LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統技術方案

本實用新型專利技術涉及一種LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統，測試系統連接在被測LED屏顯驅動電路與測試機臺之間，測試系統包括用于發送高頻時序信號及判斷被測LED屏顯驅動電路狀態的高頻測試模塊、用于實現高頻測試模塊與測試機臺通訊的接口模塊、用于調整高頻測試模塊與被測LED屏顯驅動電路之間電平的電平轉換模塊和用于實現電平轉換模塊或測試機臺與被測LED屏顯驅動電路通訊的連接模塊。本實用新型專利技術與普通測試機臺結合對LED屏顯驅動電路的高頻特性進行全面判斷，一方面系統通過接口模塊能匹配普通測試機臺，降低了測試機臺的性能要求；另一方面，系統具有電路高速數據寫入與輸出判斷功能，最大程度的提高了高頻特性判斷的準確率。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及屏顯驅動電路的高頻特性測試
，尤其涉及一種具有電路高速數據寫入與輸出判斷的LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統。
技術介紹
LED屏顯驅動電路的測試是一項復雜的測試工作，LED屏顯驅動電路包含多路高速響應的恒流輸出、數字信號輸入、信號級聯輸出等多個功能模塊，有些LED屏顯驅動電路還包含了輸出增益控制、異常狀態檢測等功能，使LED屏顯驅動電路的測試更加復雜困難。為減少測試的復雜度，降低測試機臺響應時間的精度要求，可對不同的功能模塊進行多次測試，但是，多次測試一方面降低了測試的速度，效率低，另一面也增加了測試成本，使測試成本過于昂貴。目前，常用的測試系統一般采用測試機臺與被測LED屏顯驅動電路管腳直接相連的方式進行測試，如圖1所示。測試LED屏顯驅動電路時:測試機臺通過LED屏顯驅動電路的輸入管腳輸入信號，控制LED屏顯驅動電路的輸出管腳，并通過測試機臺對輸出管腳狀態進行判斷。在測試過程中，LED屏顯驅動電路接收到指令50nS時間內，對輸出管腳進行配置，并在IOOnS以內時間完成管腳狀態的切換，此時測試機臺對輸出管腳狀態進行判斷。因被測LED屏顯驅動電路的輸出管腳具有高頻響應的特性，而目前常用的測試機臺響應時間緩慢，往往需要10 μ S以上時間才能完成一次狀態的判斷，對于響應時間異常的LED屏顯驅動電路不能有效剔除。而現有技術中的普通測試機臺均不能滿足LED屏顯驅動電路的高頻測試需求，因而對如何準確快速的測試LED屏顯驅動電路提出了更加的要求。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是針對現有測試機臺在測試LED屏顯驅動電路的高頻特性時存在測試結果準確率低的問題，提供了一種能有效的匹配普通測試機臺、成本低及高頻特性測試結果準確的LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統。為解決上述問題，本技術的技術方案是:一種LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統，所述測試系統連接在被測LED屏顯驅動電路與測試機臺之間，所述測試系統包括用于發送高頻時序信號及判斷被測LED屏顯驅動電路狀態的高頻測試模塊、用于實現高頻測試模塊與測試機臺通訊的接口模塊、用于調整高頻測試模塊與被測LED屏顯驅動電路之間電平的電平轉換模塊和用于實現電平轉換模塊或測試機臺與被測LED屏顯驅動電路通訊的連接模塊；所述高頻測試模塊通過接口模塊與測試機臺相連，高頻測試模塊依次通過電平轉換模塊、連接模塊與被測LED屏顯驅動電路相連，連接模塊還與測試機臺相連。相比較于現有技術，本技術的LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統與普通的測試機臺相結合對LED屏顯驅動電路的高頻特性進行全面判斷，一方面高頻測試模塊通過接口模塊能匹配普通測試機臺，降低了測試機臺的性能要求，增加了該測試系統使用的兼容性，降低了檢測的成本；另一方面，高頻測試模塊具有電路高速數據寫入與輸出判斷功能，高頻測試模塊發送高頻時序信號的時間低于I μ S，進行檢測時完成一次判斷的時間小于10nS，最大程度的提高了高頻特性判斷的準確率，同時電平轉換模塊將檢測后反饋的信號整形使接近理想方波，避免了判斷誤差的可能。優選地，所述電平轉換模塊具有一管腳信號輸入端和一管腳信號輸出端，管腳信號輸入端與連接模塊的管腳信號端相連，管腳信號輸出端與高頻測試模塊的腳信號輸入端相連，管腳信號輸出端的信號為管腳信號端輸出的波形經整形后的信號。經過電平轉換模塊整形后的波形與整形前的波形相比，整形后的波形更加接近于理想方波信號，進一步避免了判斷誤差的可能。優選地，所述連接模塊包括多組相同的開關，每個開關具有一固定端和二兩相同的活動端，固定端與被測LED屏顯驅動電路相連，第一活動端與測試機臺相連，第二活動端與電平轉換模塊相連，連接模塊的控制輸入端與測試機臺的控制輸出端相連。連接模塊用于測試機臺和測試系統之間的連接轉換，使兩者之間互相配合、互不干擾，在測試靜態參數時，被測LED屏顯驅動電路與測試機臺相連，在測試高頻特性時，被測LED屏顯驅動電路與測試系統相連，完成兩種功能的實時切換。優選地，所述高頻測試模塊包括現場可編程門陣列芯片和調試存儲模塊，現場可編程門陣列芯片與調試存儲模塊相連。現場可編程門陣列芯片與調試存儲模塊的結合，實現了配置文件的在線更新升級，保證了該系統的穩定性，也保留了系統改良的可能。優選地，所述現場可編程門陣列芯片為FPGA芯片，FPGA芯片內集成有主控模塊、接收比較模塊、時鐘模塊和信號發生模塊，所述主控模塊的第一通訊端口與接口模塊的第一通訊端口相連，用以實現高頻測試模塊與測試機臺之間的通訊，主控模塊的第二通訊端口與調試存儲模塊的通訊端口相連，主控模塊的第二通訊端口接收調試存儲模塊導入的配置信息，主控模塊的第一控制端與信號發生模塊的控制端相連，用于控制時序信號的發送；所述時鐘模塊具有外部時鐘信號輸入端、主時鐘信號輸出端和倍頻時鐘信號輸出端，主時鐘信號和倍頻時鐘信號由外部時鐘信號轉換得到，外部時鐘信號輸入端與測試機臺或其它外部時鐘源的時鐘信號輸出端相連，主時鐘信號輸出端分別與主控模塊和信號發生模塊的時鐘信號輸入端相連，倍頻時鐘信號輸出端與接收比較模塊的時鐘信號輸入端相連；所述接收比較模塊具有管腳信號輸入端和級聯信號輸入端，管腳信號輸入端經連接模塊和電平轉換模塊接收被測LED屏顯驅動電路管腳信號輸出端的管腳信號，級聯信號輸入端經連接模塊和電平轉換模塊接收被測LED屏顯驅動電路級聯信號輸出端的信號，接收比較模塊的控制輸入端與信號發生模塊的信號輸出端相連；所述信號發生模塊包括時序信號輸出端，信號發生模塊接收時鐘模塊的時鐘信號，將時序信號經時序信號輸出端、電平轉換模塊和連接模塊傳送至被測LED屏顯驅動電路中。主控模塊主要完成配置文件的導入、與測試機臺的通信、時序信號發送的控制和被測LED屏顯驅動電路高頻特性的判斷。信號發生模塊用于發送具體的高頻時序信號，并在發送時序信號的同時啟動接收比較模塊，使接收比較模塊對接收的信號進行判斷。時鐘模塊主要用于實現將有源晶振等時鐘源提供的外部時鐘信號轉換成主時鐘信號和倍頻時鐘信號，其中主時鐘信號決定了提供給被測LED屏顯驅動電路時序信號的頻率，倍頻時鐘信號決定了接收比較模塊對接收信號進行判斷的精度；同時時鐘模塊為FPGA芯片內帶的鎖相環時鐘，可產生較高的時鐘頻率，減小高頻信號對測試系統的干擾，降低系統PCB布線難度。優選地，所述調試存儲模塊包括順次的連接調試口、數據緩沖芯片和可編程只讀存儲器，調試口可與計算機相連，可編程只讀存儲器與主控模塊相連，可編程只讀存儲器寫入經計算機、調試口、數據緩沖芯片傳送的配置信息。利用調試存儲模塊可以對高頻特性測試系統進行升級，如在客戶應用中出現新的不良，對不良品進行原因分析后，可通過計算機更新配置文件，就可避免后續再有此類現象的出現，保證產品的質量，也給以后的改良提供了預留空間。附圖說明圖1是現有技術中測試機臺與被測LED屏顯驅動電路連接的原理框圖。圖2是本技術LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統的原理框圖。圖3是本技術LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統中連接模塊的原理框圖。圖4是本技術LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統中電平轉換模塊整形前后波形對比圖圖5是本技術LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統中高頻測本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種LED屏顯驅動電路的高頻特性測試系統，其特征在于，所述測試系統連接在被測LED屏顯驅動電路與測試機臺之間，所述測試系統包括用于發送高頻時序信號及判斷被測LED屏顯驅動電路狀態的高頻測試模塊、用于實現高頻測試模塊與測試機臺通訊的接口模塊、用于調整高頻測試模塊與被測LED屏顯驅動電路之間電平的電平轉換模塊和用于實現電平轉換模塊或測試機臺與被測LED屏顯驅動電路通訊的連接模塊；所述高頻測試模塊通過接口模塊與測試機臺相連，高頻測試模塊依次通過電平轉換模塊、連接模塊與被測LED屏顯驅動電路相連，連接模塊還與測試機臺相連。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：邱學海，魏建中，
申請(專利權)人：杭州士蘭微電子股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：