【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種定標系統，特別是涉及一種積分球光源輻射非均勻性定標系統。
技術介紹
積分球光源是計量校準中最常用的輻射標準之一，廣泛應用于計量校準亮度計、輻射度計、成像器件、相機以及平板顯示器件等。輻射非均勻性是積分球光源重要的指標，與積分球的反射涂層、光源的分布、開口位置等眾多因素有關。傳統積分球光源輻射非均勻性定標方法常采用光電探測器“平面弓形”掃描法，即把單元探測器置于精密二維移動的位移臺上，計算機控制精密位移臺在積分球出光孔處進行二維平面掃描，每掃描到一個位置，記錄探測器的輸出信號。把積分球出光孔掃描一遍后，將得到出光孔處各個位置的輸出光信號，把每個位置的信號帶入下式(I)，即可求得積分球的輻射非均勻件。權利要求1 一種積分球光源輻射非均勻性定標系統，其特征在于，其包括掃描探測器、監測探測器、多維精密位移臺、第一數字多用表、第二數字多用表、控制器，掃描探測器固定在多維精密位移臺上；監測探測器位于一個被標定積分球的一個監測孔處；多維精密位移臺與控制器相連；第一數字多用表與掃描探測器相連；第二數字多用表與監測探測器相連；控制器與第一數字多用表、第二數字多用表相連。專利摘要本技術公開了一種積分球光源輻射非均勻性定標系統，其包括掃描探測器、監測探測器、多維精密位移臺、第一數字多用表、第二數字多用表、控制器，掃描探測器固定在多維精密位移臺上；監測探測器位于一個被標定積分球的一個監測孔處；多維精密位移臺與控制器相連；第一數字多用表與掃描探測器相連；第二數字多用表與監測探測器相連；控制器與第一數字多用表、第二數字多用表相連。本技術在計算中扣除漂移對定標結果的影響...
【技術保護點】
一種積分球光源輻射非均勻性定標系統，其特征在于，其包括掃描探測器、監測探測器、多維精密位移臺、第一數字多用表、第二數字多用表、控制器，掃描探測器固定在多維精密位移臺上；監測探測器位于一個被標定積分球的一個監測孔處；多維精密位移臺與控制器相連；第一數字多用表與掃描探測器相連；第二數字多用表與監測探測器相連；控制器與第一數字多用表、第二數字多用表相連。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：王恒飛，陳坤峰，劉紅元，應承平，史學舜，吳斌，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第四十一研究所，
類型：實用新型
國別省市：
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