本發明專利技術涉及利用陣列連接器的拓撲現場測試器和利用陣列連接器的拓撲多波長現場測試器。一種測試儀器包括在第一波長下的多個第一光信號源和分配器，所述分配器被耦合到所述多個第一光信號源以將所產生的信號供應給多光纖測試端口。可以提供附加的第二波長信號源，并且可以提供用于在被測試鏈路的第二端處使用的第二測試儀器，以實現光鏈路的測試。?
【技術實現步驟摘要】
利用陣列連接器的拓撲現場測試器和利用陣列連接器的拓撲多波長現場測試器
技術介紹
本專利技術涉及光纖測試，并且更特別地涉及一種光纖功率、損耗以及極性測試器，所述測試器合并了多光纖接口以使得能實現已經用多光纖連接器端接的電纜和連接的有效測試。測試光纖在安裝、修理、移動/添加/更新等之后的損耗和/或長度是通常的做法。現今的最常見的拓撲包括附連到單股光纖的單光纖連接器。這些光纖最經常被用在雙工拓撲中，使得一個光纖在一個方向上發射網絡通信量而另一個光纖在相反方向上發射。各個光纖常常被捆綁成電纜內的大組，但然后在光纖的每端處逐個地用連接器端接。圖1圖示了適用于雙工光纖系統的這個普遍做法，其中，主測試單元12在斷接(break-out)處被連接到光纖，而遠程測試單元14在電纜的遠端處被連接到對應的光纖，并且通過使用兩個單元來執行測試。在現今的高密度數據中心中所見到的另一通用拓撲是用如美國專利6004042和美國專利6931193中所描述的多光纖陣列連接器和電纜代替單光纖連接器。已經習慣將多光纖陣列連接器端接到斷 接盒(常常被稱作模塊或盒)中。斷接通過使用短的一組光纖來完成，所述短的一組光纖被端接到在一端上的多光纖陣列連接器并且然后到在相反端處的各個單光纖連接器。所述盒使得能實現多光纖陣列電纜站到雙工電子設備的連接，或者利用標準插接線與單光纖連接器交叉連接。正變得越來越流行的并且已經由IEEE在它們的802.3ba -用于40吉比特以太網(40GbE)和100吉比特以太網(IOOGbE)兩者的2010年標準中標準化的新拓撲利用了具有電子設備中的多光纖陣列接口(代替雙工接口)的收發器，使得具有多光纖陣列連接器的插接線能夠直接地從該收發器連接到電纜的多光纖端接。因此，消除了對于斷接盒的需要。然而，斷接盒的消除還消除了對于測試電纜站所需要的單光纖連接器接口。現有技術已經繼續通過創建與圖2中所圖示的先前所描述的斷接盒類似的斷接電纜來利用具有單光纖接口的傳統測試設備。在美國專利5940559和美國專利5196899中找到某現有技術。該現有技術使電纜的測試非常慢并且容易發生錯誤。此外，多光纖電纜站的極性的測量是高度備受期待的，但是現有技術不能夠自動地完成這個。如何創建用于多光纖連接器的光功率、損耗以及極性測試器對于光纖測試領域的技術人員而言不是清楚的。如何在多波長下進行測試的附加要求情況下創建所述測試器甚至更是不清楚的。在多波長下進行測試與雙工光纖測試器有共同之處，在多波長下進行測試的主要目的是確保電纜連接站在將在有源網絡上運行的波長下滿足損耗預算。利用長波長以便確保無彎曲損耗存在于電纜連接站中也是在多波長下進行測試的目的。光纖在較長波長下通常對彎曲損耗更敏感。具有能夠在單一和多波長下容易地測試多光纖連接器的測試器將是備受期待的。
技術實現思路
依照本專利技術，提供了具有用于連接到被測試光網絡的陣列連接器接口的現場測試器。因此，本公開的目的是提供改進的用于光網絡的現場測試器。本專利技術的再一目的是提供改進的用于與陣列連接器一起使用的測試器。在本說明書的結束部分中特別地指出并且顯然地要求保護了本專利技術的主題。然而，操作的組織和方法兩者、及其進一步的優點和目的可以通過參考與附圖相結合地進行的以下描述來最好地理解，在附圖中相同的附圖標記指代相同的元件。附圖說明圖1是依照現有技術建立的測試的 圖2是依照現有技術的采用斷接電纜的測試配置的 圖3是依照本公開建立的測試儀器的 圖4是測試儀器的實施例的框圖；以及 圖5是測試儀器的示例配置的 圖6是測試儀器的另一示例配置的 圖7是測試儀器的又一示例配置的 圖8是與圖7的配置相對應的對 應的另一端測試儀器的 圖9是雙波長測試儀器的 圖10是可替換的雙波長測試儀器的 圖11是另一可替換的雙波長測試儀器的圖；以及 圖12是又一可替換的雙波長測試儀器的圖。具體實施例方式根據本專利技術的優選實施例的系統包括用于采用陣列連接器的光網絡的現場測試器。所述測試器可以被作為便攜式或手持式儀器提供以便在現場測試光網絡。參考圖4，依照本公開的測試儀器(儀器20)的第一實施例的框圖，所述儀器經由多光纖測試端口 22連接到被測試網絡，被測試網絡在特定實施例中為光網絡，所述多光纖測試端口 22通過分配器24而被對接到測試儀器。分配器與LED/激光器26和檢測器28對接，以便從激活器接收光信號并且發射到測試端口，并且以便將接收到的光信號從測試端口供應到檢測器。所述儀器包括(一個或多個)處理器30、諸如RAM/R0M 32之類的存儲器、持久性儲存器34、將設備附連到網絡或其他外部設備(儲存器、其他計算機等)的I/O36、顯示器38、用戶輸入設備40 (諸如，例如鍵盤、鼠標或其他定點設備、觸摸屏等)、可以包括電池或AC電源的電源42。所述(一個或多個)處理器操作該儀器以提供針對網絡的測試和測量功能。在操作中，網絡測試儀器被附連到網絡，并且觀察該網絡上的傳輸，以及提供激勵和響應測量以收集信息和統計并且實現測試和測量。在本文中該設備和方法通過在測試端口處提供多光纖接口而消除了對于斷接電纜和斷接盒的需要。這使得多光纖測試線的使用能夠將測試器20連接到被測試的電纜站44 (見圖3)。參考圖3，在特定實施例中，提供了兩個測試器，其中儀器20在被測試鏈路的一端上，而儀器45在被測試鏈路的另一端，所述儀器兩者皆可以包括便攜式或手持式測試儀器。儀器20和45合作以實現測試，并且可以包括兩者的有源的測試儀器或有源的和更無源的測試儀器，其中有源儀器控制測試，而更無源的儀器將測量結果往回提供給有源儀器。所述儀器將功率/損耗測量功能與測量極性的能力相組合。根據本公開的這個裝置和方法通過將多光纖測試接口直接地集成到測試器本身之上使得能實現新的測試范式。雖然將接口集成到測試器之上的概念可能是顯而易見的，但完成集成同時維持測量功率、損耗以及極性的能力的方式是不清楚的。測試裝置包括源儀表20和功率表45。源儀表發射將被測量的光信號和用于確定極性所需要的必需編碼。功率表測量源的光信號的光功率并且對它進行解碼以確定極性。存在創建集成了多光纖測試接口的源儀表的若干方式。第一方法利用了單個LED 46或激光器，并且用執行圖4的分配器24的功能的Ixn分光器48將其分離成許多的光信號，如圖5示例性配置的圖中所見的那樣。η個分離信號然后經由η個接頭50被提供給多光纖測試端口 52。采用圖5的配置的優點是成本低以及耐久性高和精度高。缺點是所有光纖都具有施加于它們的相同的光信號。在不能夠區分彼此的情況下，功率表不能 夠確定極性。由于這個原因，不認為該方法是最合乎需要的解決方案。參考圖6，可替換的方法在源儀表內利用單個激光器或LED 54，并且將其與作為分配器的Ixn光開關56復用在一起,所述光開關經由接頭束58與多光纖測試端口 60對接。該方法的優點是隔離和控制到被測試光纖中的任何一個上的光信號的能力。如果源用對開關的位置進行描述的信息進行編碼并且用能夠對該信息進行解碼的功率表進行配對，則還可以測量多光纖電纜的極性。該方法的缺點是開關往往是成本高的，尤其對于多模開關來說。另一缺點是開關的重復性可能不足以進行精確的損耗測量。另一缺點是開關可能不是非常魯棒的。通過添加濾出本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種光網絡測試儀器，包括：在第一波長下的多個第一光信號源；以及分配器，其被耦合到所述多個第一光信號源以將所產生的所述信號供應給多光纖測試端口。
【技術特征摘要】
2012.01.31 US 13/362,5671.一種光網絡測試儀器，包括: 在第一波長下的多個第一光信號源；以及 分配器，其被耦合到所述多個第一光信號源以將所產生的所述信號供應給多光纖測試端口。2.根據權利要求1所述的光網絡測試儀器，進一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測試端口接收信號的多個光信號檢測器。3.根據權利要求1所述的光網絡測試儀器，進一步包括:在第二波長下的多個第二光信號源；所述分配器，其被耦合到所述多個第二光信號源以將所產生的所述信號供應給所述多光纖測試端口。4.根據權利要求3所述的光網絡測試儀器，其中，所述多個第一和多個第二光信號源被耦合到所述分配器，以用交替第一、第二、第一、第二等方式將所述信號從其中供應到所述多光纖測試端口。5.根據權利要求4所述的光網絡測試儀器，進一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測試端口接收信號的多個光信號檢測器。6.根據權利要求5所述的光網絡測試儀器，其中，所述分配器包括多個1x2分光器，所述多個1x2分光器將檢測器以及所述第一和第二光源中的一個連接到所述多光纖測試端□。7.根據權利要求3所述的光網絡測試儀器，進一步包括耦合到所述分配器以從所述多光纖測試端口接收信號的多個光信號檢測器，并且其中，所述分配器包括多個1x3分光器，所述多個1x3分光器將檢測器以及所述第一光源中的一個和所述第二光源中的一個連接到所述多光纖測試端口。8.一種光網絡測試儀器裝置，包括: 第一測試儀器，其包括在第一波長下的多個第一光信號源； 第...
【專利技術屬性】
技術研發人員：JD謝爾，S戈德斯泰因，H卡斯勒，J薩林，
申請(專利權)人：弗蘭克公司，
類型：發明
國別省市：
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