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    一種二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法及裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):8347395 閱讀:266 留言:0更新日期:2013-02-20 23:47
    本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法,二維電子羅盤(pán)包括第一傳感器和第二傳感器,方法包括:將二維電子羅盤(pán)在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn);讀取兩個(gè)傳感器測(cè)量的磁場(chǎng)強(qiáng)度的值并保存每一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值;判斷旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于設(shè)定的圈數(shù),如是,返回繼續(xù)讀取兩個(gè)傳感器的測(cè)量值;否則,停止旋轉(zhuǎn);分別取得每一磁場(chǎng)強(qiáng)度的偏移量;讀取兩個(gè)傳感器測(cè)量的磁場(chǎng)強(qiáng)度的實(shí)際值,并將其分別減去對(duì)應(yīng)的偏移量得到校正值;取得二維電子羅盤(pán)所附載體顯示屏正方向與地磁北方向的夾角,并由夾角取得載體的指示針的指示方向。本發(fā)明專利技術(shù)還涉及一種實(shí)現(xiàn)上述方法的裝置。實(shí)施本發(fā)明專利技術(shù)的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法及裝置,具有以下有益效果:公式簡(jiǎn)單、計(jì)算步驟較少。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及傳感器領(lǐng)域,更具體地說(shuō),涉及一種二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法及裝直。
    技術(shù)介紹
    在電子產(chǎn)品呈爆炸式增長(zhǎng)的今天,競(jìng)爭(zhēng)的壓力導(dǎo)致電子研發(fā)對(duì)成本的考慮越來(lái)越多,因此很多產(chǎn)品都極度壓低主控芯片的主頻和功耗,甚至直接定制芯片,芯片的性能被發(fā)揮到極致,這對(duì)軟件編程提出了一定的要求;在電子產(chǎn)品智能化的過(guò)程中,越來(lái)越多的傳感器被加入電子產(chǎn)品中,軟件編寫(xiě)者必須考慮到主控的性能和傳感器的算法,以達(dá)到最優(yōu)化的設(shè)計(jì)。在這種背景下,探索傳感器的優(yōu)化算法就很有意義,比如,光學(xué)傳感器所涉及的圖像壓縮算法,已經(jīng)在現(xiàn)在的電子產(chǎn)品中占有相當(dāng)大的比重,可以說(shuō)是現(xiàn)代電子產(chǎn)品不可或缺的一部分,所帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)效益是不可估量的。通常而言,如果主控性能不是很好,要加入傳感器并實(shí)現(xiàn)算法是有困難的,尤其是在一些以控制為主的單片機(jī)中,乘法運(yùn)算會(huì)占用比較多的處理時(shí)間,要加入算法就更困難,即使是一些簡(jiǎn)單的傳感器,也需要時(shí)間去做優(yōu)化。當(dāng)前對(duì)傳感器的算法設(shè)計(jì),比較通用的方法是數(shù)學(xué)建模,其次是依靠數(shù)學(xué)方法直接推導(dǎo)出理想化的公式,在程序中實(shí)現(xiàn)并做補(bǔ)償。通常的二維電子羅盤(pán)算法是基于橢圓參考的算法設(shè)計(jì),由于乘法和除法運(yùn)算比較多,所以其公式復(fù)雜、計(jì)算步驟比較多,導(dǎo)致一些性能不高的主控難以實(shí)現(xiàn),因此必須做優(yōu)化。
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問(wèn)題在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述公式復(fù)雜、計(jì)算步驟較多的缺陷,提供一種公式簡(jiǎn)單、計(jì)算步驟較少的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法及裝置。本專利技術(shù)解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是構(gòu)造一種二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法,所述二維電子羅盤(pán)包括第一傳感器和第二傳感器,所述方法包括如下步驟 Α)使所述二維電子羅盤(pán)的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并保存所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值; B)判斷所述旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于預(yù)先設(shè)定的圈數(shù),如是,返回步驟A)繼續(xù)讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值;否則,停止所述旋轉(zhuǎn)并執(zhí)行步驟C); C)根據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值,分別取得所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量; D)分別讀取所述第一傳感器當(dāng)前測(cè)量的第一實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器當(dāng)前測(cè)量的第二實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并將所述第一實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度減去所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量得到第一磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值,將所述第二實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度減去所述第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量得到第二磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值; E)依據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值和第二磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值取得所述二維電子羅盤(pán)所附載體的顯示屏正方向與地磁北方向的夾角,并由所述夾角取得所述二維電子羅盤(pán)所附載體的指示針的指示方向。在本專利技術(shù)所述的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法中,所述步驟C)進(jìn)一步包括 Cl)將所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值進(jìn)行相加得到第一之和; C2)將所述第一之和除以2得到所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量; C3)將所述第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值進(jìn)行相加得到第二之和; C4)將所述第二之和除以2得到所述第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量; 上述步驟中,先順序執(zhí)行所述步驟Cl)和C2)再順序執(zhí)行所述步驟C3)和C4),或先順序執(zhí)行所述步驟C3)和C4)再順序執(zhí)行所述步驟Cl)和C2)。在本專利技術(shù)所述的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法中,所述步驟C)中除以2是通過(guò)在單片機(jī)中進(jìn)行右移I位實(shí)現(xiàn)的。在本專利技術(shù)所述的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法中,所述步驟A)進(jìn)一步包括 Al)設(shè)定第一變量、第二變量、第三變量和第四變量; A2)使所述二維電子羅盤(pán)的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并將所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值分別賦值給所述第一變量和第二變量,將所述第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值分別賦值給所述第三變量和第四變量; A3)繼續(xù)分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值; A4)判斷當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否大于所述第二變量的值,如是,將當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第二變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A5); A5)判斷當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否小于所述第一變量的值,如是,將當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第一變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A6); A6)判斷當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否大于所述第四變量的值,如是,將當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第四變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A7); A7)判斷當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否小于所述第三變量的值,如是,將當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第三變量并保存,執(zhí)行步驟B);否則,執(zhí)行步驟B); 所述第一變量、第二變量、第三變量和第四變量的值分別為所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最小值、第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值、第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最小值和第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值。在本專利技術(shù)所述的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法中,所述步驟A)進(jìn)一步包括 Al)設(shè)定第一變量、第二變量、第三變量和第四變量,并分別賦初值為第一設(shè)定值、第二設(shè)定值、第三設(shè)定值和第四設(shè)定值; A2)使所述二維電子羅盤(pán)的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值; A3)判斷當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否大于所述第二變量的值,如是,將當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第二變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A4); A4)判斷當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否小于所述第一變量的值,如是,將當(dāng)前第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第一變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A5); A5)判斷當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否大于所述第四變量的值,如是,將當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第四變量并保存;否則,執(zhí)行步驟A6); A6)判斷當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值是否小于所述第三變量的值,如是,將當(dāng)前第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值賦值給第三變量并保存,執(zhí)行步驟B);否則,執(zhí)行步驟B); 所述第一變量、第二變量、第三變量和第四變量的值分別為所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最小值、第一磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值、第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最小值和第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值。在本專利技術(shù)所述的二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法中,所述步驟E)進(jìn)一步包括 El)依據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值和第二磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值通過(guò)公式計(jì)算取得所述二維電子羅盤(pán)所附載體的顯示屏正方向與地磁北方向的夾角; E2)將所述二維電子羅盤(pán)所附載體的顯示屏正方向順時(shí)針旋轉(zhuǎn)所述夾角即得到所述二維電子羅盤(pán)所附載體的指示針的指示方向。本專利技術(shù)還涉及一種實(shí)現(xiàn)上述二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法的裝置,所述二維電子羅盤(pán)包括第一傳感器和第二傳感器,所述裝置包括 磁場(chǎng)強(qiáng)度讀取及保存模塊用于使所述二維電子羅盤(pán)的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并保存所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值; 旋轉(zhuǎn)圈數(shù)判斷模塊用于判斷所述旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于預(yù)先設(shè)定的圈數(shù),如是,返回繼續(xù)讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值;否貝1J,停止所述旋轉(zhuǎn); 偏移量取得模塊用于根據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值,分別取得所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量; 磁場(chǎng)強(qiáng)度校正模塊用于分別讀取所述第一傳感器當(dāng)前測(cè)量本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種二維電子羅盤(pán)數(shù)據(jù)的取得方法,其特征在于,所述二維電子羅盤(pán)包括第一傳感器和第二傳感器,所述方法包括如下步驟:A)使所述二維電子羅盤(pán)的第一傳感器和第二傳感器在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),分別讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并保存所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值;?B)判斷所述旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)是否小于預(yù)先設(shè)定的圈數(shù),如是,返回步驟A)繼續(xù)讀取所述第一傳感器測(cè)量的第一磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器測(cè)量的第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的值;否則,停止所述旋轉(zhuǎn)并執(zhí)行步驟C);C)根據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度的最大值和最小值,分別取得所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量及第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量;D)分別讀取所述第一傳感器當(dāng)前測(cè)量的第一實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度和第二傳感器當(dāng)前測(cè)量的第二實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度的值,并將所述第一實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度減去所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量得到第一磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值,將所述第二實(shí)際磁場(chǎng)強(qiáng)度減去所述第二磁場(chǎng)強(qiáng)度偏移量得到第二磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值;E)依據(jù)所述第一磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值和第二磁場(chǎng)強(qiáng)度校正值取得所述二維電子羅盤(pán)所附載體的顯示屏正方向與地磁北方向的夾角,并由所述夾角取得所述二維電子羅盤(pán)所附載體的指示針的指示方向。

    【技術(shù)特征摘要】

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:劉遠(yuǎn)付
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:深圳市航盛電子股份有限公司
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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