通過多通道同時對多個電量管理IC進行校準校驗，該方法包括如下步驟：a.設置標準電芯參數；b.通道自檢；c.校準模式；d.校準結果判定；e.校驗模式；f.輸出校驗的結果。本發明專利技術在同一個設備中采用多通道可同時對多個電量管理IC進行校準校驗，效率高，校準校驗精確，減少了校準校驗過程中的出錯率，簡化了生產流程，提高了自動化水平，降低了人工成本，并且各數據均保存于本地存儲器或/和服務器中，便于品質管理。同時，可自動補償調整校準校驗值，保證了校準值的精確。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種電量管理IC的校準校驗方法
技術介紹
目前移動電子的電源行業中電量管理IC應用越來越廣泛，高端產品對電量管理IC的精度要求也越來越高，如電子產品APPLE，NOKIA等。美國德州儀器公司TI制作的電量管理IC (芯片)要求其實現高精度的校準電壓電流，因此公司實現對電量管理IC校準校驗是至關重要。而目前行業中的傳統的方式是采用基于TI提供的軟件和硬件(EV2300)實現對電量管理IC単獨校準校驗的方法，此方法受制于TI，局限性大，測試效率低，可擴展性差，同時成本投入高，整體測試穩定性差。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題是提供一種效率高、校準校驗精確的電量管理IC多通道校準校驗的方法。為了解決上述技術問題，本專利技術采用如下方案實現 一種電量管理IC多通道校準校驗的方法，可通過多通道同時對多個電量管理IC進行校準校驗，該方法包括如下步驟 a.設置標準電芯參數； b.通道自檢，多個通道自動同時進行自檢，； c.進入校準模式，對電量管理IC進行電壓電流校準和產品內部參數的燒錄； d.校準結果判定，對各通道進行校準燒錄結果的判定，并將校準數據記錄保存至本地存儲器和\或服務器； e.進入校驗模式，從本地存儲器和\或服務器獲取各通道校準數據，直接進入校驗模式，標示通道錯誤代碼，顯示需校驗通道；如果存在錯誤則屏蔽該通道； f.輸出校驗的結果，并保存于本地存儲器和\或服務器中； 以上各步驟均在同一設備中進行。其中，所述的校準模式步驟如下 cl.加載電壓； c2.加載電流； c3.燒錄信息，燒錄的同時進行同步校驗； 其中，所述的校驗模式步驟如下 el. HDQ電壓校驗 e2.電量管理IC自耗電耗電量校驗； e3.電量管理IC的序列號、產品日期號固定參數校驗； e4.電量管理IC的溫度精度、電壓精度校驗以及電流精度校驗。并且，從本地存儲器和\或服務器采集各通道的基準電壓值和基準電流值，并將該基準電壓值、基準電流值與校驗獲得的電量管理IC的電壓值以及電流值分別進行比較，根據比較的結果對需要進行修正補償的通道進行補償調整，將該補償調整結果映射至下一次的校準校驗中，保證補償修正值的準確性，確保產品的電壓電流精度。本專利技術在同一個設備中采用多通道可同時對多個電量管理IC進行校準校驗，效率高，校準校驗精確，減少了校準校驗過程中的出錯率，簡化了生產流程，提高了自動化水平，降低了人工成本，并且各數據均保存于本地存儲器或/和服務器中，便于品質管理。同時，可自動補償調整校準校驗值，保證了校準值的精確。 具體實施例方式為了便于本領域技術人員的理解，下面將結合具體實施例對本專利技術結構原理作進一步詳細描敘 本實施例掲示的電量管理IC多通道校準校驗的方法消除了現有校準校驗方法中效率低、校準精度不高等缺陷。該方法通過同一個設備采用多通道同時對多個電量管理IC進行校準校驗，其具體步驟為 a.設置標準電芯參數根據電量管理IC應用的參數要求，對標準電芯進行基準電壓、基準電流設置，確保標準電芯參數準確； b.通道自檢，對多個通道自動同時進行自檢，如自檢均正常則進入下一歩，如自檢出現錯誤則發出報警信號； c.進入校準模式，對電量管理IC進行電壓電流校準和產品內部參數的燒錄； 具體而言，該校準模式包括如下步驟Cl.加載電壓；c2.加載電流；c3.燒錄信息，燒錄的同時進行同步校驗； d.校準結果判定，對各通道進行校準燒錄結果的判定，并將校準數據記錄保存至本地存儲器和\或服務器； e.進入校驗模式，從本地存儲器和\或服務器獲取各通道校準數據，直接進入校驗模式，標示通道錯誤代碼，顯示需校驗通道；如果存在錯誤則屏蔽該通道； 具體而言，該校驗模式包括如下步驟 el. HDQ電壓校驗；e2.電量管理IC自耗電耗電量校驗；e3.電量管理IC的序列號、產品日期號固定參數校驗；e4.電量管理IC的溫度精度、電壓精度校驗以及電流精度校驗； f.輸出校驗的結果，并保存于本地存儲器和\或服務器中。并且，本方法還包括一個對各通道進行自動補償調整的過程，該自動補償調整過程具體為從本地存儲器和\或服務器采集各通道的基準電壓值和基準電流值，并將該基準電壓值、基準電流值與校驗獲得的電量管理IC的電壓值以及電流值分別進行比較，根據比較的結果對需要進行修正補償的通道進行補償調整，將該補償調整結果映射至下一次的校準校驗中，保證補償修正值的準確性，確保產品的電壓電流精度，保證產品品質。本方法中均將各校準校驗以及補償調整的數據存儲于本地存儲器和\或服務器中，便于品質追溯，品質分析，可以為有效的解決品質異常提供日期、數據依據。上述實施例僅為本專利技術的較佳的實施方式，除此之外，本專利技術還可以有其他實現方式。也就是說，在沒有脫離本專利技術構思的前提下，任何顯而易見的替換均應落入本專利技術的 保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種電量管理IC多通道校準校驗的方法，可通過多通道同時對多個電量管理IC進行校準校驗，其特征在于，該方法包括如下步驟 a.設置標準電芯參數； b.通道自檢，多個通道自動同時進行自檢，； c.進入校準模式，對電量管理IC進行電壓電流校準和產品內部參數的燒錄； d.校準結果判定，對各通道進行校準燒錄結果的判定，并將校準數據記錄保存至本地存儲器和\或服務器； e.進入校驗模式，從本地存儲器和\或服務器獲取各通道校準數據，直接進入校驗模式，標示通道錯誤代碼，顯示需校驗通道；如果存在錯誤則屏蔽該通道； f.輸出校驗的結果，并保存于本地存儲器和\或服務器中； 以上各步驟均在同一設備中進行。2.根據權利要求I所述的電量管理IC多通道校準校驗的方法，其特征在于，所述的校準模式步驟如下 cl.加載電...

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄧振東，陳思波，
申請(專利權)人：惠州市藍微電子有限公司，
類型：發明
國別省市：