本發明專利技術提供光波距離測定裝置，該光波距離測定裝置不使瞄準方向改變即可對預期位置進行測定。光波距離測定裝置(10)，光源(31)發出的出射光(Es)朝向目標物出射并由受光部(60)接收從入射目標物反射的反射光(Rs)，根據出射光和反射光進行距離測定，其中，在從光源起至通向目標物的照射光軸(Li)的光路中設置有用于反射的偏向反射機構(34)，該偏向反射機構(34)使相對光源的出射光軸(Le)的出射光方向傾斜，偏向反射機構與從光源來看和偏向反射機構相比更靠目標物側的出射光軸上或者照射光軸(Li)上的既定位置(E)在光學上形成共軛關系。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種用于測量的光波距離測定裝置。
技術介紹
作為測量用的光波距離測定裝置來說，公知的
技術實現思路
是這樣的例如脈沖激光光線對測定點進行照射，并接收來自測定點的脈沖反射光，通過計測出射光與反射光的時間差以及/或者相位差進行距離測定。可以考慮如下光波距離測定裝置(例如，參考專利文獻I)，為了實現將把瞄準方向取為中心而對既定可視區進行視覺辨認的目的，在該裝置中配備有攝像光學系統和將由攝像光學系統取得的圖像加以顯示的顯示部，從而能夠在所述可視區(圖像)內對預期位置的距離進行測定。這種光波距離測定裝置使用微檢測元件改變光束路徑，從而不使瞄準方向改變即可對預期位置的距離進行測定。(現有技術文獻)(專利文獻I)日本特表2008-527360號公報但是，對于上述光波距離測定裝置，的確可以根據書面文字描述內容對預期位置的距離進行測定，然而，其僅僅公開了使用微檢測元件的內容卻沒有顯示其它的具體結構，實際進行預期位置的距離測定存在一定困難。
技術實現思路
本專利技術正是鑒于上述情況而提出，其目的在于提供一種能夠不使瞄準方向改變，即可對預期位置的距離進行測定的光波距離測定裝置。技術方案I中記載的
技術實現思路
涉及光波距離測定裝置，光源出射的出射光朝向目標物出射并由受光部接收從該目標物反射的反射光，根據所述出射光和所述反射光進行距離測定，其特征在于，在從所述光源起至朝向所述目標物的照射光軸的光路中設置有使相對于所述光源的出射光軸的所述出射光的方向傾斜而反射的偏向反射機構，所述偏向反射機構與如下既定位置在光學上形成共軛關系，該既定位置從所述光源來看，位于與所述偏向反射機構相比更靠所述目標物側的所述出射光軸上或者所述照射光軸上。技術方案2中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案I所記載的光波距離測定裝置，其特征在于，還具有能夠以所述照射光軸作為中心而對既定可視區進行觀察的觀察光學系統，所述偏向反射機構根據在所述觀察光學系統的所述可視區上的位置，使相對于所述出射光軸的所述出射光的方向傾斜。技術方案3中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案I或2所述的光波距離測定裝置，其特征在于，所述偏向反射機構是MEMS鏡。技術方案4中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案I或2所述的光波距離測定裝置，其特征在于，所述偏向反射機構是電流計鏡(Galvanometer Mirror)。技術方案5中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案I 4中任一項所述的光波距離 測定裝置，其特征在于，在從所述光源起至所述偏向反射機構的光路中設置有照射區域切換機構，該照射區域切換機構使由所述出射光形成在所述目標物上的照射區域的大小尺寸發生改變。技術方案6中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案5所記載的光波距離測定裝置，其特征在于，所述照射區域切換機構由使從所述光源向所述偏向反射機構照射的光束擴散的擴散光學部件構成。技術方案7中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案5所記載的光波距離測定裝置，其特征在于，所述照射區域切換機構由使從所述光源射向所述偏向反射機構照射的光束的束散角發生改變的折射光學部件構成。技術方案8中記載的
技術實現思路
是，根據技術方案I 7中任一項所述的光波距離測定裝置，其特征在于，還具有圖像取得機構，可以取得以所述照射光軸為中心的既定可視區的圖像；顯示機構，可以對由該圖像取得機構取得的圖像進行顯示；測定點特定機構，用于將顯示在該顯示機構上的所述圖像內的測定點加以特定；控制運算機構，根據由該測定點特定機構特定的所述圖像內的所述測定點，對所述偏向反射機構的反射方向進行設 定。根據本專利技術的光波距離測定裝置，能夠利用偏向反射機構調整出射光的方向(行進方向)相對于出射光軸的傾斜，該出射光在照射光軸上朝向目標物出射，因而，不使貓準方向改變即可朝著預期位置照射測距用的出射光，這樣可以對該預期位置的距離進行測定。此外，作為對測距用出射光的方向相對于出射光軸的傾斜進行設定的偏向反射機構，與從光源來看的偏向反射機構的更靠目標物側的出射光軸上或者照射光軸上的既定位置在光學上形成共軛關系，因而，基于對相對于照射光軸的出射光(它的行進方向)的傾斜進行設定的觀點，可以將相對于目標物的實質上的出射位置看做出射光軸上或者照射光軸上的既定位置。由此，利用偏向反射機構對出射光(它的行進方向)相對于出射光軸的傾斜進行調整，可以對實際出射的用于測距的出射光的方向進行設定。除上述結構以外，還具有能夠以所述照射光軸作為中心而對既定可視區進行觀察的觀察光學系統，若所述偏向反射機構按照在所述觀察光學系統的所述可視區上的位置，使相對于所述出射光軸的所述出射光方向傾斜的話，則可以基于觀察光學系統的目視內容設定測定點，從而可以很容易地將預期位置特定。除上述結構以外，若所述偏向反射機構是MEMS鏡，則結構不僅可以變得極其小，并且可以利用出射光將照射位置調整至極高精度，取得極高調整速度。除上述結構以外，若所述偏向反射機構是電流計鏡，則結構不僅可以變得極其小，并且可以利用出射光將照射位置調整至極高精度，取得極高調整速度。除上述結構以外，若在從所述光源起至所述偏向反射機構的光路中設置用于使由所述出射光形成在所述目標物上的照射區域的大小尺寸發生改變的照射區域切換機構的話，則不使瞄準方向改變，即可將測距出射光Es朝向預期位置照射并可對預期位置的距離進行測定，同時還可以改變作為進行距離測定的該預期位置(測定點)的區域。除上述結構以外，若所述照射區域切換機構由使從所述光源向所述偏向反射機構照射的光束擴散的擴散光學部件構成，則照射區域切換機構可以很容易被形成。除上述結構以外，若所述照射區域切換機構由對從所述光源向所述偏向反射機構照射的光束的束散角發生改變的折射光學部件構成，則照射區域切換機構可以很容易被形成。除具有上述結構以外，還具有圖像取得機構，可以取得以所述照射光軸為中心既定可視區的圖像；顯示機構，可以對由該圖像取得機構取得的圖像進行顯示；測定點特定機構，用于將在顯示在該顯示機構上的所述圖像內的測定點加以特定；控制運算機構，根據由該測定點特定機構特定的所述圖像內的所述測定點，對所述偏向反射機構的反射方向進行設定，若具有以上機構的話，則可以對顯示在顯示機構中的圖像內的測定點進行設定，并根據該圖像內的測定點，對相對于出射光軸而言用于測距的出射光方向進行設定，從而可以很容易進行預期位置的距離測定。附圖說明圖I是模式化表示本案專利技術所涉及的光波距離測定裝置的實施例I的光波距離測 定裝置10的立體圖；圖2是表示光波距離測定裝置10的功能構成的框圖；圖3是表示光波距離測定裝置10的鏡筒部4的光學結構的說明圖；圖4是表示光波距離測定裝置10中的偏向反射部34的結構的說明圖；圖5是表示光波距離測定裝置10中的偏向反射部34的偏向反射元件34a的說明圖；圖6是表示在顯示部6中所顯示出的圖像P的說明圖；圖7是表示由控制運算部19執行的偏向位置控制處理內容的流程圖；圖8是用于說明基于要素輸入來測量特征點的具體例的說明圖，(a)表示的是將經過第2望遠鏡部11而由第2攝像部12取得的圖像Pl顯示在顯示部6中的狀況；(b)表示的是將經過第I望遠鏡部8而由第I攝像部9取得的圖像P2顯示在顯示部6中的狀況；(c)表示電線桿Up與它的中心軸線Uo之間的位置關系；圖9是與圖3同樣的說明圖，表示作為實施本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
2011.03.01 JP 2011-0444051.一種光波距離測定裝置，光源出射的出射光朝向目標物出射并由受光部接收從該目標物反射的反射光，根據所述出射光和所述反射光進行距離測定，其特征在于，在從所述光源起至朝向所述目標物的照射光軸的光路中設置有使相對于所述光源的出射光軸的所述出射光的方向傾斜而反射的偏向反射機構，所述偏向反射機構與如下既定位置在光學上形成共軛關系，該既定位置從所述光源來看，位于與所述偏向反射機構相比更靠所述目標物側的所述出射光軸上或者所述照射光軸上。2.根據權利要求I所述的光波距離測定裝置，其特征在于， 還具有能夠以所述照射光軸作為中心而對既定可視區進行觀察的觀察光學系統，所述偏向反射機構根據在所述觀察光學系統的所述可視區上的位置，使相對于所述出射光軸的所述出射光的方向傾斜。3.根據權利要求I或2所述的光波距離測定裝置，其特征在于， 所述偏向反射機構是MEMS鏡。4.根據權利要求I或2所述的光波距離測定裝置，其特征在于， 所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員：林邦廣，熊谷薰，
申請(專利權)人：林邦廣，熊谷薰，
類型：發明
國別省市：
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