本發(fā)明專利技術(shù)是公開了一種雙柵極線單元面板的測試線路及其色彩顯示方法，是將雙柵極線單元面板的多條數(shù)據(jù)線及多條掃描線分別分成三組及兩組。然后再分別將各組的數(shù)據(jù)線及掃描線電性連接到不同的金屬線，且金屬線亦連接測試墊。然后輸入適當信號予各個測試墊，就可以使雙柵極線單元面板單獨顯示紅色、綠色及藍色。藉此，可精確的檢測出雙柵極線單元面板的缺陷，以避免浪費后續(xù)制程成本在有缺陷的雙柵極線單元面板上。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)是涉及一種液晶面板的測試結(jié)構(gòu)及顯示方法，特別是涉及一種雙柵極線單元面板的測試線路及雙柵極線單元面板的色彩顯示方法。
技術(shù)介紹
請參照圖1，圖I是雙柵極線單元面板的傳統(tǒng)短路棒測試架構(gòu)的示意圖。圖I所示的雙柵極線單元面板I是含有像素P、晶體管開關(guān)Τη、電極Ε、掃描線gn、數(shù)據(jù)線Dn、金屬線101及102以及測試墊121及122。其中，像素P是以矩陣排列的方式分布在雙柵極線單元面板I上，且一個像素P包含三個子像素即紅色子像素R、綠色子像素G及藍色子像素B。子像素的晶體管開關(guān)Tn的柵極、源極及漏極是分別耦接掃描線gn、數(shù)據(jù)線Dn及子像素的電極E，且每一個子像素是通過一條掃描線gn及一條數(shù)據(jù)線Dn來控制其顏色的明暗程度。 在雙柵極線單元面板I的傳統(tǒng)短路棒(Shorting bar)測試架構(gòu)中，是將所有的掃描線gn透過金屬線101電性連接，而且所有的數(shù)據(jù)線Dn是透過金屬線102電性連接。測試信號包含掃描信號源111及圖像信號源112，且掃描信號源111及圖像信號源112是分別透過連接金屬線101的測試墊121及連接金屬線102的測試墊122輸入到雙柵極線單元面板I的多條掃描線gn及多條數(shù)據(jù)線Dn，以進行雙柵極線單元面板I的顯示測試。當掃描信號源111使晶體管開關(guān)Tn導(dǎo)通時，圖像信號源112會影響相關(guān)裝置的運作，進而使雙柵極線單元面板I顯示所需的色彩或圖案。由于雙柵極線單元面板I的色彩顯示原理為本領(lǐng)域技術(shù)人員所知，并不在此贅述。但簡單來說，當子像素的晶體管開關(guān)Tn導(dǎo)通時，若圖像信號112的電壓愈接近參考電壓(V-common)，則所述子像素的顏色就會愈亮；若圖像信號112的電壓與參考電壓的差值達到一設(shè)定值，則所述子像素的顏色就不會顯示出來。其中，參考電壓是例如5伏特，且若圖像信號112的電壓為4. 9伏特或5. I伏特時，則所述子像素的顏色會顯示出來且很亮；若圖像信號112的電壓為10伏特或O伏特時，則所述子像素的顏色就不會顯示出來。由于雙柵極線單元面板I利用短路棒測試架構(gòu)來進行顯示測試時，是將所有的數(shù)據(jù)線Dn及所有的掃描線gn分別電性連接在一起，然后再分別輸入圖像信號源112及掃描信號源111。如此，是沒有辦法單獨顯示出紅色、綠色及藍色。由于測試時無法單獨顯示出紅色、綠色及藍色，致使有些缺陷沒辦法被檢視出來。所以，沒被檢測出的帶有缺陷的雙柵極線單元面板I就會進行后續(xù)制程，直到更精密的成品測試時，這些帶有缺陷的雙柵極線單元面板I就會被檢測出來，然后將其丟棄或回收。如此，等同于浪費了對有缺陷的雙柵極線單元面板I在顯示測試后所進行的制程成本。
技術(shù)實現(xiàn)思路
有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的問題，所以專利技術(shù)人專利技術(shù)了一種雙柵極線單元面板的測試線路及雙柵極線單元面板的色彩顯示方法。此雙柵極線單元面板的測試線路能在顯示測試時讓雙柵極線單元面板顯示出單獨的紅、綠及藍色。透過雙柵極線單元面板的單色顯示就可檢測出較多缺陷，被檢測出有缺陷的雙柵極線單元面板即可丟棄或回收，如此可避免浪費后續(xù)制程成本在有缺陷的雙柵極線單元面板上。為達到上述目的，本專利技術(shù)的一種雙柵極線單元面板的測試線路是將雙柵極線單元面板的所有數(shù)據(jù)線分成三組即第一組數(shù)據(jù)線、第二組數(shù)據(jù)線及第三組數(shù)據(jù)線，且是例如依序以第一組數(shù)據(jù)線、第二組數(shù)據(jù)線及第三組數(shù)據(jù)線的排列方式橫向循環(huán)排列。再將所有的第一組數(shù)據(jù)線、第二組數(shù)據(jù)線及第三組數(shù)據(jù)線所有的數(shù)據(jù)線分別電性連接第一測試墊、第二測試墊及第三測試墊，其中第一組數(shù)據(jù)線是耦接多個第一子像素及多個第二子像素，第二組數(shù)據(jù)線是耦接多個第三子像素及多個第四子像素，第三組數(shù)據(jù)線是耦接多個第五子像素及多個第六子像素。其中，各所述子像素是包含一晶體管開關(guān)電性連接一掃描線及一數(shù)據(jù)線，當所述第一組掃描線被通入一導(dǎo)通信號時，所述第一組掃描線相對應(yīng)的晶體管開關(guān)是被導(dǎo)通，所述第二組掃描線則被通入一截止信號，若所述第一組數(shù)據(jù)線被通入一顯示信號，則所述些第一子像素顯示出所述第一顏色。 本專利技術(shù)另外提供一種雙柵極線單元面板的色彩顯示方法，其是應(yīng)用在一雙柵極線單元面板的顯示測試上，此雙柵極線單元面板的色彩顯示方法包括提供一第一周期性信號給多條第一組掃描線以導(dǎo)通或截止各所述第一組掃描線耦接的多個晶體管開關(guān)；提供一第二周期性信號給多條第二組掃描線以對應(yīng)所述第一周期性信號而截止或?qū)ǜ魉龅诙呙杈€耦接的多個晶體管開關(guān)；以及提供一第三周期性信號給多條第一組數(shù)據(jù)線，當各所述第一掃描線或各所述第二掃描線耦接的所述些晶體管開關(guān)導(dǎo)通時，所述第三周期性信號是使各所述第一組數(shù)據(jù)線耦接的多個第一子像素顯示出一第一顏色或多個第二子像素顯示出一第二顏色。以像素排列而成的像素矩陣中，以子像素排列的方式來看，每一列的奇數(shù)行的子像素的晶體管開關(guān)的柵極是耦接到同一條掃描線，并稱這些掃描線為第一組掃描線；每一列的偶數(shù)行的子像素的晶體管開關(guān)的柵極是耦接到同一條掃描線，并稱這些掃描線為第二組掃描線。并且將所有的第一組掃描線及所有的第二組掃描線分別電性連接第四測試墊及第五測試墊。在雙柵極線單元面板的顯示測試時，只要分別輸入適當?shù)男盘栍璧谝粶y試墊、第二測試墊、第三測試墊、第四測試墊及第五測試墊，就可以讓雙柵極線單元面板單獨顯示紅色、綠色、藍色。如此，在顯示測試時，有缺陷的雙柵極線單元面板就容易被檢測出，進而及時將其丟棄或回收，就可省下后續(xù)對有缺陷雙柵極線單元面板所加工的成本。附圖說明圖I是雙柵極線單元面板的傳統(tǒng)短路棒測試架構(gòu)的示意圖。圖2是本專利技術(shù)的雙柵極線單元面板的測試線路的實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是使圖2所示的實施例單獨顯示紅色的信號波形圖。圖4是使圖2所示的實施例單獨顯示綠色的信號波形圖。圖5是使圖2所示的實施例單獨顯示藍色的信號波形圖。主要組件符號說明P:像素Tn:晶體管開關(guān)Tl :第一晶體管開關(guān)T2 :第二晶體管開關(guān)T3:第三晶體管開關(guān)T4:第四晶體管開關(guān)T5 :第五晶體管開關(guān)T6 :第六晶體管開關(guān)E :電極R、Rl、R2 :紅色子像素G、G1、G2 :綠色子像素B、B1、B2 :藍色子像素gn :掃描線gl :第一組掃描線g2:第二組掃描線Dn :數(shù)據(jù)線Dl :第一組數(shù)據(jù)線D2 :第二組數(shù)據(jù)線D3 :第三組數(shù)據(jù)線Vl :第一電壓V2:第二電壓V3 :第三電壓V4:第四電壓V5 :第五電壓V6:第六電壓Vcom:參考電壓t :周期tl :前半周期t2 :后半周期I :雙柵極線單元面板101、102:金屬線121、122:測試墊301 :第一金屬線302 :第二金屬線303:第三金屬線304:第四金屬線305 :第五金屬線111 :掃描信號源112:圖像信號源311’ 第一周期性信號源311 :第一周期性信號312’ 第二周期性信號源312 :第二周期性信號313’ 第三周期性信號源313:第三周期性信號314’ 第四周期性信號源314:第四周期性信號 315’ 第五周期性信號源315 :第五周期性信號321 :第一測試墊322 :第二測試墊323 :第三測試墊324:第四測試墊325 :第五測試墊700:凸波具體實施例方式以下將參照相關(guān)附圖，說明依本專利技術(shù)的雙柵極線單元面板的測試線路及雙柵極線單元面板的色彩顯示方法的實施例及應(yīng)用，為使便于理解，下述實施例中的相同組件是以相同的符號標示來說明。請參照圖2，圖2本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
一種雙柵極線單元面板的測試線路，其特征在于，所述測試線路位在所述雙柵極線單元面板上，所述測試線路包含：第一組數(shù)據(jù)線，電性連接第一測試墊，并耦接多個第一子像素及多個第二子像素；第二組數(shù)據(jù)線，電性連接第二測試墊，并耦接多個第三子像素及多個第四子像素；第三組數(shù)據(jù)線，電性連接第三測試墊，并耦接多個第五子像素及多個第六子像素；第一組掃描線，電性連接第四測試墊，并分別耦接所述多個第一子像素、所述多個第三子像素及所述多個第五子像素；以及第二組掃描線，電性連接第五測試墊，并分別耦接所述多個第二子像素、所述多個第四子像素及所述多個第六子像素；其中，所述多個第一子像素與所述多個第四子像素為第一顏色，所述多個第二子像素與所述多個第五子像素為第二顏色，所述多個第三子像素與所述多個第六子像素為第三顏色。
【技術(shù)特征摘要】
...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：呂泰福，
申請(專利權(quán))人：瀚宇彩晶股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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