貼合有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種貼合有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法，該方法包含在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，從一個面對貼合有偏振片的液晶面板進(jìn)行光照射，對來自另一個面的透射光進(jìn)行檢測，并進(jìn)行信號處理的步驟，光的照射通過照射近紅外線來進(jìn)行所述光照射。能夠?qū)τ矛F(xiàn)有照射可見光的檢測方法無法檢測出的缺陷進(jìn)行檢測。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)涉及一種；具體地說，涉及一種在不驅(qū)動液晶面板的狀態(tài)下對貼合有偏振片的液晶面板的缺陷進(jìn)行檢測的方法。
技術(shù)介紹
液晶電視等是在液晶面板的兩面將偏振片貼合在正交尼科爾棱鏡上而制成的。缺陷檢測雖然是對使用的原材料、主要制造過程中所得到的部件來進(jìn)行的，但也可以對貼合有偏振片的液晶面板來進(jìn)行。作為，雖然有通過驅(qū)動液晶面板來進(jìn)行的方法，但需要搭載帶電荷的驅(qū)動程序等，且在缺陷檢測的時候，為了進(jìn)行修補、返工，則要 卸載驅(qū)動程序等很費事。因此，最好不搭載驅(qū)動程序，在不驅(qū)動液晶面板的狀態(tài)下，對貼合有偏振片的液晶面板的缺陷進(jìn)行檢測。已知有在液晶面板未驅(qū)動的狀態(tài)下，關(guān)于可見光不透射的標(biāo)準(zhǔn)黑色液晶的情形，對液晶面板內(nèi)的異物進(jìn)行檢測的方法(例如，參見日本特開JP2004-77261-A號公報。)。用該方法可以將液晶面板內(nèi)的異物作為亮點來進(jìn)行檢測。但是，作為貼合有偏振片的液晶面板的缺陷，有糊狀物、膜的切屑等異物、空氣的卷入以及割傷等多種多樣的缺陷。這些由于其形態(tài)等有時無法檢測出來。因而期待著出現(xiàn)一種用現(xiàn)有方法是難以檢測的、對貼合有偏振片的液晶面板的缺陷能夠進(jìn)行檢測的方法。本專利技術(shù)的目的在于提供一種用現(xiàn)有方法難以檢測的、能夠在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，對貼合有偏振片的液晶面板的缺陷進(jìn)行檢測的方法。本專利技術(shù)者就在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，對貼合有偏振片的液晶面板的缺陷進(jìn)行檢測的方法，專心地進(jìn)行了探討研究，其結(jié)果發(fā)現(xiàn)，通過照射近紅外線并進(jìn)行檢測，能夠檢測出用現(xiàn)有方法難以檢測出的缺陷而終于完成了本專利技術(shù)。
技術(shù)實現(xiàn)思路
gp，本專利技術(shù)包含下述內(nèi)容I、一種，所述方法包含在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，從一個面對貼合有偏振片的液晶面板進(jìn)行光照射，對來自另一個面的透射光進(jìn)行檢測，并進(jìn)行信號處理的步驟，光的照射通過照射近紅外線來進(jìn)行。2、根據(jù)I所述的方法，近紅外線的照射的光源是鹵素?zé)簦肅 C D照相機來進(jìn)行透射光的檢測。3、根據(jù)I或2所述的方法，所述方法包含在對透射光進(jìn)行檢測并進(jìn)行信號處理時，預(yù)先將與來自黑色矩陣的格子狀的圖形相對應(yīng)的周期性的圖形信號輸入給信號處理裝置，消除所檢測出的該周期性的圖形信號并設(shè)定信號的基線。根據(jù)本專利技術(shù)的方法，對于用現(xiàn)有方法無法檢測出的、貼合有偏振片的液晶面板的缺陷，在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，能夠進(jìn)行檢測，具有這樣的效果。附圖說明圖I是本專利技術(shù)的缺陷檢測裝置的模式圖。圖2示意出偏振片在正交尼科爾狀態(tài)時的光透射性。標(biāo)號說明I貼合有偏振片的液晶面板2 光源3照相機4信號處理裝置 具體實施例方式在制造偏振片及液晶面板的時候，雖然通常分別進(jìn)行缺陷檢測，用無缺陷的偏振片和液晶面板進(jìn)行貼合，但有時無法檢測出缺陷，或者混入了有缺陷的偏振片或液晶面板；或者貼合時卷入了異物或空氣，因而在貼合有偏振片的液晶面板上存在缺陷。偏振片通常在偏振膜的兩面貼合保護(hù)膜，通過在其表面借助黏著劑貼合有保護(hù)膜、隔膜而構(gòu)成。作為主要缺陷是在剝離隔膜將偏振片貼合到液晶面板上的時候，會產(chǎn)生膜的切屑等的異物和空氣的卷入、黏著劑塊、傷痕等。此外，關(guān)于液晶電視等，雖然有時在偏振片上還可以貼合位相差板、防眩膜等，但通常這些是預(yù)先貼合并作為多層膜而將其貼合到液晶面板上的。在本專利技術(shù)中，貼合有這種多層膜的液晶面板也將作為對象。缺陷檢測是從貼合有偏振片的液晶面板的一個面進(jìn)行光照射，且對來自另一個面的透射光(透射該液晶面板的透射光)進(jìn)行檢測。圖I表示缺陷檢測裝置的模式圖。在貼合有偏振片的液晶面板I的下方配置光源2 ;在貼合有偏振片的液晶面板I的上方配置照相機3，一邊使貼合有偏振片的液晶面板移動，一邊進(jìn)行檢測。來自照相機的信號由信號處理裝置4進(jìn)行處理并且判斷有無缺陷。在本專利技術(shù)中，光照射是通過近紅外線照射來進(jìn)行。作為發(fā)射這種近紅外線的光源例子可以舉出鹵素?zé)簟＠纾蒙珳囟?500° K的鹵素?zé)簦梢园l(fā)射波長約在700nm附近達(dá)到峰值，在300-780nm之間的可見光以及在780_2000nm之間的近紅外光。如果偏振片被貼合在正交尼科爾棱鏡上，即，在二塊偏振片的透射軸以正交的狀態(tài)被貼合的話，在液晶面板未驅(qū)動的狀態(tài)下可見光就幾乎不透射，而近紅外線卻可以透射。圖2表示偏振片為正交尼科爾狀態(tài)時的光透射性(實線)的模式。作為檢測透射光照相機，通常使用CXD照相機。CXD照相機不僅對可見光而且對近紅外線也具有感光度。圖2示意出CCD的感光度特性(虛線)。來自照相機的信號由信號處理裝置進(jìn)行處理，且對缺陷進(jìn)行檢測。對所得到的信號強度値設(shè)閾值，超出它的，即當(dāng)作缺陷。例如，設(shè)基線為0，將白(亮度高于基線)側(cè)、黑(亮度低于基線)側(cè)分別用32000灰度來表示，且將5000灰度設(shè)為閾値，分別超過5000灰度的，即當(dāng)作缺陷。雖然用肉眼難以確認(rèn)，但用C⑶照相機可以檢測出來自黑色矩陣的格子狀的圖形。預(yù)先將與該格子狀的圖形對應(yīng)的周期性圖形的信號輸入到信號處理裝置中，消除檢測出的周期性圖形的信號并設(shè)定基線。求出來自該基線的灰度。此外，作為所使用的CXD照相機的攝像元件，既可以是線傳感器，也可以是面?zhèn)鞲衅鳌嵤├韵拢m然對檢測方法以實施例進(jìn)行示出，但本專利技術(shù)不局限于該實施例。實施例I與圖I所示同樣地，在兩面貼合有其透射軸呈正交的偏振片的液晶面板的下方配置光源、在兩面貼合有其透射軸呈正交的偏振片的液晶面板的上方配置照相機，一邊使兩面貼合有偏振片的液晶面板移動，一邊進(jìn)行缺陷檢測。使兩面貼合有偏振片的液晶面板上 下翻轉(zhuǎn)，即在做成電視情況下從表面?zhèn)燃氨趁鎮(zhèn)鹊膬煞竭M(jìn)行了檢測。光源采用鹵素?zé)簦障鄼C采用CXD照相機，信號處理裝置采用Optics圖像處理外觀檢測裝置(KUB0TEK(株)制)進(jìn)行了檢測。貼合有檢測對象的偏振片的液晶面板，除了偏振片7 S力9 S (注冊商標(biāo))(住友化學(xué)(株)制)的隔膜以外，是貼合于37英寸電視用液晶面板上的。在信號處理裝置中，為了消除來自黑色矩陣的周期性圖形，預(yù)先輸入與其對應(yīng)的周期性圖形信號，且消除檢測出的周期性圖形信號并設(shè)定基線。設(shè)基線為0，對白側(cè)及黑側(cè)分別設(shè)定32000灰度，設(shè)5000灰度為閾值，分別超出5000灰度的，即當(dāng)作缺陷。檢測出缺陷的例子顯示于表I中。比較例I對于實施例I的缺陷檢測例子，除采用了發(fā)射可見光的金屬鹵化物燈代替鹵素?zé)粢酝猓渌c實施例I相同。其結(jié)果顯示于表I中。表INo. 照相機實施例I比較例I缺陷形態(tài) 的位置模式灰度峰值尺-、j' —"模式灰度峰值尺-、I 表面?zhèn)群邳c 12525 24 X 1= 背面?zhèn)扔斜趁鎮(zhèn)取?黑點13784 24 X^== ^氣泡I 表面ill黑點 11791 18 X == 背面?zhèn)扔斜扯鴤?cè)—~黑點 11585 15 X := 白色線狀 物表I中，照相機的位置表示將液晶面板的某一個面朝向照相機進(jìn)行配置并檢測的。模式表示將缺陷作為黑點或亮點來進(jìn)行檢測；χ表示不論黑點還是亮點都未被檢測出。尺寸用缺陷平面圖像的像素數(shù)來表示。缺陷形態(tài)表示用放大鏡看到的缺陷狀況。如上所述，通過近紅外線照射并進(jìn)行檢測(實施例I )，能夠確實地檢測出通過現(xiàn)有的可見光照射并進(jìn)行檢測(比較例I)所無法檢測出的缺陷。權(quán)利要求1.一種，其特征在于，所述方法包含在不使液晶面板驅(qū)動的狀態(tài)下，從一個面對貼合有偏振片的液晶面板進(jìn)行光照射，對來自另一個面的透射光進(jìn)行檢測，并進(jìn)行信號處理的步驟本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點】

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：井村圭太，渡邊康弘，四宮由隆，
申請(專利權(quán))人：住友化學(xué)株式會社，
類型：發(fā)明
國別省市：