本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種膠印版材表面檢測的處理方法及系統(tǒng)，涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，所述方法包括以下步驟：S1：對膠印版材表面的原始圖像進行邊界定位，以獲得所述原始圖像中的有效區(qū)域，并將所述有效區(qū)域作為待測圖像；S2：對所述待測圖像進行預(yù)處理；S3：對預(yù)處理后的待測圖像進行瑕疵識別，以獲得瑕疵的位置；S4：根據(jù)瑕疵的位置，獲得瑕疵的特性參數(shù)。本發(fā)明專利技術(shù)通過以圖像處理技術(shù)為基礎(chǔ)的機器視覺技術(shù)，通過機器視覺進行檢測，提高了膠印版材表面的瑕疵的檢測速度和檢測精度，并降低了成本。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及圖像處理
，特別涉及一種膠印版材表面檢測的處理方法及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
膠印版材(offset printing plate),表面經(jīng)過涂布處理,可以在其上產(chǎn)生轉(zhuǎn)移油墨的區(qū)域和不轉(zhuǎn)移油墨的區(qū)域面，且兩種區(qū)域處于同一平面的平板工件。目前，我國膠印版材市場的總體趨勢是“PS版產(chǎn)量迅猛提高，CTP版材新品種不斷涌現(xiàn)，市場競爭更加激烈”，但隨著膠印版材大規(guī)模的生產(chǎn)及應(yīng)用，長期以來，膠印版材的質(zhì)量問題也越來多。目前，在生產(chǎn)一線，主要是由工人依靠經(jīng)驗來直接對膠印版材的質(zhì)量進行觀察，是結(jié)合印刷品的質(zhì)量來對膠印版材的質(zhì)量進行檢測。這種檢測方式速度低、精度低、而且成本聞。
技術(shù)實現(xiàn)思路
(一 )要解決的技術(shù)問題本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問題是:如何提高膠印版材表面的瑕疵的檢測速度和檢測精度，并降低成本。( 二)技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供了一種膠印版材表面檢測的處理方法，所述方法包括以下步驟:S1:對膠印版材表面的原始圖像進行邊界定位，以獲得所述原始圖像中的有效區(qū)域，并將所述有效區(qū)域作為待測圖像；S2:對所述待測圖像進行預(yù)處理；S3:對預(yù)處理后的待測圖像進行瑕疵識別，以獲得瑕疵的位置；S4:根據(jù)瑕疵的位置，獲得瑕疵的特性參數(shù)。優(yōu)選地，步驟SI中膠印版材表面的原始圖像通過一個線陣CXD相機采集獲得。優(yōu)選地，步驟SI中膠印版材表明的原始圖像通過至少兩個并行拼接的線陣CXD相機米集獲得；步驟SI和步驟S2之間還包括步驟:S21:對至少兩個并行拼接的線陣CCD相機分別獲得的待測圖像，并將獲得的每兩個待測圖像之間的重合部分只歸于一個待測圖像進行處理。優(yōu)選地，步驟S2中，所述預(yù)處理采用:圖像增強、高斯去噪、雙閾值算法、以及形態(tài)學(xué)中的至少一種。優(yōu)選地，步驟S2中采用的雙閾值算法為自適應(yīng)閾值的雙閾值算法。優(yōu)選地，步驟S2中進行預(yù)處理時，將預(yù)處理后的待測圖像分為至少兩個檢測區(qū)域，對每個檢測區(qū)域采用不同的雙閾值算法的參數(shù)。優(yōu)選地，步驟S4中所述瑕疵的特性參數(shù)包括:所述瑕疵的面積、長寬、灰度均值、外接矩形長寬、瑕疵坐標(biāo)、以及瑕疵類型中的至少一個。本專利技術(shù)還公開了一種膠印版材表面檢測的處理系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:邊界定位模塊，用于對膠印版材表面的原始圖像進行邊界定位，以獲得所述原始圖像中的有效區(qū)域，并將所述有效區(qū)域作為待測圖像；預(yù)處理模塊，用于對所述待測圖像進行預(yù)處理；瑕疵識別模塊，用于對預(yù)處理后的待測圖像進行瑕疵識別，以獲得瑕疵的位置；參數(shù)獲得模塊，用于根據(jù)瑕疵的位置，獲得瑕疵的特性參數(shù)。(三)有益效果本專利技術(shù)通過以圖像處理技術(shù)為基礎(chǔ)的機器視覺技術(shù)，通過機器視覺進行檢測，提高了膠印版材表面的瑕疵的檢測速度和檢測精度，并降低了成本。附圖說明圖1是按照本專利技術(shù)一種實施方式的膠印版材表面檢測的用于圖像采集的圖像采集裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是按照本專利技術(shù)一種實施方式的膠印版材表面檢測的處理方法的流程圖；圖3是四個相機分別采集的圖像的拼接示意圖。具體實施例方式下面結(jié)合附圖和實施例，對本專利技術(shù)的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本專利技術(shù)，但不用來限制本專利技術(shù)的范圍。本實施方式中，參照圖1，所述系統(tǒng)以一個相機為例來說明圖像的采集，所述圖像采集裝置包括:相機1、圖像處理設(shè)備6、以及光源3，所述相機I采集PS版5上表面的原始圖像；所述圖像處理設(shè)備對所述相機所采集的原始圖像進行處理，以識別所述PS版上表面的瑕疵2 ;所述光源3為所述相機I在采集PS版5上表面的原始圖像時提供成像照明。本實施方式中，通過線陣電荷稱合元件(Charge-coupled Device, CCD)相機采集膠印版材圖像，在膠印版材左右邊緣會多采集30個像素，保證采集圖像的完整性，多采集的像素(或為檢測平臺或為地面)，需要在檢測之初進行邊界定位，用以查找膠印版材的有效區(qū)域。圖2是按照本專利技術(shù)一種實施方式的膠印版材表面檢測的處理方法的流程圖；參照圖2，本實施方式的方法包括以下步驟:S1:對膠印版材表面的原始圖像進行邊界定位，以獲得所述原始圖像中的有效區(qū)域，并將所述有效區(qū)域作為待測圖像；由于膠印版材圖像的有效區(qū)域占大多部分，有效區(qū)域和邊界區(qū)域在色階上有明顯差異，確定好邊界閾值，利用邊界搜索算法即可得到邊界坐標(biāo)(X，y)，將算法做如下說明:邊界閾值設(shè)為M，預(yù)計查找的邊界點數(shù)設(shè)為N個(初值η = O)，圖像的長L，寬為W，膠印版材在滾抽作用下傳送時，基本保持與傳送方向同向無傾斜，圖像計算左邊界時，可暫認為選取的N個邊界點Y坐標(biāo)一致，分析X坐標(biāo)即可。在理想情況下，檢測平臺或地面沒有干擾圖像邊界無噪聲，將N個邊界點的坐標(biāo)做簡單均值計算就能得到邊界坐標(biāo)，可由于空氣中的灰塵、地面不干凈出現(xiàn)噪聲，簡單均值影響整體檢測。所以，為了保證準(zhǔn)確性盡量不要用此方法。為此，對N個邊界點的X坐標(biāo)做一個冒泡排序，然后選取中間3個數(shù)據(jù)做均值，接著將排序后的點列與均值做差，在范圍內(nèi)的讀入，范圍外地剔除，這樣就得到了較為準(zhǔn)確的左邊界X坐標(biāo)，直線方程為Y = X。S2:對所述待測圖像進行預(yù)處理；S3:對預(yù)處理后的待測圖像進行瑕疵識別，以獲得瑕疵的位置；S4:根據(jù)瑕疵的位置，獲得瑕疵的特性參數(shù)，本實施方式中，所述瑕疵的特性參數(shù)包括:所述瑕疵的面積、長度、以及灰度均值中的至少一個；先根據(jù)瑕疵的位置對瑕疵進行定位，然后按照每一個邊緣計算瑕疵的面積、長寬、灰度均值等特征，面積計算通常是計算瑕疵輪廓多邊形的面積，但如果瑕疵并不是填充滿整個輪廓，計算就不準(zhǔn)確。因此設(shè)計了一種新的面積計算方法，先計算好瑕疵輪廓的外接矩形的長rectL、寬rectW和外接矩形的左頂點rectX坐標(biāo)、rectY坐標(biāo)，再與處理后的圖像相應(yīng)外置，讀取若像素為黑則累加，最后到的黑像素個數(shù)即為瑕疵面積。步驟SI中膠印版材表面的原始圖像可以通過一個線陣CXD相機采集獲得；但為了保證檢測精度，檢測寬幅面的膠印版材需要安裝多臺線陣CCD，這樣每一張圖像的左邊界或右邊界或左右邊界都有和其它圖像重合的圖像區(qū)域，這就需要確定重合區(qū)域，保證之后的圖像處理不重復(fù)計算，瑕疵數(shù)量不重復(fù)累加，直接將重合部分只歸為一個圖像去計算，另一個截去相應(yīng)的圖像信息即可，優(yōu)選地，步驟Si中膠印版材表明的原始圖像通過至少兩個并行拼接的線陣CCD相機采集獲得；相應(yīng)的，步驟SI和步驟S2之間還包括步驟:S21:對至少兩個并行拼接的線陣CCD相機分別獲得的待測圖像，并將獲得的每兩個待測圖像之間的重合部分只歸于一個待測圖像進行處理；設(shè)被檢測幅寬為L，相機的交疊像素個數(shù)為a，像元大小為b，若采用4K相機，則所需相機個數(shù)n = L/(4096*b),若為整數(shù)或小數(shù)，考慮到交疊像素，要進一位；即，4096*n-(n-l)*a > L，這樣每一張圖像的左邊界或右邊界或左右邊界都有和其它圖像重合的圖像區(qū)域，這就需要確定重合區(qū)域，保證之后的圖像處理不重復(fù)計算，瑕疵數(shù)量不重復(fù)累加。所有數(shù)據(jù)單位為像素。參照圖3，假設(shè)每臺相機的采集寬度為4000，邊緣留取30，重合100，則共采集圖像寬度為4000*4-100*3-30*2 = 15640。每隔4000代表一臺相機，共4臺。直接將重合部分只歸為一個圖像去計算，另一個截去相應(yīng)的圖像信息即可。最左邊界，即上圖的刻度O處，距離膠印版材左邊界分別為30個像素；其中灰色區(qū)本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
一種膠印版材表面檢測的處理方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：S1：對膠印版材表面的原始圖像進行邊界定位，以獲得所述原始圖像中的有效區(qū)域，并將所述有效區(qū)域作為待測圖像；S2：對所述待測圖像進行預(yù)處理；S3：對預(yù)處理后的待測圖像進行瑕疵識別，以獲得瑕疵的位置；S4：根據(jù)瑕疵的位置，獲得瑕疵的特性參數(shù)。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王新新，徐江偉，
申請(專利權(quán))人：北京兆維電子集團有限責(zé)任公司，北京兆維科技開發(fā)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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