一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置，包括第一靜觸頭、第二靜觸頭、動觸頭、施力裝置、連接桿、豎直導軌和底板；第一靜觸頭和所述第二靜觸頭相對于動觸頭對稱固定在底板上，動觸頭在豎直導軌上運動；第一靜觸頭和第二靜觸頭分別與外部的電流源相連并形成一個導電回路；施力裝置通過連接桿固定在底板上，所述施力裝置的施力端與動觸頭的頂端連接，施力裝置用于給動觸頭施加壓力；動觸頭的底端與第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分形成接觸電阻。本實用新型專利技術能比較準確的測量大電流開關的接觸電阻，并能初步得到接觸電阻與接觸壓力的關系，為開關的觸頭壓力的選擇提供指導并為觸頭處的溫升計算或仿真等提供可靠的依據。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

—種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置
本技術屬于接觸電阻的測試
，更具體地，涉及一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置。
技術介紹
在已經設計的大電流開關結構中，采用多片矩形導體壓接母排的結構，每個觸頭通過電流為1200A左右。觸頭處的接觸電阻阻值大小決定了隔離開關的通流能力，設計過程中，采用接觸電阻的工程計算式進行計算，然而接觸電阻的工程計算式和許多因素有關，如表面形態，材料性質，接觸壓力以及具體的加工方法等。加工完成的觸頭必須進行接觸電阻的測量，以完成對接觸電阻工程計算式的修正與改進，并為選擇合適的接觸壓力提供參考。在同一觸頭結構下，通過電流的大小對接觸電阻的阻值存在影響。工程實際中，把電流值大于5A的電流稱為大電流。在目前已經公開的接觸電阻測量裝置中，主要是針對如電器插頭等小電流的接觸電阻。大電流的接觸電阻的測量裝置基本上針對圓柱體結構的電觸頭，然而工程實際中的觸頭形狀多變，此種測量裝置并不太適應。
技術實現思路
針對現有技術的缺陷，本技術的目的在于提供一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置，旨在解決現有技術測量大電流接觸電阻測量裝置的結構比較單一的問題。為實現上述目的，本技術提供了一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置，包括第一靜觸頭、第二靜觸頭、動觸頭、施力裝置、連接桿、豎直導軌和底板；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭相對于所述動觸頭對稱固定在所述底板上，所述動觸頭在所述豎直導軌上運動；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭分別與外部的電流源相連并形成一個導電回路；所述施力裝置通過連接桿固定在所述底板上，所述施力裝置的施力端與所述動觸頭的頂端連接，所述施力裝置用于給所述動觸頭施加壓力；所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分形成接觸電阻。更進一步地，所述動觸頭為平板狀結構，垂直于所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭設置。更進一步地，在所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分具有一層銀鍍層。更進一步地，所述施力裝置包括:依次設置的絕緣墊塊、壓力傳感器、墊塊、壓縮彈簧、平墊塊和加力螺柱，用于給壓縮彈簧提供支撐的套筒，通過螺母固定在連接桿上的壓板，固定在壓板上且用于將加力螺柱的旋轉運動變為直線運動的螺母；所述絕緣墊塊與所述動觸頭的頂端連接，當加力螺柱擰緊時向下壓縮平墊塊，平墊塊壓縮彈簧并將依次通過墊塊、壓力傳感器和絕緣墊塊將壓力傳遞給動觸頭使得所述動觸頭在垂直于所述第一靜觸頭和第二靜觸頭的方向運動。更進一步地，所述底板部包括固定板和絕緣板，所述固定板用于整個測試裝置；所述絕緣板用于使得所述導電回路與固定板的絕緣。更進一步地，所述豎直導軌包括角塊和導軌，角塊用于將導軌固定在底板上，所述導軌的寬度和所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭的厚度相配合。本技術提供的裝置能比較準確的測量大電流開關的接觸電阻，并能初步得到接觸電阻與接觸壓力的關系，為開關的觸頭壓力的選擇提供指導并為觸頭處的溫升計算或仿真等提供可靠的依據。附圖說明圖1是本技術用于測量大電流開關接觸電阻的裝置的結構示意圖。具體實施方式為了使本技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本技術，并不用于限定本技術。本技術提供了一種大電流開關接觸電阻的測量裝置，該試驗裝置能比較準確的測量大電流開關的接觸電阻，并能初步得到接觸電阻與接觸壓力的關系，為開關的觸頭壓力的選擇提供指導并為觸頭處的溫升計算或仿真等提供可靠的依據。本技術的目的是提供一種接觸電阻的測量裝置，該裝置可以測得方形的觸頭結構在不同接觸壓力的接觸電阻。圖1示出了本技術提供的用于測量大電流開關接觸電阻的裝置的結構，為了便于說明，僅示出了與本技術相關的部分:用于測量大電流開關接觸電阻的裝置包括第一靜觸頭、第二靜觸頭、動觸頭、施力裝置、連接桿、豎直導軌和底板；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭相對于所述動觸頭對稱固定在所述底板上，所述動觸頭在所述豎直導軌上運動；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭分別與外部的電流源相連并形成一個導電回路；所述施力裝置通過連接桿固定在所述底板上，所述施力裝置的施力端與所述動觸頭的頂端連接，所述施力裝置用于給所述動觸頭施加壓力；所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分形成接觸電阻。在本技術中，兩個靜觸頭關于動觸頭對稱固定在絕緣的底板4上。兩個靜觸頭分別通過孔2與外部的電流源相連，形成一個導電回路，動觸頭與靜觸頭接觸部分18的接觸電阻即為試驗待測量。施力裝置8-17對動觸頭6中間施加壓力，壓力大小取決于彈簧壓縮量，施加壓力大小可以通過壓力傳感器9測得，施力裝置通過連接桿19固定在底板上，通過調節螺母17使得施力裝置沿著連接桿的軸線移動。其中，動觸頭為平板狀結構，垂直于所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭設置。在動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分具有一層銀鍍層。與靜觸頭接觸位置有一層電阻率很小的銀鍍層。動觸頭為階梯結構，突出部分為與靜觸頭接觸部分，同樣有一層電阻率很小的銀鍍層；有孔2的部分是為了將靜觸頭固定在底板4上，孔與外接電源相連。在此需要說明的是，動、靜觸頭之所以設計成這個結構，是為了和大電流開關結構里面的觸頭結構保持一致。在本技術中，施力裝置包括依次設置的絕緣墊塊8、壓力傳感器9、墊塊10、壓縮彈簧11、平墊塊13和加力螺柱14，用于給壓縮彈簧11提供支撐的套筒12，通過螺母17固定在連接桿19上的壓板16，固定在壓板16上且用于將加力螺柱14的旋轉運動變為直線運動的螺母15 ;所述絕緣墊塊8與所述動觸頭的頂端連接，當加力螺柱14擰緊時向下壓縮平墊塊13，平墊塊壓縮彈簧并將依次通過墊塊10、壓力傳感器9和絕緣墊塊8將壓力傳遞給動觸頭使得所述動觸頭在垂直于所述第一靜觸頭和第二靜觸頭的方向運動。其中壓板16為施力裝置提供支撐，其在豎直方向的位置可以調整；螺母15固定在壓板上，將加力螺柱的旋轉運動變為直線運動。加力螺柱14擰緊時向下壓縮平墊塊13，平墊塊壓縮彈簧11，墊塊10、壓力傳感器9、絕緣墊塊8組成一個整體，將壓力傳遞給動觸頭。套筒12為彈簧等元件提供支撐，防止彈簧側偏。連接桿19關于動觸頭對稱固定在底板上，為加力裝置提供支撐。在本技術中，底板包括固定板3和絕緣板4，固定板3與絕緣板4連接；固定板3起固定作用，固定整個測試裝置；絕緣板4起絕緣作用，保證導電回路與固定板(或大地)的絕緣。在本技術中，豎直導軌包括角塊5和導軌7，角塊用于將導軌固定在底板上，所述導軌的寬度和所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭的厚度相配合。導軌部分保證動觸頭沿豎直方向運動。本技術的有利效果是能夠測量大電流開關觸頭處的接觸電阻阻值大小，為大電流開關的研制提供了一定的指導。本領域的技術人員容易理解，以上所述僅為本技術的較佳實施例而已，并不用以限制本技術，凡在本技術的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置，其特征在于，包括第一靜觸頭、第二靜觸頭、動觸頭、施力裝置、連接桿、豎直導軌和底板；?所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭相對于所述動觸頭對稱固定在所述底板上，所述動觸頭在所述豎直導軌上運動；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭分別與外部的電流源相連并形成一個導電回路；?所述施力裝置通過連接桿固定在所述底板上，所述施力裝置的施力端與所述動觸頭的頂端連接，所述施力裝置用于給所述動觸頭施加壓力；所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分形成接觸電阻。

【技術特征摘要】
1.一種用于測量大電流開關接觸電阻的裝置，其特征在于，包括第一靜觸頭、第二靜觸頭、動觸頭、施力裝置、連接桿、豎直導軌和底板； 所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭相對于所述動觸頭對稱固定在所述底板上，所述動觸頭在所述豎直導軌上運動；所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭分別與外部的電流源相連并形成一個導電回路； 所述施力裝置通過連接桿固定在所述底板上，所述施力裝置的施力端與所述動觸頭的頂端連接，所述施力裝置用于給所述動觸頭施加壓力；所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分形成接觸電阻。2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述動觸頭為平板狀結構，垂直于所述第一靜觸頭和所述第二靜觸頭設置。3.如權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，在所述動觸頭的底端與所述第一靜觸頭和第二靜觸頭接觸的部分具有一層銀鍍層。4.如權利要求1所述的裝置，...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張明，瞿航，談浩，
申請(專利權)人：華中科技大學，
類型：實用新型
國別省市：