無線電子裝置的測試設備制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種無線電子裝置的測試設備，包含金屬外殼、射頻吸收材料、第一測量天線以及阻抗調整模塊。阻抗調整模塊包含電介質層、第一內部天線以及第二內部天線，其中第二內部天線電性連接第一測量天線。第一內部天線及第二內部天線設置于電介質層的相對兩側且分別包含相互平行的第一天線主干及第二天線主干。

【技術實現步驟摘要】
無線電子裝置的測試設備
本專利技術涉及一種電子裝置的測試設備，特別是涉及一種無線電子裝置的測試設備。
技術介紹
無線電子裝置在設計的過程中需要不斷地測試該裝置對應無線訊號的發收狀態，以作為未來無線電子裝置調整及設計的根據。此外，無線電子裝置在出廠前仍要不斷進行測試，以確認無線電子裝置的性能符合廠商以及主管機關的要求及規范。為了將無線電子裝置隔離于外界無線訊號，該待測無線電子裝置在測試時通常是設置于具有金屬外殼的隔離箱(ShieldingBox)中。圖1所示為一傳統隔離箱10的內部示意圖。傳統隔離箱10包含金屬外殼11、吸波材料20以及第一測量天線30，其中第一測量天線30的一端設有饋入部12，以供第一測量天線30通過饋入部12接收訊號并在隔離箱10之中產生電磁場。如圖1所示，吸波材料20設置于金屬外殼11的內表面，以供吸收待測無線電子裝置50向金屬外殼11發射的無線訊號。如此一來，吸波材料20可避免多個無線訊號在反射及折射后形成功率較大的復合無線訊號而影響測試結果。此外，金屬外殼11是另外接地(Ground)60以避免形成感應回路以及將收到的外界無線訊號導向地60。此外，圖1所示的測試天線30實質上為錐體且自金屬外殼11的一端延伸至另一端，其中待測無線電子裝置50設置于金屬外殼11中鄰接測試天線30的平面上以進行測試。換言之，測試天線30側向形成一個電磁場以籠罩并測試無線電子裝置50。然而，由于測試天線30本身為形狀不規律的錐體，因此測試天線30亦將在傳統隔離箱之中產生場強不規律的電磁場。如此一來，無線電子裝置50在傳統隔離箱中位置的改變將使第一測量天線30取得差異相當顯著的測量結果(如發射功率)。換言之，第一測量天線30將可能因待測無線電子裝置50尺寸或放置位置的變化而取得相當不穩定的無線訊號測量結果。
技術實現思路
本專利技術的目的為提供一種無線電子裝置的測試設備，以降低因待測電子裝置尺寸或放置位置不同而帶來的測量訊號差異并提升測量穩定性。本專利技術無線電子裝置的測試設備，包含金屬外殼、射頻吸收材料、第一測量天線以及阻抗調整模塊，其中射頻吸收材料設置于金屬外殼內并圍起一內部空間。射頻吸收材料進一步包含一夾槽，形成于射頻吸收材料的一端，其中至少部分第一測量天線設置于夾槽之中。在較佳實施例中，第一測量天線為片狀并包含第一金屬臂和第二金屬臂，連接阻抗調整模塊并沿著射頻吸收材料不同位置的表面延伸。此外，射頻吸收材料包含第一吸收層和第二吸收層，其中第一測量天線設置于吸收層之間的夾槽中。阻抗調整模塊包含電介質層、第一內部天線以及第二內部天線，其中第一內部天線及第二內部天線分別設置于電介質層的相對兩側。第一內部天線及第二內部天線分別包含相互平行的第一天線主干及第二天線主干。第一內部天線包含自第一天線主干一端延伸而出的第一調整部。第二內部天線包含自第二天線主干一端延伸而出的第二調整部，其中第一調整部及第二調整部在電介質層上的投影至少部份重迭。此外，阻抗調整模塊包含一阻抗調整槽，形成于電介質層且鄰接第二內部天線的第二調整部。附圖說明圖1所示為一傳統隔離箱的示意圖；圖2所示為本專利技術測試設備的實施例示意圖；圖3所示為本專利技術測試設備的實施例爆炸圖；圖4A所示為圖2所示阻抗調整模塊的示意圖；圖4B所示為圖4A所示阻抗調整模塊的放大示意圖；圖5A-5D所示為圖2所示測試設備在內部空間所產生的電磁場示意圖；圖6A所示為本專利技術另一實施例所包含第一測量天線、第二測量天線以及阻抗調整模塊的組合圖；圖6B所示為本專利技術測試設備另一實施例的爆炸圖；圖7A所示為本專利技術測試設備另一實施例的示意圖；以及圖7B-7D所示為本專利技術測試設備。附圖符號說明100測試設備110金屬外殼120訊號饋入部200射頻吸收材料210內部空間220夾槽300第一測量天線310第一金屬臂320第二金屬臂330第二測量天線400阻抗調整模塊410電介質層420第一內部天線421第一調整部422第一調整臂423第二調整臂430第二內部天線431第二調整部432第三調整臂433第四調整臂440第一天線主干441第二天線主干θ1第一角度θ2第二角度具體實施方式圖2及圖3所示為本專利技術測試設備100的實施例示意圖及爆炸圖。在本實施例中，測試設備100包含金屬外殼110、訊號饋入部120、射頻吸收材料200、第一測量天線300以及阻抗調整模塊400，其中一待測電子裝置500設置于射頻吸收材料200所圍起的內部空間210之中。如圖2所示，金屬外殼110實質上包覆射頻吸收材料200以及設置于射頻吸收材料200之中的待測電子裝置500，以將待測電子裝置500與外界其他無線訊號發射源隔離。如此一來，金屬外殼110可確保外界無線訊號不會誤被第一測量天線300所接收而使外界無線訊號被誤認為待測電子裝置500(例如手機等無線電子裝置)所發出的無線訊號。另一方面，金屬外殼110亦將限制待測電子裝置500所發出的無線訊號于射頻吸收材料200之中，以確保第一測量天線300僅會接收到待測電子裝置500所直接發出的無線訊號。此外，金屬外殼110較佳接地(Ground)以避免形成感應回路以及將收到的外界無線訊號導向地。射頻吸收材料200用于吸收待測電子裝置500所發出的無線訊號，以避免多數無線訊號在內部空間210中因反射及折射結合成一個功率較大的復合無線訊號。換言之，射頻吸收材料200可確保第一測量天線300正確地接收自待測電子裝置500所直接發出的單一無線訊號，而非結合無數經反射和折射而最終結合而成的復合無線訊號。此外，本實施例的射頻吸收材料200包含一夾槽220，形成于射頻吸收材料200的一端以供容納第一測量天線300。在本實施例中，夾槽220較佳為形成于兩塊對應射頻吸收材料200之間且尺寸及厚度皆對應第一測量天線300的狹縫，但不限于此；在不同實施例中，夾槽220亦可是一個從單一射頻吸收材料200切出來的狹縫。此外，本實施例的第一測量天線300為片狀且包含兩個以不同方向延伸而出的第一金屬臂310和第二金屬臂320，其中第一金屬臂310及第二金屬臂320分別貼附于對應夾槽220的射頻吸收材料200內表面，但不限于此。第一測量天線300可具有其它數目的金屬臂或具有其他適合設置于夾槽220中的形狀。在圖2及圖3所示的實施例中，金屬外殼110實質上為錐殼體以供容納射頻吸收材料200、第一測量天線300以及待測電子裝置500。此外，金屬內殼之中的射頻吸收材料200亦為錐殼體，其中射頻吸收材料200所圍成的內部空間210亦為錐形以供容納待測電子裝置500。然而，在不同實施例中，金屬外殼110、射頻吸收材料200及射頻吸收材料200之中的內部空間210亦可根據待測電子裝置500的尺寸及形狀而調整至長方形、正方形或其他形狀。本實施例的第一測量天線300較佳設置于射頻吸收材料200以及內部空間210的一端，其中第一測量天線300將通過阻抗調整模塊400以及訊號饋入部120自后端網絡測試器(Tester)或頻譜分析儀器(SpectrumAnalyzer)接收高頻率無線訊號并根據該無線訊號于內部空間210中產生場強分布均勻的電磁場。由于第一測量天線300對應于射頻吸收材料200以及內部空間210軸心的位置。因此，上述設計及本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種無線電子裝置的測試設備，包含：一金屬外殼；一射頻吸收材料，設置于該金屬外殼內并圍起一內部空間，其中該射頻吸收材料包含一夾槽形成于該射頻吸收材料的一端；一第一測量天線，設置于該夾槽之中并位該內部空間的一端；以及一阻抗調整模塊，電性連接該第一測量天線以接收該第一測量天線所傳輸的訊號或將電訊號傳輸至該第一測量天線，其中該阻抗調整模塊包含：一電介質層；一第一內部天線，設置于該電介質層的一側且包含一第一天線主干；以及一第二內部天線，設置于該電介質層相對該第一內部天線的另一側，該第二內部天線電性連接于該第一測量天線且包含一第二天線主干，其中該第一天線主干及該第二天線主干實質上為平行。

【技術特征摘要】
1.一種無線電子裝置的測試設備，包含：一金屬外殼；一射頻吸收材料，設置于該金屬外殼內并圍起一內部空間，其中該射頻吸收材料包含一夾槽形成于該射頻吸收材料的一端；一第一測量天線，設置于該夾槽之中并位于該內部空間的一端；以及一阻抗調整模塊，電性連接該第一測量天線以接收該第一測量天線所傳輸的訊號或將電訊號傳輸至該第一測量天線，其中該阻抗調整模塊包含：一電介質層；一第一內部天線，設置于該電介質層的一側且包含一第一天線主干；以及一第二內部天線，設置于該電介質層相對該第一內部天線的另一側，該第二內部天線電性連接于該第一測量天線且包含一第二天線主干，其中該第一天線主干及該第二天線主干實質上為平行。2.如權利要求1所述的測試設備，其中該第一內部天線包含自該第一天線主干一端延伸而出的一第一調整部，該第二內部天線包含自該第二天線主干一端延伸而出的一第二調整部，該第一調整部及該第二調整部在該電介質層上的投影至少部份重迭。3.如權利要求2所述的測試設備，其中該阻抗調整模塊進一步包含一阻抗調整槽，形成于該電介質層并鄰接于該第二調整部。4.如權利要求2所述的測試設備，該第一調整部包含一第一調整臂及一第二調整臂，該第二調整部包含一第三調整臂及一第四調整臂，該第一調整臂及該第四調整臂在該電介質層上的投影至少部份重迭，該第二調整臂及該第三調整臂在該電介質層上的投影至少部份重迭。5.如權利要求4所述的測試設備，其中該阻抗調整模塊進一步包含一阻抗調整槽，形成于該電...

【專利技術屬性】
技術研發人員：彭奐喆，黃金蓮，古光原，
申請(專利權)人：啟碁科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：