一種DC-DC探針卡板制造技術

本實用新型專利技術涉及一種DC-DC探針卡板，只要對應的焊上電容和繼電器就好了，減少了焊線的工作量，也就減少了人為的失誤，Trim針區最多可焊19根trim針，滿足了trim針的需要。Trim針周圍有一圈地線，起到信號屏蔽作用，防止干擾測試；DC-DC探針卡板上設有四個大的功能PAD焊接區域供DC-DC的功能腳使用。在測試時，有的產品需要帶很大的負載，這樣導線和探針上阻值對測試就有很大影響，解決的方法是在四個大的功能PAD焊接區置多根針，增大接觸面積，減小接觸阻抗，加粗導線，大的功能PAD焊接區就也方便探針的定位和導線的焊接。DC-DC類電路在測試時一般需要加一些外圍器件，但這些器件對一些測試項有影響，所以需要增加繼電器斷開這些外圍，從而更準確的測試出電路的參數性能。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種探針卡板，尤其涉及一種DC-DC探針卡板。
技術介紹
目前，DC-DC開關電源以小型、輕量和高效率的特點被廣泛應用于以電子計算機為主導的各種終端設備、通信設備等幾乎所有的電子設備，是當今電子信息產業飛速發展不可缺少的一種電源方式，所以很多設計公司設計出很多高性能的產品，各個產品之間的性能差異必須需要通過嚴格的測試才能區分出來，這無疑給測試提出了很多要求。特別是CP測試，由于芯片在CP階段需要對產品的精度進行修調，而且還要對其負載能力、效率、低壓差等特性進行嚴格測試，所以針對這些測試難題，我們專門開發設計了 DC-DC探針卡板，從而保證測試的準確性和可靠性。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是提供一種新設計的DC-DC探針卡板，滿足了DC-DC類電路針卡的需要。本技術解決上述技術問題的技術方案如下:一種DC-DC探針卡板，包括Trim針區、Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位、電容放電位、外圍控制繼電器區、功能PAD焊接區、測試外圍器件區，所述Trim針區設有19根針，所述相鄰的兩根Trim針之間設有地線，所述功能PAD焊接區設有四個，所述每個功能PAD焊接區中均設有I個或I個以上的焊點，所述外圍控制繼電器區設有兩個，所述測試外圍器件區通過兩個外圍控制繼電器區與其中一個大的功能PAD焊接區相連,所述Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位與兩個外圍控制繼電器區同時相連，所述電容放電位與所述Trim電容焊接位相連。DC-DC類電路在晶圓測試中基本都需要做trim來調整電壓值，trim是一種通過增加或減少芯片內部電阻或電容接入數量而更改芯片輸出的一種設計工藝，trim—般采用電容充放電方式來完成的，trim pad—般比較多,外圍也就很多,稍有不甚就會燒毀電路,重新設計的DC-DC探針卡板將trim部分做成了 pcb，只要對應的焊上電容和繼電器就好了，減少了焊線的工作量，也就減少了人為的失誤，焊針區最多可焊19根trim針，滿足了 trim針的需要。Trim針周圍有一圈地線，起到信號屏蔽作用，防止干擾測試。下部有四個大的功能PAD焊接區域供DC-DC的功能腳VCC、VOU、GND、EN使用。在測試時，有的產品需要帶很大的負載，這樣導線和探針上阻值對測試就有很大影響，解決的方法是在四個功能PAD焊接區置多根針，增大接觸面積，減小接觸阻抗，加粗導線，功能PAD焊接區就也方便探針的定位和導線的焊接。DC-DC類電路在測試時一般需要加一些外圍器件，但這些器件對一些測試項有影響，所以需要增加繼電器斷開這些外圍，從而更準確的測試出電路的參數性能。本技術的有益效果是:在將新設計的DC-DC探針卡板，操作方便，測試精度高，保證了測試的準確性和可靠性。附圖說明圖1為本技術一種DC-DC探針卡板的結構示意圖。附圖中,各標號所代表的部件列表如下:l、Trim針區,2、地線。、!^加控制繼電器焊接位,*、!:!^!]!電容焊接位,5、電容放電位，6、外圍控制繼電器區，7、功能PAD焊接區，8、測試外圍器件區。具體實施方式以下結合附圖對本技術的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本技術，并非用于限定本技術的范圍。如圖1所示，一種DC-DC探針卡板，包括Trim針區1、Trim控制繼電器焊接位3、Trim電容焊接位4、電容放電位5、外圍控制繼電器區6、大的功能PAD焊接區7、測試外圍器件區8，所述Trim針區I設有19根針，所述相鄰的兩根Trim針I之間設有地線2，所述功能PAD焊接區7設有四個，所述每個功能PAD焊接區7中均設有I個或I個以上的焊點，所述外圍控制繼電器區6設有兩個，所述測試外圍器件區8通過兩個外圍控制繼電器區6與其中一個功能PAD焊接區7相連,所述Trim控制繼電器焊接位3、Trim電容焊接位4與兩個外圍控制繼電器區6同時相連，所述電容放電位5與所述Trim電容焊接位4相連。在進行測試時，我們根據實際芯片，一、將所需trim PAD焊在Trim針區I區域，功能PAD焊在功能PAD焊接區7區域；·二、將區域trim控制繼電器焊接位3,和trim電容焊接位4對應的繼電器和電容焊接好；三、將外圍控制繼電器區6區域中對應的繼電器焊接好；四、將測試外圍器件區8中對應的外圍焊接好；五、根據芯片trim特性,將芯片的trim部分(Trim針區I)引線到對應的電容放電為5上；六、將DC-DC探針卡板上對應的輸入輸出源及繼電器控制位與測試儀連接。將上述所需焊接的區域焊接上相對應的器件后，即可完成DC-DC類電路的測試。以上所述僅為本技術的較佳實施例，并不用以限制本技術，凡在本技術的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本技術的保護范圍之內。權利要求1.一種DC-DC探針卡板，其特征在于:包括Trim針區、Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位、電容放電位、外圍控制繼電器區、功能PAD焊接區、測試外圍器件區，所述Trim針區設有19根Trim針，所述功能PAD焊接區設有四個，所述每個功能PAD焊接區中均分別設有I個或I個以上的焊點，所述外圍控制繼電器區設有兩個，所述測試外圍器件區通過兩個外圍控制繼電器區與其中一個功能PAD焊接區相連,所述Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位與兩個外圍控制繼電器區同時相連，所述電容放電位與所述Trim電容焊接位相連。2.根據權利要求1所述的一種DC-DC探針卡板，其特征在于:所述相鄰的兩根Trim針之間設有地線。 ·專利摘要本技術涉及一種DC-DC探針卡板，只要對應的焊上電容和繼電器就好了，減少了焊線的工作量，也就減少了人為的失誤，Trim針區最多可焊19根trim針，滿足了trim針的需要。Trim針周圍有一圈地線，起到信號屏蔽作用，防止干擾測試；DC-DC探針卡板上設有四個大的功能PAD焊接區域供DC-DC的功能腳使用。在測試時，有的產品需要帶很大的負載，這樣導線和探針上阻值對測試就有很大影響，解決的方法是在四個大的功能PAD焊接區置多根針，增大接觸面積，減小接觸阻抗，加粗導線，大的功能PAD焊接區就也方便探針的定位和導線的焊接。DC-DC類電路在測試時一般需要加一些外圍器件，但這些器件對一些測試項有影響，所以需要增加繼電器斷開這些外圍，從而更準確的測試出電路的參數性能。文檔編號G01R1/073GK203133129SQ20132002901公開日2013年8月14日 申請日期2013年1月18日 優先權日2013年1月18日專利技術者朱雪山 申請人:揚州芯際半導體有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種DC?DC探針卡板，其特征在于：包括Trim針區、Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位、電容放電位、外圍控制繼電器區、功能PAD焊接區、測試外圍器件區，所述Trim針區設有19根Trim針，所述功能PAD焊接區設有四個，所述每個功能PAD焊接區中均分別設有1個或1個以上的焊點，所述外圍控制繼電器區設有兩個，所述測試外圍器件區通過兩個外圍控制繼電器區與其中一個功能PAD焊接區相連，所述Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位與兩個外圍控制繼電器區同時相連，所述電容放電位與所述Trim電容焊接位相連。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：朱雪山，
申請(專利權)人：揚州芯際半導體有限公司，
類型：實用新型
國別省市：