【技術實現步驟摘要】
【技術保護點】
一種降低量子效應光電探測陣列暗電流的微光測試方法，包括將量子效應光電探測陣列與讀出電路對接，利用光電測試平臺對量子效應光電探測陣列進行微光測試，讀出電路通過外部時序控制電路將量子效應光電探測陣列采集的光信號有序讀出后輸入數據采集系統，由數據采集系統對測試的光電器件進行微光特性分析，其特征在于所述量子效應光電探測陣列的輸入端接有可變電阻器，通過調節可變電阻器分流和降低量子效應光電探測陣列流向讀出電路的暗電流，提高可測的電壓閾值，增大光信號的讀出范圍，更有效的讀出量子效應光電探測陣列采集的微光信號。
【技術特征摘要】
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