光學式瑕疵檢測裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術涉及一種光學式瑕疵檢測裝置，其包含一工作平臺、至少一第一影像擷取模塊、至少一第二影像擷取模塊及至少一處理模塊。工作平臺運送一待檢測物，使各影像擷取模塊進行影像擷取的動作。第一影像擷取模塊擷取待檢測物的影像，以產生一第一影像信號。第二影像擷取模塊的擷取速率對應第一影像擷取模塊。第二影像擷取模塊擷取待檢測物的影像，以產生一第二影像信號。處理模塊電性連接第一影像擷取模塊及第二影像擷取模塊。處理模塊根據第一影像信號、第二影像信號或其組合，以判斷待檢測物的至少一瑕疵特征。第一影像擷取模塊與第二影像擷取模塊分辨率的不同或全彩式影像與灰階式影像等差異性的配置，可提高其檢測能力及準確度。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種光學式瑕疵檢測裝置，其特征在于，包含：一工作平臺，運送一待檢測物；至少一第一影像擷取模塊，擷取所述待檢測物的影像，以產生至少一第一影像信號；至少一第二影像擷取模塊，其擷取速率對應于所述至少一第一影像擷取模塊，所述至少一第二影像擷取模塊擷取所述待檢測物的影像，以產生至少一第二影像信號；以及至少一處理模塊，電性連接所述至少一第一影像擷取模塊及所述至少一第二影像擷取模塊，其根據所述至少一第一影像信號、所述至少一第二影像信號或所述至少一第一影像信號及所述至少一第二影像信號，判斷出所述待檢測物的至少一瑕疵特征。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：陳文生，蔡宗霖，
申請(專利權)人：聯策科技股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：